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高焓激波风洞能够产生模拟高马赫数飞行条件的气流总温,是研究高温真实气体效应以及再入物理问题的有效试验装备,但是激波风洞的试验时间较短,且随着气流焓值的提高大幅降低,仅为几毫秒,因此试验测试数据曲线中有效时间段的分辨十分重要,它直接影响到试验结果的可靠性及精度。鉴于此,采用压力测量、静电探针测量、非接触光学测量和热流测量的方式,针对中国科学院力学研究所JF-10高焓激波风洞16 MJ/kg总焓、7700 K总温的流场状态,对比研究了风洞喷管的起动时间以及有效测试时间。试验结果表明:静电探针测量方法最为有效地分辨了喷管起动时间段、有效试验时间段以及驱动气体的到达; JF-10高焓风洞在16 MJ/kg的状态下,喷管起动时间约为1.3 ms,风洞有效试验时间约为2 ms。 相似文献
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针对静电悬浮加速度计高稳定悬浮控制和极微小加速度信号处理需求,设计了一种基于数字信号处理(digital signal processor,DSP)和现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)的加速度计控制器。该控制器采用DSP作为主控芯片,FPGA为辅助控制芯片。基于加速度计的工作特性,设计了一种加速度计工作模式切换控制策略,可根据加速度计当前工作状态,自动或者手动切换工作模式。基于加速度计的工作原理和测量需求,设计开发了基于FPGA的比例、积分、微分(proportional integral derivative,PID)控制算法和有限冲击响应(finite impulse response,FIR)滤波算法。为验证该控制器的控制性能,开展了地面高压悬浮实验。结果表明,该控制器及控制算法可以快速准确地实现加速度计稳定悬浮控制和模式切换,并且可以实现软件在轨重构和控制参数在轨更新,为后续重力场探测、空间引力波探测以及自主导航等提供了工程参考依据。 相似文献
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接口阻抗测试是航天产品中对产品状态是否正常来进行判断的常用方法。在航天产品应用中,通常认为接口芯片阻抗测试异常即代表该接口芯片已经失效。本文针对一种LVDS接口发送芯片由静电导致阻抗测试异常,但功能正常的现象进行分析。在元器件失效分析的基础上,定位静电损伤的位置为芯片内部静电防护电路,从而建立了对应的电路模型,对芯片静电损伤的现象进行理论分析。分析说明:该芯片在被静电打击时,其静电防护电路中一个NMOS管受损,但该电路保护了芯片的功能电路,被击穿的NMOS管等效为一个电阻,因此导致阻抗测试异常,但芯片功能电路未受损的现象,为静电软击穿现象。且可认为该芯片在受静电影响后并未失效,相关电路仍具有正常工作的能力。即阻抗异常现象并不是芯片失效的充分条件。 相似文献
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为了对距导弹不同距离下所得的探测电流进行分析对比,建立了相应的导弹模型并进行了计算机仿真。仿真结果表明:远场时,所得探测电流与理论探测电流近似;近场时,则与理论探测电流差异巨大,并且随距离接近,受尖端放电影响,近场中不同距离所得数据也相差甚远。 相似文献