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361.
基于神经网络的智能复合材料损伤评估系统   总被引:6,自引:1,他引:5  
陶云刚  陶宝祺 《航空学报》1994,15(10):1274-1277
介绍了一种复合材料损伤评估的新系统。该系统由埋入光纤传感器阵列、形状记忆合金丝和K ohonen 自组织神经网络处理器组成。由埋入光纤传感器阵列实现对材料损伤的检测,神经网络由TMS320C25 高速并行处理器和IBMPC/386组成的高速并行分布处理器进行模拟,实现传感器输出信号的实时处理,并产生相应的控制信号激励形状记忆合金丝(SMA),以改变材料的应力状态,延缓材料的破坏。  相似文献   
362.
介绍探测复合材料层板基体裂纹的三种实验技术:声波发射探测,超声波C扫描和复制带记录。在试验各阶段,应充分利用每种试验方法的优点,使每个试件比常规试验获取更多的试验数据,包括声波发射探测响应图,超声波对整个试件宽度扫描成像,以及沿着试件侧面厚度上的复制带获取图像。最初由声波发射显示试件加载期间基体裂纹的开始形成,通过超声波扫描能清晰分辨出第一条基体裂纹的出现;随着基体裂纹的发展,可综合应用三种实验技术,确定对基体断裂的评估。根据试验结果,对这三种实验技术作了评价。  相似文献   
363.
运动干涉检测的模糊逻辑控制   总被引:1,自引:0,他引:1  
在采用最大相对速度-距离法的基础上,引入模糊逻辑控制时间裕度,使任意两次检测间的时间间隔适当增大。该方法不仅减少了检测次数,更主要的是利用模糊逻辑的鲁棒性,减少了误差对检测结果的影响,从而使它无论在效率还是在可靠性方面都有了提高。以运动平面多边形为例,通过不采用、采用、部分采用模糊逻辑控制3种方法加以比较,表明了该方法的可靠性和有效性。  相似文献   
364.
含多裂纹连接结构损伤容限试验研究   总被引:5,自引:0,他引:5  
廖敏  孙秦  徐晓飞 《航空学报》1998,19(1):103-106
 针对机翼典型对接结构,进行了平板空孔试样和螺栓搭接件在等幅谱及飞-续-飞谱下的多裂纹损伤容限试验,通过该试验开展多裂纹开裂模式及多裂纹扩展规律的试验研究,为多裂纹断裂力学理论分析、多裂纹结构剩余强度准则提供试验依据。  相似文献   
365.
DD3 单晶粘塑性损伤本构模型研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍了建立DD3单晶高温合金本构模型的理论和过程,详细推导了DD3单晶损伤演化方程,简要分析了模型的组成和特点。简单讨论了模型材料常数的标定方法,具体标定了950℃下的模型材料常数。给出了模型的预测结果和试验结果的对比曲线,从中看出,该模型能够较准确地描述DD3单晶的力学行为特点,可望用于单晶叶片的结构分析。  相似文献   
366.
LY12CZ 薄板拉伸过程中宏、细观损伤变量间的相关性分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
赵银燕  周利 《航空学报》1998,19(1):95-97
分别从宏观与细观的角度定义了D(E)、D(A)和D(Ra)3个损伤变量,对LY12CZ铝合金薄板同一损伤过程的D-ε曲线进行了分析与对比。结果表明:其D-ε曲线多呈幂函数变化;宏、细观损伤变量之间线性相关性良好,且表征损伤变量D(A)和D(Ra)较整征损伤变量D(E)的变化稍有滞后。  相似文献   
367.
通过推进系统外部可测的姿态信息,利用强跟踪滤波器和多模预报估计器,研究了一类非线性系统常值阶跃型故障和间歇性故障的检测与分离问题。对关机失效,利用强跟踪滤波器获得故障效应的估计,检测逻辑采用改进的贝叶斯分类方法,依据推力器失效效应的方向性进行故障单元的分离;对开机失效,采用多模预报,根据相应残差向量范数的比较进行故障的即时无阈值判别,同时完成了故障后系统状态的重构问题。以一类大型航天器的反作用姿态控制系统为例,对其中出现的推力器失效进行了故障识别仿真研究,表明所提方法是有效的。  相似文献   
368.
断口反推技术在飞机结构损伤容限中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文以某机翼疲劳试验时下壁板油泵口边缘螺栓孔实测裂纹扩展数据为例,对断口反推方法、原理进行了探讨,对其在疲劳损伤容限方面用来确定裂纹扩展周期、裂纹扩展曲线以及确定初始裂纹长度等方面的应用做了进一步深入分析、论证,并提出了自己的见解。  相似文献   
369.
材料非线性对复合材料层板损伤的影响   总被引:3,自引:0,他引:3  
根据Hahn-Tsai非线性应力应变关系,用有限元方法对受拉伸载荷作用的含孔复合材料层板损伤演变进行了模拟计算,由非线性有限元方法得到的应力、应变以及最终载荷与以往线性分析方法得到的结果比较表明:考虑材料非线性可以提高计算精度;参数研究表明非线性系数的变化对正交各向异性板的影响较大,而对准各向同性板的影响较少.  相似文献   
370.
    
针对胚胎电子细胞阵列中测试结构与故障检测和定位方法受电子细胞和阵列结构限制较大,故障检测和定位能力有限,硬件消耗大等问题,提出一种由可配置边界扫描结构和可配置内部扫描结构组成的新的测试结构。基于这种测试结构,提出了寄存器传输级故障检测和细胞级故障定位相结合的故障检测和定位方法。仿真实验以s27电路为例,详细介绍了故障检测和定位的具体过程并对测试结构的硬件消耗进行了分析。仿真和分析结果表明,本文方法可有效检测并在细胞级定位故障,而且随着阵列规模增大,测试结构的硬件消耗所占比例明显下降,适用于大规模胚胎电子细胞阵列。  相似文献   
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