基于电路仿真和正态假设的小样本多试验环境下产品性能可靠性评估

针对电子产品设计验证阶段性能试验的多环境状态、小样本特点,在正态分布假设条件下,提出了基于Pspice电路仿真的性能评估方法,运用Pspice软件中的瞬态分析、Monte-Carlo分析和温度分析获得了各环境状态下的性能仿真数据,进而获得了环境因子的仿真结果;利用环境因子将多试验状态下的试验数据折算为正常状态下的性能试验数据,基于折算后性能试验数据实现了产品的性能可靠性评估。最后,以某型装备上的稳压电源为例说明了本文方法的有效性和实用性。     

校时电路的设计与应用

为了给外部系统提供持久有效的统一时间信息,设计了一种可长时间保存标准时间的校时电路。电路以DSP为核心控制器,完成实时时钟电路(RTC)时间的读取、校正,解析外部请求校时信息,并为外部系统校时,解析外部系统送入的时间信息,完成对RTC时间的重置,RTC时钟备用工作电源为蓄电池,容量为1AH。校时电路已成功应用于多型机载任务记录器存储校时组件,实践证明校时电路可持久可靠地为外部系统提供标准时间信息。     

机抖激光陀螺稳频电路发展综述

激光陀螺作为惯性系统的核心器件之一,其性能的优劣直接影响惯性系统的精度.目前激光陀螺的性能提升主要得益于相关电路方面的改进.而稳频电路作为激光陀螺控制电路的重要组成部分,其对激光陀螺的性能起到至关重要的作用.本文主要研究了二频机抖激光陀螺稳频电路的研究进展情况,介绍稳频电路的发展历史及趋势,概括了其工作原理及实现方式,...     

波音757右IDG电源输出中线接地点故障分析

以实际维修工作中遇到的波音757右整体驱动发电机（IDG）电源输出中线接地点故障为例．对该故障的现象、特点和难点进行分析和判断,找到了故障的原因,并提出了排故方案和维修建议。     

电路参数对石墨加热元件发热特性的影响规律研究

电路参数是石墨加热元件发热性能的决定性因素,对电路参数的影响规律的研究是高性能高可靠性石墨加热器设计的基础。对石墨加热装置的失效过程进行研究,确定发热元件可靠性量化指标：温度均匀度;在此基础上,确定对加热元件热输出性能进行量化的四个电路参数：加热元件厚度、发热条宽度、发热条缝隙、缝隙处的倒圆半径;对发热电路进行参数化建模,并采用有限元电热耦合仿真对加热元件电路参数对加热能力和可靠性的影响机理进行研究。结果表明：加热元件的厚度决定了加热元件的热输出能力,而其余三个电路参数决定了加热元件的可靠性。本文的研究成果对高性能石墨加热装置的研制具有重要的支撑作用。     

采用主流FPGA的数字电路在线生长进化方法

采用主流FPGA器件构建了在线进化平台,提出了一种适合较大规模数字电路在线进化的生长进化方法。该方法模拟植物生长机理进化以解决进化速度缓慢问题,采用增长验证评估方法取代传统的穷举式验证评估方法来解决在线验证评估难题;应用免疫遗传算法克服遗传算法的早熟收敛问题;采用多参数级联十进制整数编码方法缩短染色体长度;采用生长进化方法成功地进化出了16位加法器和8位乘法器。对比实验结果表明,采用生长进化方法无论是进化出的电路规模,还是进化速度均优于传统的直接进化方法。     

微半球陀螺测控电路国内外现状与关键技术

微半球陀螺相比于传统的机械陀螺具有更小的尺寸，因此其对温度、湿度、磁场等外界环境的变化更为敏感。为了保证陀螺具有较好的工作表现，需要使外部驱动信号的频率严格锁定于工作模态的中心频率上，且陀螺输出信号幅值恒定。与此同时，由于微半球陀螺信号为微弱信号，故而需要采用微弱信号采集技术及反馈技术对其进行处理，并且通过解调控制算法得到输出信号。阐述了微半球陀螺基本测控电路的国内外发展现状，并从Sigma-delta、模态匹配、正交补偿、温度补偿等角度分析了微半球陀螺测控电路的关键技术。     

星载1553B总线通信接口研究

为保证星载1553B总线通信的可靠性,在忽略容性、感性阻抗的情况下,基于叠加定理对变压器耦合方式下总线接口电路建立了等效模型,计算出接口变压器的等效输入阻抗,得出总线终端输入电压信号U。在假定双绞传输线理想状态下,利用软件分别对U与隔离电阻Rs、终端匹配电阻R,和传输线阻抗Rw之间的关系曲线进行了仿真,确定了相关电阻的选取范围。该模型的建立与仿真,为1553B总线接口设计提供了一种新的模型和验证方法,具有一定的工程应用价值。     

航天继电器触点粘连故障机理分析及保护技术

文章针对卫星供配电系统功率继电器接通瞬间浪涌电流导致触点粘连故障进行研究,分析电路导致浪涌电流的机理,并对一种继电器触点浪涌抑制保护电路开展分析和试验测试,提出有效消除继电器触点粘连故障的方案。研究结果对帮助指导航天继电器的使用,提高航天继电器在轨应用的可靠性和安全性具有重要意义。     

卫星电子组件高加速寿命试验技术

高加速寿命试验（HALT）是一种高效的可靠性试验。通过高加速应力作用,激发产品潜在缺陷变为故障并进行改进,以达到其在使用中几乎不会出现故障的目的。文章阐述了试验的基本原理、试验剖面和失效分析等等,根据航天产品的特点,给出了应力极限确定步骤和温度控制方法,并将该方法在卫星典型电子组件上进行了应用研究。