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AlNiCo合金具有优异的温度稳定性和磁稳定性,在惯性仪表中广泛应用,其磁稳定性对于仪表的精度和寿命具有重要影响。AlNiCo合金中主要包括强磁性的α1相和弱磁性的α2相,通常情况下取向一致的α1相为磁体提供矫顽力和磁化强度。通过磁场热处理的方法控制α1相的取向,研究其对磁稳定性的影响规律,探索提高AlNiCo合金磁稳定性的新思路。研究发现,随机取向的AlNiCo-0样品虽然矫顽力和剩磁较低,但是具备更低的磁粘滞系数,稳定性优于各向异性的AlNiCo-0.25样品,这主要是由于其能垒分布更加平缓。微磁模拟的结果进一步表明,取向垂直于易轴的α1相更有助于形成稳定的磁畴结构。 相似文献
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《Advances in Space Research (includes Cospar's Information Bulletin, Space Research Today)》2023,71(3):1605-1626
This paper investigates the problem of magnetic sail-based spacecraft formation control around the artificial equilibrium points (AEPs), which can eliminate the requirement of the propellant. The thrusts are achieved by utilizing the interaction between the solar wind and the artificial magnetosphere generated by superconducting current coil onboard. The circular restricted three-body problem (CRTBP) of magnetic sail is discussed including the allowed regions and linear stability of AEPs, the locations of collinear AEPs and the possibility of existence of periodic orbits around the collinear AEPs. Next, the dynamical models of magnetic sail formation around the collinear AEPs are established. A novel fast fixed-time nonsingular terminal sliding mode controller (FFNTSM) based on fixed-time disturbance observer (FTDO) is developed to account for external disturbances. Several numerical simulations are conducted to substantiate that spacecraft formation can be precisely controlled by the proposed propellantless propulsion method in the presence of external disturbances. 相似文献
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本文开展了对CMV4000传感器国产化替代的研究工作以及芯片验证平台设计工作,替代芯片为上海集成电路生产的ASG043传感器芯片。本文首先通过元器件手册信息,从硬件电路和FPGA软件设计两个角度开展替代工作的研究。然后在搭载ASG043图像传感器的星敏感器上对电源以及图像传感器驱动代码进行设计修改,以满足国产ASG043传感器的供电,时序,训练等要求,ASG043成功运行后,对比替代前后黑白图及采集星点图像。由对比结果可知其成像效果与进口探测器相当,可在不更改印制板的条件下原位置替代CMV4000图像传感器。 相似文献
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接口阻抗测试是航天产品中对产品状态是否正常来进行判断的常用方法。在航天产品应用中,通常认为接口芯片阻抗测试异常即代表该接口芯片已经失效。本文针对一种LVDS接口发送芯片由静电导致阻抗测试异常,但功能正常的现象进行分析。在元器件失效分析的基础上,定位静电损伤的位置为芯片内部静电防护电路,从而建立了对应的电路模型,对芯片静电损伤的现象进行理论分析。分析说明:该芯片在被静电打击时,其静电防护电路中一个NMOS管受损,但该电路保护了芯片的功能电路,被击穿的NMOS管等效为一个电阻,因此导致阻抗测试异常,但芯片功能电路未受损的现象,为静电软击穿现象。且可认为该芯片在受静电影响后并未失效,相关电路仍具有正常工作的能力。即阻抗异常现象并不是芯片失效的充分条件。 相似文献
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