热气机活塞十字头摩擦学与动力学的耦合分析

为了研究热气机活塞十字头结构摩擦学及动力学特性,本文在三维形貌测量的基础上进行连接副的接触分析得到了其连接副摩擦学特性,建立了耦合摩擦学特性的热气机活塞组动力学模型,对比分析了计算结果与实测值,结果表明：热气机不同工况下其主密封摩擦功耗的计算值与试验值的误差不超过10%,验证了摩擦学计算和建模方法的正确性;当二阶运动较为柔和时,随十字头横向运动的挤压油膜在其对应推力面产生梯度均匀的压力分布,而剧烈的二阶运动造成十字头边缘与缸套碰撞产生局部高达30 MPa的油膜总压;活塞十字头产生了远大于导引环、杆密封的侧推力,杆密封结构因属接触式密封而产生近600 W的摩擦功耗,远大于十字头和导引环的摩擦功耗;因处于气膜润滑状态,导引环产生的侧推力和摩擦功耗较小,计算时可忽略不计;侧推力中的较高频率分量源于十字头与缸套间的摩擦学特性,在热气机动力学求解中应考虑摩擦学的影响,以提高其求解精度。     

赛博空间电子战目标分析

赛博空间是现代战争中一个全新的作战领域,电子战是赛博空间夺取制电磁权的主要手段。因此,要加强赛博空间电子战的研究,正确理解赛博空间、赛博空间行动等基本概念以及赛博空间的特点规律,把握赛博空间与电子战的关系,深入分析赛博空间的电子战目标,提高在赛博空间进行电子战的能力。     

三轴气浮陀螺稳定平台电子模拟器设计

介绍了一种三轴气浮陀螺稳定平台地面测试用电子模拟器的设计方法。针对气浮平台地面测试的应用特点进行数学建模,采用以单片机为核心进行模拟器综合设计,解决了气浮平台地面测试过程中各种输出信号的实时模拟问题。实际应用表明：这种电子模拟器具有使用方便、稳定性好、寿命长的特点,能够代替气浮平台参与系统综合测试,不仅减少了平台使用寿命的消耗,而且显著降低了系统测试过程中故障复现与排除试验的风险。     

航天电子设备可靠性评估方法研究

建立了一种综合利用航天电子设备分系统可靠性信息和试验数据以及整机系统试验数据的Bayes可靠性评估方法.该方法利用最大熵方法融合分系统可靠性信息,推导了从分系统可靠性矩到系统可靠性矩的计算公式,然后建立了基于继承因子ρ的混合β先验分布,结合整机系统试验数据确定后验分布,最后,基于后验分布推断航天电子设备可靠性.采用该方法对航天电子设备可靠性进行了评估,当整机系统试验数据为240次时,航天电子设备在置信水平0.70的情况下可靠度可达到0.9991,所要求的整机系统试验次数比经典方法约降低了4/5.     

电能回馈型航空发电机测试用电子负载的研制

论述了一种用于航空发电机测试的电能回馈型电子负载的实现方案。这种电能回馈型电子负载采用电流滞环PWM技术,可实现功率因数无级调节,可模拟阻性、容性、感性等各种航空发电机负载形式,并通过三相逆变器将发电机发出的电能以功率因数1回馈给电网,降低了设备功耗,缩小了设备体积。采用Matlab进行了系统仿真,仿真结果验证了该方案的可行性。     

电子式飞行仪表系统与GPS导航系统交联关系设计与实现

在简要分析某型飞机上原装LTN-211奥米加导航系统与EFIS-74电子式飞机仪表系统交联特性和Trimble 2101I／0型GPS导航系统输出特性基础上,设计了该型机LTN-211换装Trimble 2101I／O后EFIS-74与Trimble 2101I／O新的交联关系。实际应用表明：所实现的EFIS-74与Trimble 2101I／O交联关系全面、正确,提高了该型飞机的整机导航能力。     

电子仪器泄复压试验设备改造

电子仪器泄复压试验是载人航天系统工程中的一项关键技术。文章介绍了北京卫星环境工程研究所泄复压试验设备的改造目的以及改造方案,重点运用理论研究的方法即泄压设计分析与复压设计分析,使改造后的设备同时满足两类技术要求,并结合工程试验研究加以验证。通过调试试验证明,改造后的设备满足相应的技术要求,可以保证泄复压试验的顺利进行。     

空间电磁辐射强度分析及其仿真

电子对抗目前已经成为决定战争胜负的关键因素,因此对空间电磁辐射强度的分析成为指导和验证电子对抗研究及其作战效果的重要途径。针对实际战场的电磁环境,提出了空间电磁辐射强度的分析模型及其实现方法,为电子战的攻防双方进行对抗实施和对抗效能评估提供了接近实际电磁环境的分析和实验方法。基于所提出的分析方法,进行了详细的仿真实验,验证了所提出方法的正确性和有效性。     

电子战新技术发展综述

综述了当前电子战技术装备的发展概况,从电子侦察、电子进攻、电子防御三方面分析了国内外新装备新技术动态及其发展趋势,并对最近发展迅速的雷达新技术、无人机的电子战技术手段进行了分析,最后对未来电子战发展方向进行展望。     

SRAM型FPGA的抗SEU方法研究

通过分析静态随机访问存储器(Static Random Access Memorg,SRAM)型现场可编程门阵列(Field Programable Gate Array,FPGA)遭受空间单粒子翻转(SEU)效应的影响,并比较几种常见的抗SEU技术:三模冗余(Triple Module Redwcdancy,TMR)、纠错码(Error Correction Code,ECC)和擦洗(Scrubbing),提出了一种硬件、时间冗余相结合的基于双模块冗余比较的抗SEU设计方法。在FPGA平台上对线性反馈移位寄存器(Linear Feedback Shift Register,LFSR)逻辑进行软件仿真的抗SEU验证实现,将各种容错设计方法实现后获得的实验数据进行分析比较。结果表明,64阶LFSR的抗SEU容错开销与基于硬件的TMR方法相比,可以节省92%的冗余逻辑资源;与基于时间的TMR相比,附加时间延迟缩短26%。