《宇航计测技术》撰稿须知CSCD

一、征稿范围无线电、时间频率、电磁学、电离辐射、化学和光学等计量标准的设计、研制和计量测试技术、仪器仪表的检定维修技术、误差分析及数据处理技术;石英晶体器件的设计和研制、电子技术应用、自动化测量、计量产品介绍、国内外计量信息、计量测试动态及发展趋势等。     

基于低相干光的光子晶体光纤熔点背向反射测量

光子晶体光纤(PCF)与传统单模光纤熔接时斜切熔接可以大大减小熔点处反射,但是仍然存在微弱的残余背向反射,为了精确测量该残余背向反射大小,本文基于低相干光干涉测量原理提出了一种Mach-Zehnder与Michelson混合型干涉仪。基于该干涉仪,对包层直径125μm实芯光子晶体光纤与传统单模光纤斜8°熔点,以及包层直径100μm实芯光子晶体光纤与传统单模光纤斜8°熔点处的背向反射进行了测量,得到背向反射率分别为-52.12 d B和-49.35 d B,并获得了熔点的位置信息。该干涉仪为光子晶体光纤斜切熔点残余背向反射的精确定位和测量提供了工具和手段,为熔点质量的改善奠定了基础。     

空间环境对InSb晶体生长的影响

为了研究太空微重力环境对InSb 晶体生长的影响,在空间进行了InSb 晶体的重熔和再结晶实验。实验结果表明,空间可以生长出结构较完整、组份均匀的高质量单晶。另外还证明了利用多用途单晶生长炉内一侧余热进行单晶生长的可行性。     

单晶高温合金持久性能各向异性分析

为阐述单晶高温合金持久性能各向异性规律,收集了 Mar-M247、RR2000、DD6、PWA1484、CMSX-2、CMSX-4、Alloy454与SC7-14合金的持久寿命数据,调研文献探索其影响因素,总结了近<001>取向小角偏离对持久寿命的影响,研究晶体取向与持久寿命间的关系,定量分析了温度对持久性能各向异性的...     

KTP晶体频率转换带宽特性研究

以0．8μm波长作为泵光频率,对KTP晶体在近红外光区的匹配特性作了研究,对各种可能的频率转换关系进行了分析,提出了两个最优宽带转换方式以及获得宽带频率转换的方法。     

单模光纤声光频率偏移装置

本文介绍了一种光导纤维声光频率偏移器,单模光纤由于弯曲将引起双折射,由压电晶体产生的声波通过该弯曲的单模光纤,则由一种偏振模的光耦合到另一种偏振模时,其频率将产生偏移,其偏移量为压电晶体产生的声波频率。单边带抑制可达30dB以上。     

掺铒光纤光源辐照致有源区损耗研究及其抗辐照设计

在辐照环境下,掺铒光纤光源谱宽、平均波长稳定性及功率稳定性与光纤陀螺精度直接相关。为研究高性能、抗辐照掺铒光纤光源,研究了掺铒光纤光源辐射致有源区损耗特性。利用Er³⁺的本征荧光光谱作为光源原始输出光谱,结合“多重光褪色”和“980nm泵浦功率闭环控制技术”,提出了一种高性能、抗辐照掺铒光子晶体光纤光源设计方案。结果表明,在50krad照射剂量下,光源谱宽大于40nm,平均波长稳定性约5.4×10^-7/krad,输出功率衰减小于0.1dB。该宽谱光源在辐射环境下具有良好的综合性能,特别适用于战略级高精度干涉式光纤陀螺。     

基于单片机的晶体三极管参数智能检测系统设计

为了方便快捷地检测出晶体三极管的管型、管脚极性以及放大倍数等参数,根据三极管的工作原理和导通特性,研究设计了一种以STC12C5A60S2单片机为处理核心,搭配三组继电器通断采样电路和LCD12864作为显示的三极管参数检测系统。通过单片机控制I/O接口给三极管的不同管脚依次输送多组高低电平,模拟数字万用表测量三极管的过程,实现三极管参数的智能检测。测试结果表明,该系统不仅能够有效地检测出三极管的管型和管脚极性,而且测量放大倍数相比于专业仪器,其相对误差小于3%,同时系统具有制作简单、检测速度快和显示直观等优点,具有极高的市场应用价值。     

增材制造钛合金的裂纹扩展行为的晶体塑性有限元分析

本文通过Abaqus和MATLAB,结合扩展有限元建立了一种基于Voronoi图的晶体弹塑性有限元模型。为验证该模型,模拟了晶体取向对激光熔化沉积TC18静力性能和疲劳裂纹扩展的影响。结果表明,该模型能够重现试验现象,并一定程度上揭示产生这种现象的原因。能够有效描述金属晶体的各向异性响应,并能为增材制造钛合金疲劳裂纹扩展分析和以提升损伤容限性能为目的的工艺优化提供有益参考。     

深过冷熔体中的晶体形核与快速长大

 以特制的无机盐玻璃作为净化剂去除液态Ni-0.39％B-6.58％Si合金中的异质晶核,获得363K(0.229T_L)过冷度,采用高速摄影及快速红外测温技术研究了深过冷熔体的快速凝固行为。