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为满足某型光电经纬仪的使用要求,设计了某绝对式恒光源 24位光电轴角编码器分系统。该编码器采用 16位绝对式光学码盘,码盘刻划有粗码道、通圈码道、中精码道和精码道。精码道的线对数为 16 384(14位)。方位和高低编码器的处理电路设计在一块电路板上,采用一片 DSP为主机,6个读数头输出 64路码盘光电信号分别经放大整形、A/D转换输入至 DSP。DSP完成数据采集、细分、译码、校正等处理,把轴的转角变换成 24位自然二进制角度代码输出和上传。使用情况表明:该编码器的光机结构布局合理、性能稳定,电路板和元器件少、操作简单、测角精度高,满足某型光电经纬仪对于编码器系统的要求,具有较高的实用价值。 相似文献
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为了进一步研究表面粘贴式的主动传感技术——压电阻抗技术(EMI, Electro-Mechanical Impedance)监测固体推进剂的老化,构建了基于线粘弹杆结构的一维机电耦合模型,根据粘弹性波的理论与边界条件进行分析,建立一种线粘弹结构动态模量与其机械阻抗的表征关系,并对构建的机电耦合阻抗模型进行了数值计算及试验验证。针对HTPB固体推进剂开展高温热加速老化试验及压电主动激励试验,根据监测所得导纳频谱并通过提取结构机械阻抗进行分析,结果表明:压电陶瓷片与推进剂结构在高频机电耦合运动时(300kHz,280kHz)有明显的共振现象,结构固有频率高于机电耦合共振频率,并且在200kHz~400kHz频段与700kHz~900kHz频段内,结构机械阻抗频谱峰值会因固体推进剂的热老化时间增长而降低,且与热老化时间之间满足线性关系。由此可见,压电阻抗法能够与固体推进剂在力学性能上建立表征关系,通过得到固体推进剂结构机械阻抗能够监测其老化损伤。 相似文献
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光纤陀螺对温度较为敏感,输出受温度及温度变化率影响严重,在实际工作中需要对温度漂移误差进行建模补偿。传统多项式拟合方法如最小二乘法,无法很好地满足精度要求。因此,首先对光纤陀螺工作原理与温度漂移误差产生原理进行分析,得出光纤陀螺温度漂移误差特性。利用传统多项式模型对不同温度下启动的光纤陀螺进行建模补偿,得到补偿后的精度并不理想。利用新的二维插值模型对上述试验重新进行建模补偿,结果表明二维插值模型明显优于多项式模型,光纤陀螺的零偏稳定性由补偿前的0.0153(°)/h提高到0.0051(°)/h,有利于工程上应用。 相似文献
115.
针对传统六位置标定存在标定步骤复杂、标定时间长等问题,同时随着MEMS器件冗余数目增加和冗余配置结构复杂化,利用分立标定技术实现器件误差参数辨识的难度进一步增大,且不同配置结构所采用的标定方法存在通用性较差的问题。因此提出了一种基于Kalman滤波的冗余MEMS-IMU分立标定方案。该方案首先采用小角度建模法实现安装误差的精确建模;然后针对直接以转台三轴角速率为观测值,导致部分状态量不可观的问题,提出了以器件的输出误差值作为观测量、以器件误差参数作为状态量设计Kalman滤波器;最后设计了高精度三轴转台转位编排方式,并利用四陀螺冗余结构进行标定仿真试验。仿真结果表明:该标定方法与六位置标定方案相比,标定精度平均提高了11.37%,可实现MEMS器件误差参数的快速辨识,对实际工程实践具有一定参考价值。 相似文献
116.
新型微推力器是未来微纳卫星的生力军,其设计、研制和应用都离不开推力性能测量的工程支撑。在设计和研究阶段,新型微推力器稳态力输出时间与机械式直接测量系统稳态调整时间之间存在匹配问题,无法利用测量系统的稳态响应直接还原推力大小。提出一种基于动态补偿技术的稳态推力还原方法,通过分析稳态力工作时间、稳态力大小与测量系统稳态响应之间的关系,提出了动态补偿器的设计原则和推力还原步骤,并进行了实验验证。研究结果表明:当稳态推力实际工作时间大于测量系统周期的0.25倍,且小于测量系统稳态调整时间时,可利用动态补偿器设计原则建立新的等效测量系统,使最终的输出达到稳态,并利用最终的稳态响应均值还原推力大小。 相似文献
117.
118.
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磨齿加工时齿坯几何中心与回转工作台轴心存在安装偏心误差,降低了磨齿加工精度。以数控成型砂轮磨齿机工作原理为基础,建立偏心误差磨削加工几何模型;提出安装偏心误差补偿法,建立偏心误差补偿数学模型,通过数学模型求出磨削砂轮在X、Y两个方向的进给补偿增量;以YK73125数控成型砂轮磨齿机为例,进行安装偏心误差补偿实验,齿轮的左右齿面单个齿距极限偏差绝对值分别减小了0.9μm和1.6μm,齿距累积总偏差绝对值分别减小了49.6μm和43.3μm。结果表明:安装偏心误差与单个齿距偏差和齿距累积总偏差成正比;采用安装偏心误差补偿进行磨齿加工,有效地减小了单个齿距偏差和齿距累积总偏差,齿轮的精度有所提高。 相似文献
120.
HTPB固体推进剂老化性能检测新方法 总被引:2,自引:2,他引:2
引入了光致正电子湮灭分析方法 (PIPA,Photon Induced Positron Analysis),对HTPB固体推进剂老化性能进行检测研究。介绍了PIPA的原理、PIPA试验平台的搭建以及PIPA的数值处理方法,并用511KeV能谱的FWHM值ε(半高宽,Full Width Half Maximum)表征HTPB固体推进剂老化引起的微观变化,所得结论与固体推进剂的常规测试一致,证明了PIPA用于固体推进剂老化性能无损检测的可行性。 相似文献