K型半刚性电缆接头的研制

介绍K型半刚性电缆接头的特点和主要技术指标,着重讨论K型半刚性电缆接头的设计和结构,给出了自行研制的K型接头经美国HP8510毫米波网络分析仪详细测试的结果。测试结果证明,在25.5～40GHz频带内返回损耗为-14.55～38.55dB,接近国外同类产品水平,为国内毫米波接头填补了一项空白,并为我国毫米波同轴系统的推广应用打下了初步基础。     

Bi_(1.9)Pb_(0.3)Sr_(2.0)Ca_(1.7)Mg_(0.3)Cu_(3.1)O_x 超导块材弱连接区的低磁场性

通过对在不同外磁场下Ｂｉ１．９Ｐｂ０．３Ｓｒ２．０Ｃａ１．７Ｍｇ０．３Ｃｕ３．１Ｏｘ超导块材的交流磁化率的测量，获得了样品内晶粒间和晶粒内对外场的不问响应范围．通过与粉状样品实验结果的比较和Ｘ光分析，认为块状样品在温度为１００Ｋ左右出现的抗磁台阶是样品内晶粒间超导弱连接的一种抗磁效应．对弱连接区有效钉扎力Ｆｐ和临界电流密度Ｊｃ与外场Ｈ的关系进行了讨论．     

国外毫米波同轴连接器和元件的发展概况

国外毫米波同轴连接器和元件的发展概况吴秉钧，于淑雯，唐申生，曹东１引言由于毫米波系统具有方向性好、穿透力强等独特优点，所以无论在军事上和民用方面都有着极其广泛的应用前景，尤其适用于导弹制导系统、卫星通信、电子对抗、雷达工程以及各种测量仪器等领域。过去...     

高频宽频偏压控晶体振荡器

详细介绍了高频宽频偏压控晶体振荡器的工作原理，根据技术指标给出了实际电路，并对电路进行了分析，最后给出测试结果。     

空间○型圈密封泄漏率实验研究

通过对硅橡胶材料○型圈在模拟空间环境下的泄漏率实验，研究了空间密封中○型圈的压缩率、温度、○型圈的载荷衰减和原子氧辐射对其泄漏率的影响。实验结果发现，○型圈的泄漏率随○型圈压缩率的增大而减小，在－5－100℃的温度范围内，随温度的升高而增大，而○型圈的载荷衰减和原子氧辐射都对○型圈的泄漏率有不同程度的影响。     

典型智能材料结构疲劳可靠性问题研究进展

智能材料结构在众多领域应用广泛,为防止智能材料结构在使用时发生疲劳失效,研究智能材料结构的疲劳可靠性问题有着重要意义.本文从疲劳失效的微观表征、疲劳试验的宏观现象以及疲劳可靠性问题的研究方法等角度,分析了裂纹对压电传感器性能的影响,探究了压电换能器在振动能量回收中发生疲劳失效的机理.阐述了形状记忆合金发生结构性疲劳的微...     

星载硬质吸波材料真空功率耐受性能验证

星载吸波材料是复杂空间环境条件下天线、微波部组件大功率使用中满足隔离度要求的核心部件。本文研究了星载吸波材料真空功率耐受性能和吸波材料原材料制备工艺关键要素之间的关系,文中首先介绍了星载吸波材料电磁波吸收机理,其电磁参数直接关系到电磁波吸收性能优异与否;接着给出了影响电磁参数稳定性的原材料制备关键要素,以及成型材料的机加工艺特点;随后构建了一套星载吸波材料功率耐受性能的验证平台,开展功率试验;对两种工艺固化方法制备的原材料,分别制作了波导型吸收负载试验件进行试验验证。结果表明：（1）未进行高温预处理的吸波材料,残存未固化的小分子,会导致在高温真空工况下可凝挥发物析出增多,与外导体镀银层发生氧化反应,进而使负载组件的驻波变化率较大;（2）经过高温预处理后的吸波材料,在高温下的真空质损和可凝挥发物均得到了有效控制,其电磁参数也趋于稳定,负载组件的驻波变化率试验前后差异不大。因此,吸波材料原材料工艺制备过程中高温预处理属于关键要素;该工艺固化方法的有效实施将有助于星载吸波材料的应用,提高航天器在轨服役可靠性和安全性。     

晶体塑性本构模型材料参数识别方法研究

为建立简单高效的晶体塑性本构模型材料参数识别方法,将传统Voronoi多晶/柱晶微结构模型进行了简化,探索了简化微结构模型的建模策略,验证了利用简化微结构模型进行材料参数识别的合理性,分别形成了针对多晶、柱晶与单晶合金的材料参数识别策略,获得了ZSGH4169,DZ125与DD6合金共15组材料参数。结果显示：简化模型的网格数量远远低于传统Voronoi微结构模型,极大地降低了计算代价;为保证简化模型的结果合理且计算代价适中,简化多晶模型需大致含有125个晶粒;相同材料参数条件下,简化模型与传统Voronoi模型的计算结果基本一致;3类合金仿真/实验结果间的最大误差均不超过5%。文中所开发材料参数识别方法计算成本小、操作难度低、运行效率高。     

8mm衰减标准装置

对8mm衰减标准装置的工作原理、系统设计、主要技术特点、误差分析等进行了详细介绍,并附有测试和分析数据。该装置达到了80dB的量程、全频段和±0.003dB/10dB的准确度。     

VO2薄膜制备工艺及电阻开关特性研究

用溶胶－凝胶法在非晶玻璃上制备VO2薄膜，经过熔融、涂膜、烘干和热处理等工艺最后得到电阻相变2－3个量级的VO2薄膜。对烘干温度、熔融温度、膜厚和热处理温度对薄膜电阻开关特性的影响进行了研究。通过XRD（X－ray diffraction)和XPS（X－ray photoelectron spectroscopy）对薄膜的结构和价态进行分析，表明用溶胶－凝胶法制图VO2膜工艺简单，重复性好。