工业CT大视场扫描成像方法研究

工业CT二代扫描方式扫描视场大，但扫描时间长；三代扫描方式扫描时间短，但扫描视场小。为解决较大尺寸构件ICT快速检测问题，讨论了一种基于三代扫描的大视场扫描方式，推导了它的FBP重构算法。计算机模拟和实验结果证明了该算法的正确性。分析表明，其有效扫描视野在三代的1．9倍以上。     

基于隧道效应的纳米级轮廓仪

介绍了一种利用量子力学中隧道效应原理工作的纳米级轮廓仪．它可对直径为１３０ｍｍ的光盘、磁盘等较大工件表面直接进行测量，扫描范围为１×１～１４０×１４０μｍ２，Ｘ，Ｙ方向扫描步长为１～８００ｎｍ可调，横向分辨率达几个纳米，纵向分辨率优于１ｎｍ．利用该装置已测得精密光栅、精磨祥块、金刚石镜面车削等表面的纳米级形貌．     

扫描跟踪和图象跟踪之间的协调控制

扫描跟踪和图象跟踪方式之间的协调控制系统设计者提出了一些重要的问题。扫描跟踪用于点目标，图象跟踪用于大面积目标；在任何给定条件下，有时两种方法都可能用到。必须找到协调控制的一个最佳点。目标还可能在扫描跟踪和图象跟踪最佳的状态之间变化。当用一种方式丢失目标后，用另一种方式再次捕获目标又是另一个必须论述的问题。两种方式的局限性是需要考虑的：采用二维空间算法点点目标探测取决于目标和滤波器这两者的外形尺寸大小。图象跟踪的实现主要取决于目标的大小和形状。本文将论述采用典型的扫描跟踪探测点目标的探测算法，简要地介绍一种典型的图象跟踪器并给出几种不同情况下获得的结果。     

TiNi基形状记忆合金薄膜的相变特征研究

利用磁控溅射的方法在单晶Si和非晶SiO2基片上制备了TiNi和TiNiCu形状记忆合金薄膜,并利用示差扫描量热法和基片曲率法研究了薄膜的相变特征及应力随温度的变化.研究结果表明450℃溅射形成的记忆合金薄膜具有良好的形状记忆效应,在微电子机械系统有很好的应用前景.TiNi薄膜降温时出现R相变,因而发生两步相变,而TiNiCu薄膜中马氏体和奥氏体间直接转变.基片以及薄膜成份对相变点有很大的影响.单晶Si片作为基片时,记忆合金薄膜和基片间有很好的结合力,而SiO2作为基片时,记忆合金薄膜容易剥落.     

边界扫描测试技术在集成电路测试中的应用

边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案。介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了该技术在集成电路测试中的应用。     

基于点特征的干涉合成孔径雷达(InSAR)复图像自动配准算法

 在基于点特征的遥感图像配准过程中，特征点的自动提取和准确匹配是影响配准精度的关键。本文提出了一种干涉合成孔径雷达(InSAR)复图像对的自动配准算法，利用特征点的高曲率结构设计了模板，完成了特征点检测；根据匹配点对之间距离相近的结论设计了匹配算法，进行了特征点对的匹配。文章首先通过边缘检测和模板相关提取特征点；其次根据提出的匹配算法建立点的对应关系；最后利用两步法完成复图像的亚像元级配准。实验结果表明，该算法具有较高的配准精度。     

空间扫描

诺格公司建立新的太空探索机构据2005年12月2日报道,诺格公司已经建立了新机构,以致力于开拓并执行不断增加的太空探索机会。该机构将隶属于公司的综合系统部,并将直接向诺格公司副总裁、综合系统部总裁Scott Seymour汇报,美国航空航天局马歇尔航天中心原主任Art Stephen-son已     

空间扫描

欧洲W-3A卫星业务全面恢复据2006年10月11日报道,经欧洲通信卫星(EUTELSAT)公司证实,W-3A卫星已全面恢复正常运转模式,此前的故障曾一度导致服务中止。初步分析表明,卫星服务中止没有对星载44台转发器(42台Ku频段和2台Ka频段)的性能造成影响。W-3A卫星于2004年3月发射升空,定点     

小尺度通道多孔介质表面火焰边界的实验研究

为了更好地在小尺度燃烧室中组织燃烧,对小尺度环形通道内多孔介质表面甲烷与空气预混火焰开展了流量和雷诺数边界特性实验研究。多孔介质采用了烧结金属粉末材料,燃烧在石英玻璃管和不锈钢管以及多孔介质组成的小尺度环形通道中进行。研究结果表明:随着预混气流量的增加,环形通道内的火焰形态由多孔介质表面火焰向推举火焰衍变,与推举火焰相比,多孔介质表面火焰更适合于在微小型燃烧室内组织燃烧。稳态预混气温度随流量的增加先上升后下降,其流量范围与两个火焰形态的基本重合,可以将温度的转折点作为表面火焰边界的定量判据。对于多孔介质表面火焰流量边界而言,当量比小于1.0时,甲烷预混气的表面火焰流量边界随着当量比的增大逐渐变宽;当量比大于1.0时,随着当量比的增大,多孔介质表面火焰流量边界变窄。对于多孔介质表面火焰雷诺数边界而言,随着当量比的增大,雷诺数边界逐渐变宽。     

边界扫描JTAG控制器设计及实现

从边界扫描测试的概念、工作原理和基本结构入手,分析并设计了边界扫描JTAG控制器,以具体的芯片和指令为例,通过 JTAG 控制器实现了对芯片的边界扫描测试功能,为进一步展开嵌入式边界扫描测试研究工作提供了依据。