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半导体器件的过应力损伤问题是危害电子产品可靠性的首要问题。过应力损伤包括电过应力损伤、机械过应力损伤和过高温度损伤。为减少半导体器件在使用现场发生失效,提高经济效益,详细地介绍了半导体器件在使用过程中易发生的过应力损伤。 相似文献
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为使顾客在产品的整个寿命的期间内对产品满意,对产品在顾客手中的行为进行预测是必要的。在产品开发时必须设计它的可靠性,它篇论文提供了一种快速测试故障发生的时间的方法,这种方法在证明产品可靠性时使用。这些被描述的方法坚持可靠性的基本原则,并在提高证明操作和耐久性的能力的同减少试验时间。 相似文献
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过失速动态翼型数据采集及预处理 总被引:2,自引:1,他引:1
张翔 《流体力学实验与测量》1998,12(2):88-92
详细介绍了过失速动态翼型测力,测压数据采集系统的组成,数据采集方法,数据预处理等,对过失速动态翼型数据采集过程中的校准,采样保持和滤波等技术细节进行了探讨。 相似文献
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介绍了利用四象限光电探测器作为检测元件,对转子的旋转速度大小及方向进行在线测量的技术及其应用。对转速大小的测量采用测量频率和测量周期相结合的方法,测量精度,测量范围可以从每分钟几转到几十万转。测量中采用象限相减的差动信号处理方式,可以有效克服噪声及外部干扰信号的影响;采用过零检测处理方法,有助于克服光斑强度的变化对测量结果的影响。 相似文献
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