SRAM FPGA电离辐射效应试验研究

针对SRAM FPGA空间应用日益增多,以100万门SRAM FPGA为样品,进行了单粒子效应和电离总剂量效应辐照试验。单粒子试验结果是:试验用粒子最小LET为1.66 MeV·cm2/mg,出现SEU（单粒子翻转）;LET为4.17 MeV·cm2/mg,出现SEFI（单粒子功能中断）,通过重新配置,样品功能恢复正常;LET在1.66～64.8 MeV?cm2/mg范围内,未出现SEL（单粒子锁定）;试验发现,随SEU数量的累积,样品功耗电流会随之增加,对样品进行重新配置,电流恢复正常。电离总剂量辐照试验结果是:辐照总剂量75 krad(Si)时,2只样品功能正常,功耗电流未见明显变化。辐照到87 krad(Si)时,样品出现功能失效。试验表明SRAM FPGA属于SEU敏感的器件,且存在SEFI。SEU和SEFI会破坏器件功能,导致系统故障。空间应用SRAM FPGA必须进行抗单粒子加固设计,推荐的加固方法是三模冗余（TMR）配合定时重新配置（Scrubbing）。关键部位如控制系统慎用SRAM FPGA。     

电磁脉冲作用下计算机死机故障研究

为研究核电磁脉冲对计算机系统的效应,利用核电磁脉冲源产生的模拟核电磁脉冲,对单片机系统进行了辐照效应实验。实验表明,单片机系统在核电磁脉冲作用下,可出现死机等多种故障现象。在实验的基础上,分析了死机产生的原因及加固方法,并通过实验验证了指令冗余、软件陷阱和看门狗等措施对防止单片机死机的有效性。     

地基卫星通信对抗系统效能二级模糊综合评估

文章主要针对地基卫星通信对抗系统,利用二级模糊综合评判方法计算系统效能。首先,根据其组成和使用方法,建立系统效能的指标体系;然后运用模糊综合评判法,建立二级模糊综合评估模型;最后运用模型,进行示例计算。     

HDI三聚体和偶联剂对纸质文物加固保护的研究

用传统的高分子树脂对纸质文物进行加固保护取得了一定的效果，但由于高分子树脂的渗透、润湿性能较差，容易增加纸张光泽；会产生内应力加速纸张老化等问题。针对这个问题，本文研究了一种纸质文物加固保护的新方法，采用低分子预聚物HDI三聚体对纸张聚氨酯化，并用偶联剂KH-550协同处理。通过正交试验分析了处理工艺中各种因素对纸张拉伸干强度的影响；并通过对拉伸湿强度、光泽度的测试和酸碱加速老化、干热加速老化等试验验证了HDI三聚体和KH-550对纸质文物的加固保护作用，并用DSC和扫描电镜进行了分析。试验表明，这种处理方法在保护纸张原有质感的同时提高了纸张强度，降低了纸纤维的吸湿性，有效地减缓了纸张的老化降解。     

空间碎片观测技术研究

目前国际上很多国家都开展了空间碎片的研究工作,进行了深入的空间碎片观测活动。文章根据国内外空间碎片观测技术的研究现状,总结、归纳了进行空间碎片观测的有效方法,并分析了各种观测手段的优缺点,对空间碎片的进一步研究有借鉴意义。     

空间电子战述评

扼要叙述了从海、陆、空常规战争中移植过来应用于空间电子战中的传统电子对抗技术;着重评述了在今后空间电子战中可能引入的全新电子战技术:核电磁脉冲、核电离效应、先遣核爆炸和激光致盲,同时简述了与上述摧毁性电子战技术相对应的抗摧毁加固技术。     

基于码减载波和B值的GBAS精度性能分析

对GBAS精度性能进行了分析.分别按照基于码减载波(code minus carrier,CMC)和B值两种方法对GBAS基准站实际数据进行了分析.CMC分析结果和B值的分析结果一致表明,GBAS基准站的精度性能等级约为GAD-A2.CMC分析法与B值分析方法具有一些不同的特点.CMC需要使用双频观测量；B值只需要单频观测量.CMC消除了短周期的多路径效应,主要反映的是长周期的多路径效应；B值经过GBAS基准站接收机平均,反映了不同接收机组合的多路径综合效应,更能反映GBAS差分校正误差的实际影响.除此之外,CMC分析法与B值分析法的天空图可以直观地评估GBAS站址的多路径环境.