平面度误差目标函数凸凹性的研究

证明了平面度误差最小区域评定法的目标函数是二维欧氏空间R2 中的连续、不可微的凸函数 ,从而证明了目标函数的全局极小值是唯一的。     

无刷直流电机主电路设计及其换向过程研究

阐述一种采用电容储能型变换器拓扑结构作为主电路的无刷直流电机系统，介绍该系统换向所采用的新型无位置传感器技术-“三角计数换向法”。     

具有弹性环的有限大弹性板应力场分析

 本文用解析与数值结合法研究在含有椭圆孔的有限大小弹性板上,有一椭圆弹性环加强时,板及环上的应力场。假设板与环间处于无初应力的紧密接触状态,弹性板和弹性环的应力函数都可按复劳伦级数展开。根据孔与环的接触边界条件以及各自的外边界条件,运用节点配置法确定板、环的级数系数,从而求出板、环上的应力场。文中分析了级数项数一配点数对计算结果的影响。     

以可靠性为约束的结构优化

 常规结构优化设计存在以下两个根本缺陷:首先,没有确切考虑载荷及元件强度实际存在的不确定性,而用安全系数给以笼统的概括。安全系数取值一般较大,元、对结构带来的影响往往比经过优化设计所得到的效益还要大。第二,它是用元件的应力约束来保证结构系统安全,因此,它是结构元件安全基础上的优化设计。从系统论的观点看,元部件功能好整体功能不一定好。     

一种紧固孔细节原始疲劳质量评定方法

 给出了一种由等幅载荷试验的断口金相数据反推得到的当量初始裂纹尺寸额定值（EIFSR）表征的紧固孔原始疲劳质量评定方法。并据此建立了原始疲劳质量符合性检查的EIF-SR判据和寿命判据。最后用上述判据对紧固孔细节进行了原始疲劳质量评定和符合性检查。     

一种用于材料高温蠕变分析的统一粘塑性损伤本构模型

通过应变等效假设在本文提出的具有过应力特征的统一粘塑性本构模型［５］中引入了描述材料损伤的内变量。并且给出了一个基于组合功密度概念的新的损伤模型。同以往的唯象模型相比，该损伤模型具有较明确的细观物理意义，能反映应变率和应力状态对损伤演化发展的影响。     

0.4C-铬镍钼硅钢多冲疲劳裂纹起始寿命估算

 本文采用局部应力一应变法,结合Coffin公式,忽略弹性应变。考虑应变速率的影响,导出了在给定的试验条件下,根据材料的拉伸性能估算其多冲疲劳裂纹起始寿命的表达式,经试验结果验证表明,对不同冲击能量,不同热处理状态以及不同缺口形状的多冲试样,估算式均具有较高的准确性。     

根据施工法分析韩国建筑公司的质量管理现状

在迅速发展的市场环境中,决定建筑企业命运的是消费者的商品满意度[2]。商品的满意度来自商品的质量,因此企业必须通过确保质量管理来提高市场竞争力。以辨证法验证了各施工法全体项目资料的可信性。通过用Pearson卡方法对施工法中各项目的验证,综合分析了国内中小企业质量管理的现状。通过案例研究,探讨了将来持续有效发展建设质量管理的方向。这种案例研究统计资料是用SPSS/PC version 10.0处理的。     

Study on the Microstructure and Dielectric Properties of Barium Strontium Titanate Thin Films Prepared by Sol-gel Method

Sr05Ba0.5-xBixTiO3 （BST） thin films were fabricated on a Pt/SiO2/Si substrate by the sol-gel method. Then follows an investigation of the influeoces of bismuth （Bi） on the microstructures and the dielectric properties of Sr0.5Ba0.5-xBixTiO3 （BST） thin films. The microstructures of the BST thin films were examined by the XRD and the TEM techniques. Tetragonal perovskite crystal grains were observed in BST thin films. Increasing Bi^3＋ doping ration in BST will lead to decrease of the grain size. It is found that Bi^3＋ doping decreases the dielectric loss and improves the frequency dispersion of the BST thin films. Not only is compressed the peak of temperature-dependence of dielectric constant of Bi^3＋-doped BST thin films but also moves into the low-temperature region. Moreover, the average Curie tem- perature decreases gradually with the Bi^3＋ contents increasing.     

单刻线样板检定装置测量不确定度分析

分析了单刻线样板检定装置的测量不确定度，并分析了用该检定装置检定的单刻线样板的不确定度。