特征在机械制造中的应用

简要介绍特征的有关概念，说明特征的定义和分类，论述特征在机械设计与制造中的作用，还叙述了现阶段国内外有关特征识别和特征设计方法．     

金属腐蚀“3等线”和试验日历寿命确定方法

为了探讨金属日历寿命,通过理论分析和试验研究,发现金属腐蚀的一种等湿等温等时线,它在腐蚀损伤与试验溶液浓度d坐标系中是一条直线,在这条直线上每一点的腐蚀试验湿度、温度和时间各自保持相等,简称腐蚀"3等线"。通过"3等线"与其他综合研究,推导出试验日历寿命计算公式和确定方法。同时又进行了腐蚀损伤与腐蚀时间的线性规律和腐蚀"3等线"存在的试验验证。     

带侧向膨胀的三维非对称喷管设计和性能分析

针对带侧向膨胀的三维矩形截面非对称喷管,提出了一种基于准二维特征线法的喷管设计方法,获得了基于准二维特征线法的非对称喷管设计程序.然后,根据给定的几种侧向膨胀规律,通过该设计方法获得了相应的非对称喷管构型,并将该构型与通过优化算法获得的最优构型进行了比较,结果表明:两种方法所设计的非对称喷管的上、下壁面型面基本重合,喷管壁面压力分布趋势基本一致,验证了准二维特征线法的可靠性.与最优构型的性能相比,该方法所设计的喷管构型,推力偏差低于0.60%,升力偏差低于8.07%,且该设计法将设计耗时由30.5h减少到2h,可方便地应用到带侧向膨胀喷管的初期设计中.      

金属屑信号器壳体腐蚀修复技术研究

针对某型发动机金属屑信号器壳体腐蚀情况,分析了传统修复方法的缺陷,提出了机加胶接复合修复技术的新思路,确定了修复中所选用的金属和非金属材料,并介绍了修复工艺。     

航空发动机限寿件表面特征概率损伤容限评估

为满足航空发动机适航规章(FAR/CCAR33.70)限寿件安全性评估要求,系统总结了基于特殊材料数据库、线弹性断裂力学分析与表面特征失效概率分析的表面特征概率损伤容限评估方法.以表面孔特征为例,总结分析符合适航规章要求的孔特征概率损伤容限评估流程,描述优化的孔特征评估方法,根据咨询通告AC33.70-2中带孔特征轮盘...     

舰载机综合保障技术实践及发展展望

随着舰载机批量服役,中国突破了舰载机研制关键技术,但由于舰载机机型种类多,保障工作复杂且强度大,加之舰基空间及资源有限、保障压力大,舰载机面临着舰面保障规模大等难题,为此开展了舰载机多机种综合保障技术实践。本文较为全面地总结了舰载机研制采用的保障一体化论证方法、基于模型的可靠性/安全性分析方法、面向机舰适配维修性设计、腐蚀防护与控制、岸舰一体通用化保障系统研制等工程实践做法。结合对新作战概念、保障发展需求研究,展望了新一代舰载机保障模式,提出了一种从"保障战斗力"跨越到"释放战斗力"的新保障概念和保障模式。     

构件打磨深度对疲劳寿命的影响

按照飞机结构修理手册的规定,腐蚀损伤的允许打磨深度不超过构件厚度的10%。疲劳寿命计算和试验结果表明,从疲劳强度角度考虑,如果损伤部位修理不能利用原紧固件孔安装紧固件,并且又只能采用非对称铆接修理,则打磨深度在总厚度的10%～20%时,较合理的修理仍是通过打磨清除腐蚀,然后恢复涂层。     

无机盐沉积下7B04铝合金表面微液滴形成研究

采用环境扫描电镜模拟潮湿环境,实时观察水汽在沉积NaCl,Na2SO4,NaNO3的7B04铝合金表面上的凝聚过程,研究不同温度下三种无机盐对铝合金表面微液滴形成的影响。结果表明,沉积无机盐的铝合金表面比洁净表面更易形成微液滴,诱发大气腐蚀的发生;同种盐沉积时合金表面形成微液滴的临界水汽压力随温度的升高而增大,而临界相对湿度降低;在研究的温度区间内(2~10℃),同温度下NaCl沉积时形成微液滴的临界相对湿度最小,最易为大气腐蚀发生创造条件,NaNO3次之,Na2SO4最大。     

超音速扩压叶栅激波结构与流动特征分析

高级压比风扇叶尖Ma数可能超过 2 .0 ,合理组织叶片通道的激波系 ,减小激波 /附面层干扰 ,提高风扇效率和稳定工作范围 ,是风扇设计中面临的一项艰巨任务。通过对三种不同类型的超音速叶栅的激波结构和流动特征的分析 ,以及对这些叶栅的工作机制与设计特点的探讨 ,可为高级压比风扇设计提供某些有益的参考。     

生长在Si上的GaAs外延膜中有关深能级缺陷与其形貌间的关联研究

由于在GaAs和Si单晶材料间有着很大的格子常数及线性热膨胀系数差别,所以在St上生长的GaAs异质外延薄膜（GaAs／Si）中会存在着界面失配形变与高密度的结构缺陷。我们的实验显示,GaAs／Si外延膜的无序与其生长条件有关,尤其与其［As］／［Ga］比密切相关。与GaAs／Si无序相关的失配位错、线位错及畴区的形貌已用扫描电子显微镜作了观察;与深能级相关的缺陷与其形貌间的关联也已用实验说明。对于高有序GaAs／Si外延膜来说,其与离域相关的主发光峰的强度对温度的变化服从阿兰纽斯方程,而对低有序的GaAs／Si外延膜来说,其与局域相关的主发光峰的强度对温度的变化关系则遵循对无定型半导体才成立的另一种方程。