固体火箭发动机燃烧室中的颗粒轨迹

用气相与颗粒场耦合的轨迹模型法计算了固体火箭发动机燃烧室两相流中的颗粒运动轨迹。结果表明： 颗粒轨迹受颗粒尺寸大小、颗粒初始速度的大小和方向以及气相运动特性等影响。燃烧室中的两相流动是一种非常滞后的非平衡流动。颗粒尺寸越大, 惯性越大, 随流性越差。尺寸相差较大的颗粒可能有完全不同的轨迹。在一定条件下,颗粒会穿过通道的中心线,甚至打到对面壁上并反弹。颗粒会受气相旋涡的影响, 甚至有可能卷入旋涡     

纳米流体燃料稳定性及金属颗粒改性方法研究进展

为提高纳米流体燃料的稳定性,探求更有效的金属颗粒改性方法,文中简要回顾了纳米流体燃料的发展历程和关于稳定性的理论研究,重点介绍了提高纳米流体燃料稳定性的技术途径和金属颗粒的改性方法,从影响因素和DLVO理论两方面介绍了纳米流体燃料的稳定性机理,简述了应用于纳米流体燃料的稳定性评价方法,报告了纳米流体燃料的制备方法。文中还指出,研究中采用添加表面活性剂和金属颗粒表面改性是提高纳米流体燃料稳定性的主要方法,其中金属颗粒表面改性是能同时解决纳米燃料稳定性和燃烧两方面问题的有效方法,通过分析硼、铝颗粒表面改性的相关研究,总结了金属颗粒改性方法及效果,对未来研究的趋势进行了展望。     

航空发动机球轴承外圈剥落机理分析

针对航空发动机球轴承外圈滚道发生的剥落故障,利用视频显微镜、扫描电镜等设备对剥落外圈滚道表面进行宏、微观 观察和分析,明确故障外圈的剥落性质为滚动接触疲劳。在滚道剥落起始位置存在严重的碳化物偏聚现象,在未剥落区存在大量由 于基体碳化物脱落所致的麻坑,在滚道表面局部可见机加过程中混入的氧化铝颗粒,导致表面划伤和剥落。经分析表明：碳化物偏 聚及残留的氧化铝颗粒是引起轴承外圈剥落的主要原因。建议在原材料生产过程中严格控制碳化物的形状、尺寸及分布状态,避免 碳化物偏聚,同时在机加过程中优化磨削加工、表面清洗等工艺,消除滚道表面残留的氧化铝颗粒。     

底部封闭竖直细管内纳米流体的沸腾特性和临界热通量

以水-氧化铜纳米颗粒组成的纳米流体为工质, 对底部封闭细小圆管内的沸腾特性以及临界热通量进行了实验研究.结果表明:沸腾时管内纳米流体的浓度不随加热时间长短而改变, 沸腾液体的纳米颗粒除微量吸附在管壁外, 其余全部被蒸汽携带走, 同时吸附层厚度到了一定程度就不再变化.相对于纯水而言, 随着纳米浓度的增加, 纳米流体的沸腾特性有所劣化, 这主要是因为纳米颗粒吸附在管壁上, 减小了壁面粗糙度, 从而减小了液体和壁面的接触角.随着纳米浓度的增加, 纳米流体的临界热通量也随之增加.纳米流体的临界热通量不仅与管长与管径比有关, 而且还与纳米浓度有关.      

STM针尖-样品相互作用实验研究

研究了大气状态下应用扫描隧道显微镜(STM)对金薄膜和单晶硅材料进行了纳米级电场加工实验。分析了针尖和样品表面的相互作用机理,以及隧道间隙、隧道电流反馈、脉冲个数等因素对纳米点结构的加工产生的影响,并探讨了针尖磨损对纳米结构一致性的影响。     

纳米技术的潜在应用

纳米技术是一种可以在原子水平上创造出具有全新分子形态结构的手段。纳米技术在电子工业的应用已有多年的历史，但其真正的发展是始于15年前Oxonica公司生产的纳米材料。现已商品化的纳米产品有自清洁窗户、遮光剂、燃油添加剂、烧伤绷带、电子微循环电路等。尽管纳米技术不是新兴技术，但仍然处于起步阶段，还有很多潜能尚待挖掘。     

NIST检测氦离子显微镜技术

美国国家标准和技术研究院（NIST）的研究人员正在检测最新的显微镜技术。该技术能够进一步提高纳米级物体测量的精确度，而更精确的纳米级测量对半导体和纳米制造业确定标准和改进产品具有十分重要的意义：     

我国长度计量再上新水平

2005年6月16日，中国计量科学研究院研究的具有自主知识产权的532nm(纳米)碘稳定固体激光频率标准，通过了由国家质检总局组织的专家鉴定。这一重大科研成果，使我国长度基准由气体发展到固体，提高了长度计量的精确度，为我国更为准确地实现长度单位“米”定义的复现提供了新途径，标志着我国长度计量跃上新的台阶。     

纳米材料与工程防护

文中介绍了纳米材料的特性，对纳米材料在防护工程上的应用进行了探讨。     

Effects of the Fabrication Processes of NC-Si： H Films on Their Mechanical Properties

Studies of nanoindentation were performed on nc-Si：H films to evaluate the effects of the fabrication processes on their mechanical properties. It is observed that with the decrease of the SiH4 contents, the grain size of the films increases gradually, and as does the crystalline volume fraction. The smaller the grains become, the more homogeneous the films, and the more even the hardness as well as the modulus will be. The hardness and the modulus will increase with the substrate＇s temperature rising. The hardness and the modulus of the nc-Si：H films on the Si substrate prove to be higher than those on the glass substrate given the same technology parameters. How- ever, the films on the glass substrate appear to be more homogeneous.