对8mm微波衰减参数计量的探讨

随着现代武器装备的更新换代和新型导弹的不断发展以及电子战中电子对抗的应用,对导弹制导雷达的要求越来越高.由于毫米波具有制导精确度高,抗干扰能力强、穿透性能好以及携带的信息量大等独特性能,因此被广泛应用于雷达、射频天线、通讯卫星、导弹等许多尖端领域.为了确保雷达的各项参数满足武器试验的要求,保障试验任务的顺利进行,对雷达的各项参数的计量检定是十分必要的.目前,"全自动8mm微波功率标准”已经建立,但8mm微波衰减参数的计量在军内还是一项空白,而衰减量值的准确与否直接影响到武器和装备性能的好坏,影响试验任务的成败.因此,我们提出了一种对8mm微波衰减参数的计量方法,以供广大从事微波计量工作的同行参考.     

异型封闭腔辐射几何学问题

讨论了解决异型封闭腔辐射几何学问题的几种方法:异型封闭腔内,表面间可见性的判断方法;优化异型封闭腔角系数计算的方法;确定异型封闭腔内定向辐射的壁面辐射源的方法.计算了两种结构喷管封闭腔内的角系数,并从角系数的互换性和完整性定理验证了方法的正确性和有效性,为异型封闭腔的辐射计算解决了几何问题.     

利用栅网控制空间等离子体环境效应模拟中的等离子体参数

通常采用ECR等离子体源产生的等离子体的温度和密度都比较大，通过附加适当目数的栅网，并在栅网上加一定的偏置电位来对等离子体参数，尤其是温度，密度进行调整，满足空间等离子体环境模拟要求，本文利用14目，25目的栅网，对已有的地面实验室空间等离子体环境进行了改进，得到了更加接近空间等离子体参数的一个地面模拟环境。     

编队飞行队形设计一般化方法

首先 ,在合理的假设条件下 ,基于运动学关系推导了环绕卫星相对参考卫星的相对运动方程 ;然后 ,给出了编队飞行队形设计一般化方法的具体计算公式 ,利用此方法 ,能在参考轨道为圆或椭圆轨道的情况下 ,直接求出编队中所有卫星的轨道参数 ;最后 ,给出了两个编队队形设计的算例     

六自由度Stewart平台动力学模型的特性分析

根据六自由度Stewart平台的动力学模型,利用矩阵分析的方法详细分析和证明了动力学模型的一些物理特性:动力学模型系数矩阵的有界性,矩阵函数的斜对称性以及动力学模型的线性参数化. 这些工作为基于六自由度Stewart平台动力学模型的非线性控制器设计、系统稳定性的证明以及系统物理参数的辨识奠定了理论基础.      

两种空间直角坐标系转换参数初值快速计算的方法

在已知不共线3点在两坐标系下坐标的条件下,提出了两种快速计算两坐标系间转换参数概略值的方法。其中一种是先通过三点构造在两坐标系下的一个新点,将两个坐标系平移到该新点,从而消除平移参数。利用此时的三点坐标可以方便地求得两坐标系间的旋转矩阵,由旋转矩阵可进一步求得旋转角和平移参数;另一种方法是先通过已知的三点构造出一个新的坐标系,通过该坐标系可计算出待求的两坐标系及其旋转参数,从而求得待求两坐标系间的旋转参数。最后,通过旋转参数可计算出平移参数的概略值,并试验验证了两种方法的正确性。     

新型半导体导电类型判别仪设计与研制

在详细分析金属和半导体接触的整流理论基础上,通过增加补偿二极管、保护电路和数码显示电路改进了传统的三探针整流法,设计了一款用于对半导体材料导电类型判别的测试仪,实际运行结果表明该测试仪具有准确度高、电路结构简单、操作简便、成本低等特点,可满足实际生产和教学的需要.     

无电阻CMOS带隙基准电压源的设计

设计了一种高准确度无电阻的带隙基准电压源。该电路采用差分结构的电压传输单元来代替电阻,并且没有使用运算放大器,从而避免了运算放大器所带来的高失调和必须补偿的缺陷。电流源采用共源共栅结构,提高了电源抑制比。增加了启动电路,保证电路可以正常工作。在0.6μm CMOS工艺条件下,电路的各项性能指标采用Sm artSp ice进行模拟验证,结果表明有效温度系数可以达到6×10-6/℃,电源电压从3.8 V变化到5.5 V时,输出的基准电压波动不到3 mV。     

基于遗传进化算法反演吸波结构电磁参数

对多层吸波结构中未知参数层的电磁参数进行了反演.根据传输线理论确立的多层结构电磁参数与反射/透射系数的关系,建立正向反射率计算模型,根据自由空间法原理搭建的测试平台测量得到多层吸波材料不同入射角度下的反射率信息,利用改进的遗传进化算法获取了多层吸波结构中未知参数层的电磁参数.在遗传进化过程中,采用高斯随机数代替基本遗传算法的均匀随机数,避免了传统网络参数法厚度谐振、多值性问题和基本遗传算法易陷入局部最优点的问题.与传统传输/反射法结果的比较,验证了这种方法的可靠性.这种方法同时适用于计算高、低损耗介质材料的电磁参数.      

刻线量规的设计、制造与测量

通过将量规刻线的中心间距标注改为异名边间距标注之后，统一了刻线量规的设计基准与测量基准，消除了设计基准与测量基准的不一致，从而缩小了被测工件公差的影响。并且，通过由刻线深度控制刻线宽度的方法，实现了刻线量规异名边间距的精密刻线，从而打破了刻线量规不能用于公差小于０．５ｍｍ工件测量的禁区，扩大了刻线量规的应用范围。