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本文分析了1981年4月27日的一个特大高能爆发。它在硬X射线(HXR)、γ射线和微波(MW)记录上显示一一对应的多脉冲结构。文中讨论了这些脉冲的寿命、时延与HXR的能量、MW的波长之间的关系,发现时延量与湍动加速所预期的值相符合。提出了各脉冲期间的谱呈软→硬→软的演化,可能是由高能电子受到加速的看法。还对产生HXR的高能电子的谱指数、电子总数和MW源区的磁场也作了估计。 相似文献
267.
本文计算、分析了太阳耀斑加速电子在日冕中传输时激发的等离子体尾场的效应,认为耀斑电子的高能成份激发的尾场,能够加速低能耀斑电子,低能耀斑电子的能量增值可达几十keV至上百keV,这种尾场加速将软化约100keV以下的能量范围内(探测阈之上)的耀斑电子能谱。结合考虑尾场效应,本文提出了太阳耀斑加速电子从加速区到形成电子事件之间的能谱演化模式,说明了太阳纯电子事件的双幂律电子能谱和太阳质子-电子事件的单幂律电子能谱的形成,认为两类事件的电子能谱差异为耀斑电子日冕传输中不同程度的尾场效应所致,前者尾场效应弱,电子能谱呈双幂律,后者尾场效应较强,电子能谱为单幂律谱。 相似文献
268.
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针对胚胎电子细胞阵列中测试结构与故障检测和定位方法受电子细胞和阵列结构限制较大,故障检测和定位能力有限,硬件消耗大等问题,提出一种由可配置边界扫描结构和可配置内部扫描结构组成的新的测试结构。基于这种测试结构,提出了寄存器传输级故障检测和细胞级故障定位相结合的故障检测和定位方法。仿真实验以s27电路为例,详细介绍了故障检测和定位的具体过程并对测试结构的硬件消耗进行了分析。仿真和分析结果表明,本文方法可有效检测并在细胞级定位故障,而且随着阵列规模增大,测试结构的硬件消耗所占比例明显下降,适用于大规模胚胎电子细胞阵列。 相似文献