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971.
采用随机方向探索法对中框架进行优化设计,实现比较高的中框架轴系的一阶扭转频率,并对有限元理论计算值和实验测试值对比,证明本优化方法是可行的。 相似文献
972.
基于各向异性和非线性正则化的湍流退化图像复原 总被引:11,自引:2,他引:11
提出了一种基于各向异性和非线性正则化的湍流退化图像复原新算法。为了有效地从湍流退化图像中估计出退化模型,在湍流点扩展函数的优化估计过程中合理地融合了有关湍流点扩展函数的一些基本的先验知识。首先,将点扩展函数的非负性和光滑性约束加入到目标函数中。再针对湍流点扩展函数的衰减性质,建立了一个具有非线性和空间各向异性的正则化函数,使其在重建点扩展函数时能适当地进行空间梯度平滑。由此通过迭代极小化目标函数来优化估计湍流点扩展函数值,进而恢复图像。对各种噪声条件下的湍流退化图像进行了恢复实验,实验结果表明本文算法具有较强的稳定性和抗噪能力。 相似文献
973.
基于航天TDICCD相机像移分析的PSF估计及图像复原算法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
根据时间延迟积分电荷耦合器件(TDICCD)特殊的工作原理,分析了其产生像移的原因 ,基于对TDICCD像移的分析估计出模糊图像的点扩散函数(PSF)。根据TDICCD像移产生的机 理,建立了图像退化的数学模型,并在功率谱均衡复原算法的基础之上提出了像移复原滤波的 数学表达式,对运动模糊图像进行了半盲恢复,通过Matlab仿真证明了图像复原算法的可行 性和有效性。
相似文献
相似文献
974.
975.
976.
977.
工艺偏差对压阻式硅微压力传感器性能的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
工艺实践表明,采用体硅湿法刻蚀工艺加工压阻式微型压力传感器时,敏感膜片会存在厚度偏差,电阻条偏离应力最大区域导致位置偏差,电阻条偏离期望的[110]晶向造成角向偏差.结合工艺实验并借助有限元法分析了上述几种主要工艺偏差对灵敏度、线性度等性能的影响.研究表明,2μm的厚度偏差会使灵敏度下降大约10%,线性度会明显下降;位置偏差会使敏感元件偏离应力最大区域而降低灵敏度:5°的电阻条角向偏差会使灵敏度下降大约3%.相关研究可为最大程度减小工艺偏差的影响提供参考依据. 相似文献
978.
979.
用线扫描方法研究某种型号的3cm卡夫曼离子源的稳定性,先介绍了线扫描法估计去除函数的方法以及其数学模型,用线扫描法扫描两块微晶镜面,估计出在不同时间的去除函数,分析去除函数的波动情况来考察离子源稳定性。结果表明该种型号的3cm卡夫曼离子源具有很好的稳定性,满足光学镜面加工要求。 相似文献
980.