利用激光片光技术进行双三角翼剖面流动显示研究

进行双三角翼翼面流动显示研究的目的是为了揭示前、后翼脱体涡的干扰机理和详细结构,进而达到控制表面涡分离的目的,并为计算流体力学建立数学模型提供依据。介绍了采用激光片光技术在风洞中进行双三角翼剖面流动显示研究的广泛和主要结果。研究表明,在较大攻角下,由于后翼涡的强度远远超过前翼涡的强度,后翼涡对前翼涡的诱导作用比前翼涡对后翼涡的诱导作用强,最终两涡将合并在一起,成为单一的旋涡。试验给出了很好的涡结构     

一种非介入式高超声速边界层不稳定波的测量方法

地面风洞实验是开展高超声速边界层转捩研究的主要手段之一,但是目前可用于高超声速边界层三维空间测量的实验技术仍极为缺乏,且已有测量技术的动态响应频率普遍较低。基于光的折射和干涉原理,搭建了一套非介入式聚焦激光差分干涉仪测量系统（Focused Laser Differential Interferometry,FLDI）,可有效获取三维流场空间点的密度变化。在马赫数为8的常规高超声速风洞中,使用FLDI开展了来流雷诺数107/m、7°半锥角尖锥标模边界层的不稳定波测量实验。结果显示FLDI成功捕获到频率在327 kHz的第二模态不稳定波及其谐波（645 kHz）。通过与PCB测试结果进行对比,FLDI的高信噪比、高解析频率（本文实验有效解析频率1.5 MHz）、高空间分辨率（沿流向小于1 mm）等优点得以体现。鉴于FLDI的高时空分辨率等优良特性,其可用于高超声速边界层不稳定波行为以及感受性等问题的研究,为深入认识高超声速边界层转捩机制以及感受性问题提供了有效手段。     

对激光近炸引信的干扰技术研究

激光近炸引信对抗技术主要采用高重频激光有源干扰技术，由激光干扰机对来袭导弹发射超高重频激光干扰脉冲，使激光干扰信号在远距离上提前进入激光近炸引信的接收视场，以压制真正的目标回波信号，形成有效的距离欺骗，使激光近炸引信的信号鉴别与选通系统产生误判，而提前输出起爆信号，引起导弹的早炸，达到保卫被攻击目标的目的。还可采用激光无源干扰技术和强激光致盲干扰技术，或阻断激光近炸引信的光路传输，或形成空中假目标，或将激光近炸引信的光电探测器致盲。     

乌克兰即将完成海盗反坦克导弹的研制工作

乌克兰于7月26日宣布其已经完成海盗反坦克导弹的进一步测试工作,并预计能够在今年内完成该反坦克导弹的研制工作。海盗反坦克导弹采用肩扛式发射,配装激光半主动导引头,可以用来攻击静止和移动的装甲目标,包括主战坦克,装甲人员运输车     

130nm体硅反相器链的单粒子瞬态脉宽特性研究

针对130 nm体硅反相器链,利用脉冲激光和重离子实验研究了目标电路单粒子瞬态（SET）的脉宽特性,并分析了电路被辐射诱发的SET脉宽特性受激光能量、重离子线性能量传递（LET）值、PMOS管栅长尺寸等因素的影响机制。重离子和脉冲激光实验结果类似,均表现为随激光能量、LET值的增加,电路被辐射诱发的SET脉宽逐步增大,且表现出明显的双（多）峰分布趋势,但辐射诱发的SET脉冲个数呈先增加再减少规律。此外,实验结果表明,在不同激光能量、LET值下,PMOS管栅长尺寸影响反相器链SET脉冲的特征不同。当激光能量、LET值较低时,PMOS管栅长尺寸大的电路产生的SET脉宽较大,而当激光能量、LET值较大时,PMOS管栅长尺寸小的电路反而产生更宽的SET脉冲。分析表明,较高激光能量、LET辐照时,寄生双极放大效应被触发可能是导致PMOS管栅长尺寸影响电路SET特征差异的主要原因。      

级间开缝间隙传感器动态测试方法研究CSCD

针对某型号分离面间隙传感器的测试要求,提出了一种间隙位移传感器的动态测试方案,设计了测量系统,通过激光测试法测量并记录级间开缝间隙传感器CI1-27在自由弹出状态下的输出响应。经应用,该方法操作便捷,数据可靠,为间隙传感器的动态测试提供了一种新的参考。     

刀具编码的激光自适应标刻技术

针对激光标刻刀具编码时出现的标刻效率低、标刻质量不稳定、危害工人身体等问题,提出了一种自适应标刻技术.设计了特定结构的输送机和V型块,配合光电开关的检测功能实现自适应传送刀具;设计了使不同刀具在抓取后轴线处在同一位置的机械手爪,以保证不同刀具端面都能快速定位到激光头标刻区域;利用机械手的快速移动,采用了光电开关辅助对焦来提升对焦的速度和精度.在这3项关键技术支持下,完成了整个方案的设计.样机的测试结果表明,相比传统标刻方式,自适应标刻技术能将标刻效率提升4倍以上,保证标刻编码质量稳定可靠,实现无人化标刻.      

激光相变热处理工艺参数计算

根据热传导理论，用规一化三维导热公式计算出一组无量纲曲线并给出一个简单实用的导热计算方程。在均匀强度矩形光束（ＵＩＲＢ）辐照情况下，用该方程和相应曲线可方便地确定具有三维计算精度的相变热处理工艺参数．