飞机环控系统可靠性设计与评价

利用可靠性预计与分配、FMECA分析、FTA分析方法阐述了某型飞机环控系统可靠性设计的过程,重点介绍了环控系统中满足非指数分布的产品进行综合应力下的可靠性鉴定试验,对环控系统进行可靠性设计与评价。并以环控系统为例,提出非指数分布下产品可靠性指标的评价方法。     

独立指数分布期望参数的Γ极小极大估计

在参数的部分先验信息已知的条件下所获得的Γ极小极大估计是一种介于有确定的先验分布函数的Bayes估计和无先验信息的极小极大估计之间的估计方法,因而更切合实际.以往的研究对二项分布参数的线性组合及负二项分布的参数在某些限制条件下的Γ极小极大估计做了讨论.本文给出了独立指数分布的期望参数在一般的先验矩限制下的Γ极小极大估计,同时讨论了两种特殊情况,即给出了在仅有先验二阶矩限制下的以及有确定的先验一阶矩和二阶矩限制下的指数分布的期望参数的Γ极小极大估计.     

指数分布的l个未来样本的顺序统计量的单边联合预测系数表

给出了过去样本为Ⅱ型截尾样本时，指数分布的l个未来样本的顺序统计量的单边联合预测下限的预测系数的数表．并用数值例说明其应用。     

双参数指数分布l个未来样本的顺序统计量单边联合预测系数表

对过去样本为Ⅱ型截尾样本．给出了双参数指数分布l个未来样本的顺序统计量单边联合预测下限的预测系数数表，并用数值例说明了数袁的应用。     

F分布之商及其对统计预测的应用

介绍了两个相互独立的F分布之商的G分布的定义、性质及其对正态分布样本方差比预测、指数分布样本均值比预测、指数失效/维修时样本可用度预测的应用。     

关于指数分布的MLP与SLP的讨论

对指数分布、双参数指数分布的无替换与有替换的Ⅰ、Ⅱ型截尾样本．给出了单样、双样预测的MLP（极大似然预测子）,对Ⅰ型截尾样本还给出了LP（简单线性预测子）。     

贮存寿命为指数分布时产品贮存期评估方法的研究比较

首先介绍了当贮存寿命为指数分布时贮存期的两种评估方法,非随机置信限法和随机置信限法;并分别用两种方法对某型号进行了贮存期评估。从评估结果看,非随机置信限法评估结果保守,不适用于目前工程实际应用;而随机置信限法比较接近实际情况,能够反映产品直实寿命。     

TypeⅡ试验下ε（λ,μ）分布位置参数的EB估计

讨论了在ＴｙｐｅⅡ（无替换定数截尾）试验方案下，当产品寿命为双参数指数分布时，位置参数μ的经验Ｂａｙｅｓ（简记ＥＢ）估计及其收敛速度问题。设受试验产品有ｎ个，试验中前ｒ个产品依次出现的失效时间为     

可靠性最后增长模型的统计分析方法

文献[1]结合导弹研制的实际情况,提出了成败型可靠性最后增长模型。本文进一步给出了指数分布和三项分布可靠性最后增长模型的Bayes统计推断方法,导出了最末阶段可靠性Bayes限的精确解和近似解,并讨论了联合验前密度中参数的选取和假设检验问题。     

几种256Kbit SRAM芯片的单粒子翻转规律

给出了实践４号（ＳＪ－４）星载ＩＤＴ７１２５６Ｄ高速ＣＭＯＳ静态存储器和ＨＭ８８３２异步静态存储器单粒子事件（ＳＥＵ）的总翻转率,器件类型翻转率,逻辑状态翻转率,并与国外某些卫星的监测结果进行了比较。另外对部分ＳＥＵ数据进行了统计分析,给出了ＳＥＵ的片上地址和到达时间差的分布规律及拟合曲线。