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161.
多层快速多极子算法的改进措施   总被引:5,自引:1,他引:5  
刘战合  武哲  周钧  高旭 《航空学报》2008,29(5):1180-1185
 为精确求解散射问题,采用混合场积分方程(CFIE)、多层快速多极子算法(MLFMA)和共轭梯度算法(CG)的收敛技术。基于传统多层快速多级子算法,详细研究了二维拉格朗日插值节点数对计算精度的影响,并改进了插值方法,在不同的层采用不同的插值节点数;提出了在不同的层采用不同的精度控制来计算多级子模式数;分析了稀疏矩阵的对称性对内存使用的影响以及磁场积分方程对迭代初始值的选择。数值计算结果表明以上改进可较大幅度地提高计算精度和计算效率,同时降低内存使用,可满足复杂目标电磁散射计算要求。  相似文献   
162.
郭嘉  罗晔 《航空计测技术》1995,15(1):10-11,28
应用激光技术测量流体速度时,需要合适的散射粒子。本文研究了激光三维粒子动态分析仪(3D-PDA)测量2相流场速度时,如何选择合适散射粒子的问题。研究结果表明,散射粒子的合理选择是保证测量精度的重要措施之一;测量湍流脉动较强流场时,应选用密度小、直径小、折射率大的粒子作散射粒子,并选择合适的粒子散播浓度。  相似文献   
163.
本采用多个相同的内涡合螺旋式空气雾化喷咀,将喷咀喷射的液雾逐渐迭加,得到了稠液雾中修正系数随遮光率,索太尔平均直径及尺寸分布指数变化的实验数据,应用统计方法拟合出了实用的经验关系式。这经验关系式与实验数据符合很好,可用来对工程实际应用中遇到的稠液雾问题进行了很好的修正。  相似文献   
164.
研究了激光陀螺反射镜基片表面粗糙度和波度前、后向散射的测量计算及其对散射的影响。研究结果表明:在同样的精度下,表面粗糙度比波度对散射的影响更大.因此.提高表面粗糙度的精度是降低激光陀螺反射镜或其它超高反射率镜面散射损耗的主要途径。  相似文献   
165.
 本文采用Fourier积分变换,将层状介质的弹性波传递矩阵法推广到含有平面交界裂纹层状介质的弹性渡散射问题,进而把散射问题转化为求解矩阵形式的对偶积分方程。作为特例,文中给出单一弹性层与半空间平面交界裂纹的弹性波散射远场模式,并计算几组不同材料组合情形下的远场模式幅频特性曲线,其数值结果表明幅频特性曲线有共振峰存在。  相似文献   
166.
为给高超声速再入尾迹亚密湍流雷达散射分析提供所需的脉动背景场参数 ,本文提出计算非平衡再入湍流尾迹脉动等离子体场的理论方法。在研究高超声速尾迹流动特征的基础上 ,推导、使用包括化学组份浓度脉动强度的k ε g湍流模型 ,用以封闭高超声速尾迹雷诺平均控制方程 ,并用全隐式有限差分求解。以M∞ =2 1 .2 6、Re∞D =1 .33× 1 0 6的小钝锥体流动为例 ,得到的结果说明 :流场的流向和径向参数分布合理 ;在转捩点后较近距离内湍流脉动影响较大 ,随着向下游流动脉动影响迅速减弱 ;本文计算尾迹湍流脉动等离子体场的方法是可行的  相似文献   
167.
通过试验对常规外挂物以及低RCS战斗机挂装常规外挂物的散射特性进行了研究,指出如果外挂物不采取隐身措拖,它在挂装到低RCS战斗机或隐身战斗机上以后,可使后者的RCS差不多恢复到常规战斗机的水平,从而完全失去隐身设计的意义。研究了常规外挂如导弹、炸弹、副油箱的散射特性,分析了产生RCS的散射源。对常规外挂物上的不同部位涂敷吸波材料进行了测试,提出了在弹身、弹翼上涂敷吸波材料以降低其镜面RCS,在弹身上涂敷环状吸波材料以减小行波回波的各种RCS减缩设计方法。  相似文献   
168.
    
为了找到一种获得K-π相移的有效方法,并从格点计算得到的能级中获取K*介子的性质,首先使用手征幺正理论研究了有限体积中的P波K-π相互作用.这种方法曾在无限空间中成功地应用于计算K-π相移.然后用这种方法计算得到作为立方体盒子尺寸和π介子质量的函数的P波K-π散射振幅的能级;并计算了K-π散射的相移以及基于该结果的K*介子的物理性质.最后,为了和格点量子色动力学(QCD)计算结果进行比较,又在π介子取非物理质量时计算得到了K*介子的能级.比较表明:文中方法与格点QCD得到的结果基本一致.当介子能量为266 Me V时,本文方法得到的两个能级分别为924.0 Me V和1 483.0 Me V,其结果与格点QCD得到的915.6 Me V和1 522.3 Me V的两个能级符合得很好.  相似文献   
169.
以先进积分方程模型(AIEM)为工作模型,从理论上系统分析了随机粗糙面的双站散射特征,探讨了不同粗糙程度下散射系数在方位平面上的谷点位置,并利用数值仿真模拟、实测值对理论预测的散射系数进行了说明与验证.结果显示,散射系数在方位向上的谷点位置与粗糙程度和极化特征密切相关.利用数值仿真模拟,可从物理的角度更系统深入地分析统计粗糙表面的散射特性,从而有利于设计以后的更有效的双站探测模式.   相似文献   
170.
在片S参数测量系统在半导体行业裸芯片测量中得到了广泛的应用,但是国内在片S参数测量系统无法有效溯源的现状影响了高端裸芯片产品的研发进度。为了建立该类系统的校准能力,本文研制了微带形式的在片校准件、在片传递标准件和在片检验件三类标准样片,搭建了高准确度的在片S参数传递标准件定标系统,通过HFSS仿真方法使得在片S参数溯源至几何量基准,最终建立了在片S参数测量系统中传输参数的计量校准能力,为最终完成在片S参数测量系统校准奠定了技术基础。  相似文献   
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