等效导纳模型分析航天器VHF/UHF频段屏蔽效能

针对VHF/UHF频段航天器舱体屏蔽处理难度大的问题,提出一种基于等效导纳模型的屏蔽效能分析方法。该方法将屏蔽舱体孔缝等效为波导结构,基于变分法原理建立水平电容和垂直电感模型,对参数失配和舱体厚度影响进行导纳匹配和孔缝宽度参数修正。采用传输线理论建立屏蔽效能分析数学模型。算例对比表明算法具有较高的分析精度,可有效分析孔缝不位于舱体中心位置和孔缝长度非波长整数倍时的屏蔽效能,并可准确预测舱体的谐振效应。将其应用到航天器舱体屏蔽效能分析中,对比结果表明算法可有效满足工程应用要求。     

强γ射线参考辐射场散射影响研究

采用蒙特卡罗程序MCNP对强γ射线参考辐射场的散射特性进行了模拟,确立了辐射场实验空间内的剂量率和能谱分布。通过多种角度对屏蔽墙散射和在束散射体散射进行了细致的分析,为校准实验室钴源辐射场的实验应用和屏蔽设计提供参考。     

载人深空探测磁场主动辐射防护技术研究

基于单粒子轨道理论和蒙特卡洛方法建立了一种磁场主动屏蔽防护分析方法,针对理想磁场构型分析了屏蔽磁场强度、厚度和结构对屏蔽效果的影响。研究结果表明：屏蔽效率随磁刚度BL增大且当磁刚度BL一定时,增加磁场强度B比增加磁场厚度L更有效;对于有限长屏蔽磁场构型,端盖区需加强防护;桶状区与端盖区采用直线型屏蔽磁场的构型防护效果最好,能够对典型银河宇宙线能谱屏蔽90%的高能粒子。     

卫星地面测控站的防雷技术

雷电是大气中带有大量电荷的雷云放电的结果,落地雷强大的雷电流可达数十至数百千安培。由于卫星测控站的天线通常是附近最高的建筑物,在雷雨季节容易招引雷电。文章在对卫星地面测控站的多起雷击事故进行调研统计的基础上,分析得出测控设备遭受雷击的原因,讨论了卫星地面测控站的防雷击理论和接地技术,提出测控站防雷击措施,主要包括等电位接地、等电位连接、机房电磁屏蔽、合理布线等。     

飞行器外部电磁环境分析与辐射安全裕度试验方法研究

辐射安全裕度是系统级电磁兼容性的关键指标,是保证系统能够在使用环境下正常工作的前提。从安全裕度的定义出发,分析外部电磁环境对于系统安全裕度的重要意义,指出现有辐射安全裕度试验方法的缺陷。提出用于评估外部电磁环境的两种方法,并指出考虑外部电磁环境后辐射安全裕度测试的难点。文中还分析了系统对外部电磁环境的感应特性,提出一种新的辐射安全裕度测试方法,降低了测试难度,使安全裕度测试更加全面、有效。     

机体屏蔽特性测量

飞机经常在恶劣的电磁环境中飞行,为使机内的设备不受损害,除了保证机载设备具有足够的抗干扰能力外,还应提高蒙皮的屏蔽效能。本文在分析机体屏蔽特性的基础上,着重讨论了飞机屏蔽效能的测试方法,并介绍了提高机身屏蔽效能的设计措施。     

航空用石墨烯改性铝电缆导体研制进展

飞机电气化、信息化程度的不断提高,对航空电缆提出了更高的要求,常规铝导体的性能不能满足新型航空电缆对轻质、高强、高导电性能的需求。石墨烯具备极高的强度和导电率,是理想的高强高导改性材料。首先对比了现有电工铝和电工铜在力学性能和导电率上的差距;随后讨论了石墨烯优异的力学和电学性能;最后综述了石墨烯在改善铝基体力学性能和电学性能方面的研究进展。结果表明,采用粉末冶金、连铸连轧等制备工艺,石墨烯能有效提高铝基体的拉伸强度,同时有望保持延伸率不降低,但也会使导电率降低0.5%～4%;只有实现石墨烯在铝基体中的连续分布,才能充分发挥出石墨烯高导电率的优势,提高铝基体的电学性能。采用粉末冶金和连铸连轧等工艺手段,牺牲少量导电率,通过石墨烯大幅提高铝导体的力学性能,从而满足航空电缆的相关需求,将具备广阔的应用前景。     

某控制组合电磁发射超标分析及解决方案

本文针对电磁兼容测试中,传导发射和辐射发射超过标准限值要求问题,首先介绍了发射超标主要原因,继而梳理超标定位方法和常用电磁兼容加固措施。并以某控制组合为例,应用上述方法制定排查方案,完成电磁发射测试超标问题的干扰定位;并针对干扰源,使用线缆添加屏蔽层、电源端口添加滤波器等加固措施,经验证,措施有效,发射明显降低。同时,本文所述排查方法和加固措施,可为后续电子产品电磁兼容性设计和通过测试提供参考。     

空间电子设备辐射屏蔽方法的研究与软件实现

研究了空间电子设备辐射屏蔽分析的方法,利用计算机辅助设计(CAD)技术和软件开发工具,将复杂繁琐的计算过程编写成流程化的程序;利用三维CAD技术的二次开发功能,从Candence软件生成的记录文件中提取出信息,在计算机图形环境中高效自动地生成电路板模型;借助计算机交互技术,实现剂量点坐标的自动提取和保存;利用办公软件个性化设置功能,设计出提取背景信息的接口,实现了最终报告文档的自动生成.开发出的软件最终成功地实现了在不同结构和布局的空间电子设备中,在不同方向和位置上累积的空间带电粒子剂量值的计算,为电子设备结构的抗辐射设计提供了参考和依据.