太阳质量损失对行星轨道的影响

本文利用Ｇｙｌｄｅｎ－Ｍｅｓｈｃｈｅｒｓｋｉｉ方程和Ｅｄｄｉｎｇｔｏｎ－Ｊｅａｎｓ定律，讨论太阳质量损失对行星轨道的影响，结果表明由于太阳质量损失会产生轨道半长径α的一阶周期项和二阶混合项；近日点角距ω的一阶周期项、二阶长期项和混合项，行星轨道半长径的长期变化会影响太阳系的稳定性。     

碱性体系锌—镍合金电沉积的研究

本文介绍了一种新型的碱性体系锌-镍合金电镀工艺。本工艺镀层光亮、镀液稳定、组成简单及维护方便,能在很宽的工艺范围下能镀出含镍量为11～15％的锌-镍合金。镀层具有高耐蚀性及低氢脆性。对电沉积机理也作了必要叙述。     

TiAl基合金表面低真空制备SiO_2涂层的工艺研究

为解决Ti Al基合金在750℃以上的抗高温氧化性能不足的问题,提出了采用溶胶凝胶法在其表面进行低真空制备SiO_2涂层的工艺方法。本文研究了涂膜次数对涂层表面形貌的影响,并对涂层厚度,涂层结合力,热处理后Ti Al基体抗高温氧化性等方面进行了研究,从而确定了低真空制备SiO_2涂层的可行性工艺方案。涂膜次数三层时,在Ti Al表面可以获得良好附着力和致密性高的SiO_2薄膜;在800℃高温氧化测试中,未涂膜试样氧化8h后增重2.333mg/cm2,三层涂膜试样氧化504h氧化增重仅为0.2143mg/cm2且表面没有出现剥落现象,大大提高了基体的抗高温氧化性能。     

51区迁移之谜

在51区外试飞秘密航空武器 提起51区，大多人都知道这是美国秘密航空武器的试飞基地，随着基地上空不准飞机飞越，使它变得更加神秘。但是最近传出试飞基地从51区搬家的说法。以《大众机械师》杂志为例，在封面上赫然写着“新51区”字样，读了内容才知道说的是新航天飞机X－33的开发。这种航天飞机能够垂直上升，     

太空茶叶中矿物质及抗氧化营养成分的溶出特性研究

为研究航天工况下绿茶及红茶中钙、镁、钾、钠、γ-氨基丁酸(GABA)、没食子儿茶素没食子酸酯(EGCG)、没儿茶素没食子酸酯(ECG)溶出特性,以太空绿茶及太空红茶为原料,采用(65±1)℃去离子水模拟太空泡茶程序,梯度冲泡5次,并通过电感耦合等离子体发射光谱法测定钾、钠、钙及镁矿物质营养元素含量,采用液相色谱-质谱法测定EGCG、ECG及GABA相对含量。结果表明：矿物质元素溶出率由高到低为钾、镁、钠、钙,元素溶出率与冲泡次数呈指数函数关系,5次冲泡各矿物质元素溶出率太空绿茶分别为86.98%、44.25%、17.95%和7.17%,太空红茶为93.34%、36.04%、26.19%和5.2%;EGCG、ECG及GABA3种成分溶出量随浸泡次数呈线性降低关系,在相同固液比条件下太空绿茶EGCG、ECG溶出量较太空红茶高,GABA在太空红茶中溶出量较高。     

灌封用硫化硅橡胶空间适用性分析

针对航天器灌封用硫化硅橡胶,研究了其在γ射线辐照前后电学性能及力学性能的变化规律,揭示了引起性能变化的内部状态的变化及性能变化机理,同时也研究了其在空间站和载人舱中应用时的阻燃特性、逸出有害气体情况、抗菌防霉性能。结果表明,总剂量辐照后硫化硅橡胶的红外特征峰峰位和峰强基本上未产生变化,热分解行为也无变化,但绝缘性能增强,力学性能随着剂量的提升先增强后衰减,硬度不断增大然后趋于稳定,阐述了出现这些现象的原因。在载人舱中应用时应注意垂直燃烧特性及对部分细菌的抗菌性能。研究成果可为硫化硅橡胶在航天器中的使用提供参考和指导。     

JL8飞机安装XZG—2型综合告警器的质量控制及管理方法

介绍了ＸＺＧ－２型综合告警器质量控制和管理的方法与措施。     

铌合金硅化物涂层的制备工艺及改进途径

铌及铌合金以其熔点高、耐腐蚀和良好的高温强度成为重要的高温结构材料,但高温抗氧化性能较差是制约其应用的关键问题。本文论述了铌合金高温抗氧化硅化物涂层的研究进展,并阐述了不同制备方法的硅化物涂层形成机理和相应的抗氧化性能,分析了研究中面临的问题,并提出了解决途径。     

DD6镍基单晶涡轮转子叶片失效分析

为了排除某航空发动机DD6镍基单晶高温合金涡轮转子叶片在室温振动试验中发生的裂纹故障,对故障叶片进行了外观检查、断口分析、表面检查、解剖检查、化学成分分析、金相检查、应力分布计算及热模拟试验,确定了故障叶片裂纹的性质和产生原因.结果表明:涡轮转子叶片裂纹为高周疲劳裂纹,叶片局部区域存在异常的γ'筏排组织是导致该叶片产生早期疲劳开裂的主要原因,且附近区域腐蚀过重及结构上处于应力集中区,也促进了疲劳裂纹的萌生及扩展.针对这些故障,建议优化叶片结构并对腐蚀检查进行严格监控,防止出现γ’筏排组织及腐蚀过重现象,从而避免此类故障再次发生.     

一种TiAl合金高温低循环疲劳性能及失效机理

通过对TiAl合金进行总应变范围控制的高温(750℃)低循环疲劳实验,研究双态(Duplex,DP)和全片层(Fully Lamellar,FL)组织形态对TiAl合金低循环疲劳性能和寿命的影响,并采用总应变幅-寿命方程对两类组态TiAl合金低循环疲劳寿命进行预测。结果表明:在相同温度和应变条件下,DP组态TiAl合金稳态迟滞回线对应的平均应力明显低于FL组态TiAl合金稳态迟滞回线对应的平均应力;采用总应变幅-疲劳寿命方程能够准确预测两种组态TiAl合金在750℃下的疲劳寿命,预测寿命基本位于试验寿命的±2倍分散带以内;另外,DP组态TiAl合金的疲劳源区位于试样的近心部,而FL组态TiAl合金的疲劳源区位于试样的次表面,两类组态TiAl合金的高温疲劳失效机理存在明显差异。