灰色系统理论中二维数据序列均值生成的讨论

灰色系统理论中非等时序序列或含有空穴的序列,通常可以用均值生成方法来填补,生成等时序序列。本文研究发现,用非紧邻均值生成方法生成的内点与实际存在有明显的误差,为此讨论了均值生成和有偏生成算法。利用数据序列点的局部凹凸特性来表示数据序列点的特征,提出了采用数据序列点连线的状态选取生成系数的方法。通过对一维数据序列传统均值生成方法的比较,给出了二维数据序列的定义,讨论了在二维数据序列下的均值生成方法,提出了有偏生成算法中生成系数分解的选取方法。     

激波过弯道绕双圆柱流场

采用单曝光光栅干涉或双曝光光栅干涉，研究激波过弯道绕双圆柱传播的微波流场。采用单曝光法，成功显示入射激波到第一圆柱上的反射、绕射，到达第二圆柱上的反射、绕射。在同一底片上采用双次曝光，第一次脉冲记录直道上的平面波，第二次脉冲记录激渡过弯道绕双圆柱流场。这些照片对于研究反射、绕射及它们边界的相互作用是很有用的。     

基于联邦滤波器的新型故障检测结构及算法

提出了一种基于联邦卡尔曼滤波器的故障检测结构,该结构利用各局部滤波器和参考滤波器共有状态之间的残差进行故障检测.并提出了2种故障检测算法:χ2检验法和Elman神经网络检验法.以组合导航系统为例进行了仿真研究,和其它算法相比该算法计算简单、可靠,不但可以快速检测出外部传感器及参考系统故障,且具有很好的容错性能,能快速检测出故障并进行隔离,使融合后系统依然保持较高精度.     

太阳微波爆发频谱事件

国家天文台1.0-2.0GHz,2.6-3.8GHz太阳射电频谱仪从1994年1月和1996年9月投入观测至2000年4月10日记录到太阳射电爆发分别为297个和316个，取得了高质量的高时间分辨率，高频率分辨率的动态谱资料，为研究耀斑各种尺度的时间及空间演化过程提供了丰富的信息，1998年4月15日的共同事件在时间和频率上显示了丰富的幅度和结构的变化。     

用电离层特性参量提取等效风场信息

导出了利用中低纬电离层特性参量获取电离层F层峰区高度上等效风场（包含电场和风场信息在内）的基本方程，并尝试用该方法从电离层特性参量（峰高和临频）提取等效风场信息，利用武汉站DGS-256电离层数字测高仪数据及由美国Massachusetts Lowell大学最新版的剖面反演程序换算得到F层峰高，获得了武汉地区夏季至日点附近，冬季至日点附近，冬季地磁特别宁静的九天和冬季平均等效风场的初步特征，并利用Fejer经验电场模式计算冬季电场引起的垂直漂移，估计电场和风场对武汉地区的垂直等效风场的贡献大小，结果表明：等效风场呈现出白天与夜晚幅度和方向的差异。至日点附近冬季与夏季白天的幅度差异以及明显的凌晨凹陷现象；平均情况下，垂直等效风场幅度和方向的变化主要是由中性风引起，受电场的影响不大。     

典型电离层多普勒记录及其讨论

由于地面电离层多普勒频率偏移测量具有时间连续、设备相对简便等固有特征，它特别适合于扰监测。本文在整理北京大学电离层高频多普勒台站观测资料的基础上，给出了一些典型电离层多普勒效应观测现象，这些现象反映了多普勒的细致分析对电离层形态学研究有其特殊意义。利用IRI模型，对多普勒频移的太阳耀斑效应及电离层不规则结构对多普勒频移的影响进行了模拟计算，理论结果与观测基本一致，从而大体上解释了这些响应的物理机制。论文最后对观测到的一种特殊的记录类型－－S型描迹的具体成因作了详细的分析和讨论，指出在一定条件下，以一定相位速度水平传播的声重波可以产生这类记录，给出了相位速度和振幅等声重波参数与记录描迹形状的关系，这对从多普勒频移记录推演电离层中的波动特征有一定的帮助。     

穿透式冷板的传热分析

对航空电子设备上采用的空心冷板冷却系统的传热特性进行了分析求解，得到了空心冷板稳态温度分布表达工和功率－温度－流量关系式，可作为空心冷板系统的设计依据，建立了空心冷板失效的动态温度模型，得到的温度－时间响应特性可用于评估冷板系统耐热冲击性能。     

异型孔空心叶片壁厚检测的试验研究

发动机叶片的结构型式和制造误差，直接影响发动机的性能和使用寿命。运用超声波法和电涡流法，对两种不同材料和形式的试件进行了试验。电涡流法受到探头直径和试件几何尺寸的影响，测量误差大，超声波法由于存在测量盲区，测量厚度的下限受到限制。但测量值与实际值相关，若对探头加以改进，用于异型孔空心叶片壁厚检测是可行的。     

Charged-particle mutagenesis II. Mutagenic effects of high energy charged particles in normal human fibroblasts.

The biological effects of high LET charged particles are a subject of great concern with regard to the prediction of radiation risk in space. In this report, mutagenic effects of high LET charged particles are quantitatively measured using primary cultures of human skin fibroblasts, and the spectrum of induced mutations are analyzed. The LET of the charged particles ranged from 25 KeV/micrometer to 975 KeV/micrometer with particle energy (on the cells) between 94-603 MeV/u. The X-chromosome linked hypoxanthine guanine phosphoribosyl transferase (hprt) locus was used as the target gene. Exposure to these high LET charged particles resulted in exponential survival curves; whereas, mutation induction was fitted by a linear model. The Relative Biological Effect (RBE) for cell-killing ranged from 3.73 to 1.25, while that for mutant induction ranged from 5.74 to 0.48. Maximum RBE values were obtained at the LET of 150 keV/micrometer. The inactivation cross-section (alpha i) and the action cross-section for mutant induction (alpha m) ranged from 2.2 to 92.0 micrometer2 and 0.09 to 5.56 x 10(-3) micrometer2, respectively. The maximum values were obtained by 56Fe with an LET of 200 keV/micrometer. The mutagenicity (alpha m/alpha i) ranged from 2.05 to 7.99 x 10(-5) with the maximum value at 150 keV/micrometer. Furthermore, molecular analysis of mutants induced by charged particles indicates that higher LET beams are more likely to cause larger deletions in the hprt locus.     

扫描辐射计内光路反射镜中SiO2／Ag薄膜系统的失效分析

SiO_2/Ag薄膜系统是扫描辐射计内光路反射镜的主要组成部分。采用高分辨扫描俄歇微探针(SAM)和扫描电镜分析对SiO_2/Ag 薄膜系统失效进行了较为全面的分析研究。通过扫描电镜观察发现,失效的反射镜表面SiO_2薄膜上存在大量析出物,借助于SAM分析,表明这些析出物主要是银和铜,析出物表面伴随有硫化和氧化。SAM的深度剖面结果说明,有析出物存在的区域,各薄膜层中存在原子间的扩散。文章就反射镜中Ag、Cu、和O的扩散和穿透行为进行了讨论,认为SiO_2薄膜致密度较差是导致反射镜失效的主要原因之一。