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31.
为研究电连接器接触件疲劳寿命的可靠性问题,以某型军用航空电连接器通用接触件插针插孔为研究对象,应用有限元软件ABAQUS计算了接触件单次插拔过程中的接触性能。基于断裂力学理论,根据受力状况建立了接触件疲劳失效物理模型,进而联合疲劳分析软件FE-SAFE建立了接触件疲劳寿命的仿真计算模型。考虑插孔关键结构尺寸制造误差和插孔插针配合误差的随机性,利用蒙特卡罗抽样法随机构造初始装配模型并仿真计算对应的疲劳寿命,进而统计得出了接触件疲劳寿命的分布类型和分布参数,建立了电连接器接触件疲劳寿命的可靠性分析模型。结果表明:所建模型可实现电连接器任意次插拔后疲劳寿命小于许用寿命的可靠度预测,能对电连接器在许用寿命条件下2种误差的许用极限进行有效限定,可为电连接器接触件的可靠性设计、制造和装配提供理论参考。 相似文献
32.
组合导航制导系统的容错技术及特点 总被引:3,自引:1,他引:3
论述了组合导航制导系统的容错设计方案,其中包括INS/GPS(惯性导航/全球定位系统)组合系统容错技术、SINS/GPS/多普勒组合系统的容错技术及INS/GPS/CNS组合系统的容错技术;然后分析了组合导航制导系统的抗故障问题,给出了组合导航、制导系统的故障分类和系统出故障后的运用情况;最后,对其发展进行了展望,并提出了今后有待进一步研究的问题。 相似文献
33.
34.
2017年9月8日发生了一次强磁暴,Kp指数最大值达到8.利用区域电离层格网模型(Regional Ionosphere Map,RIM)和区域ROTI(Rate of TEC Index)地图,分析了磁暴期间中国及其周边地区电离层TEC扰动特征和低纬地区电离层不规则体的产生与发展情况,同时利用不同纬度IGS(International GNSS Service)测站BJFS(39.6°N,115.9°E),JFNG(30.5°N,114.5°E)和HKWS(22.4°N,114.3°E)的GPS双频观测值,获取各测站的ROTI和DROT(Standard Deviation of Differential ROT)指数变化趋势.结果表明:此次磁暴发生期间电离层扰动先以正相扰动为主,主要发生在中低纬区域,dTEC(differential TEC)最大值达到14.9TECU,随后电离层正相扰动逐渐衰减,在低纬区域发生电离层负相扰动,dTEC最小值达到-7.2TECU;在12:30UT-13:30UT时段,中国南部低纬地区发生明显的电离层不规则体事件;相比BJFS和JFNG两个测站,位于低纬的HKWS测站的ROTI和DROT指数变化更为剧烈,这表明电离层不规则体结构存在纬度差异. 相似文献
35.
<正>碳中和的背景我国实现双碳目标面临时间短、碳排放降幅大等一系列难题。根据CEADs(中国碳核算数据库)的统计,2018年我国碳排放为96.21亿吨,从2013年左右开始,我国碳排放上升速度已显著趋缓进入平台期,反映了我国工业化水平已经具备实现双碳目标的基础。 相似文献
36.
M:作为著名的材料学专家,您认为目前我国材料科学研究发展状况如何? 闻立时院士:我国材料科学的现状还是比较好的,有效地抑制了发达国家对我国的技术封锁,为国防和经济发展作出了重大的贡献。在若干领域或若干课题上,走在了世界前列。然而,从材料科学的整体来看,与国 相似文献
37.
38.
电弧离子镀NiCrAlY涂层高温氧化行为 总被引:3,自引:0,他引:3
采用电弧离子镀技术在铸造镍基合金上沉积NiCrAlY涂层,涂层均匀、致密与基体结合良好。测定了K17合金和NiCrAlY涂层在900~1700℃的氧化动力学曲线,试验结果表明: K17合金和 NiCrAlY涂层在不同温度静态空气中氧化动力学曲线基本符合抛物线规律。900℃和1000℃时,K17合金上沉积NiCrAlY涂层后,明显改善了合金的抗氧化性。1100℃时,涂层的保护作用降低。随着氧化温度升高,涂层和基体之间元素扩散能力增强,Ti从基体扩散到涂层表面形成氧化物是导致涂层抗氧化性降低的原因之一。氧化膜从涂层上剥落下来,也导致了涂层抗氧化能力降低。 相似文献
39.
21世纪对航空电子将面临降低成本,突破“信息障”适应新的作战环境、提高生存率、冲破人文阻力四大挑战。综合化技术、开放式系统结构、新型传感器、数据融合、模块化、先进的武器大控技术、大容量超高速计算技术、智能座舱、仿真等则是航空电子向纵深发展需要解决的关键技术自从1949年“AVIONICS”这个词出现至今已整整半个世纪,其发展趋势呈指数曲线上升。特别是最近20年,随着微电子、计算机和信息技术的发展及需求牵引,航空电子得到了飞速发展。就机载雷达而言,其探测距离由几千米延伸到近200千米(预警机可达400干米);从单目… 相似文献
40.
21世纪的航空电子将面临降低成本,突破“信息障”适应新的作战环境、提高生存率、冲破人文阻力四大挑战。综合化技术、开放式系统结构、新型传感器、数据融合、模块化、先进的武器火控技术、大容量超高速计算技术、仿真等是航空电子向纵深发展需要解决的关键技术 相似文献