符合CCSDS标准的RS(255,223)码译码器的FPGA实现及其性能测试

RS（Reed-Solomon)码是差错控制领域中一种性能优异的非二进制分组循环码，由于它具有很强的随机错误和突发错误的纠错能力，被CCSDS，NASA，ESA等空间组织接受，广泛应用于深空探测中．本文采用改进的Berlekamp算法，用FPGA实现了符合CCSDS标准的RS(255，223)码译码器；介绍了该译码器的实现流程、性能测试方法和基于PCI总线接口的测试平台；给出了测试结果，并且对理论上RS(255，223)译码器的误码性能与实际测试的误码率结果进行了比较和分析．验证结果证明该译码器能工作在400Mbps以上的码率，使用FPGA资源180000门，译码效果与理论上译码效果一致．     

大型转动机械碰摩故障分析的声发射检测系统

汽轮发电机、空气压缩机等采用油膜支撑的大型转动机械,由于安装或运行中的原因,在转子旋转过程中,可能和器壁发生轻微的摩擦和碰击,简称碰摩.声发射技术在碰摩发生特别是故障早期诊断上有优越性.本系统的特点是没有沿用传统的计数、幅度、能量和持续时间等声发射特性参数,而是在声发射包络信号的频率分析中进行特征提取.声发射发生的过程分析和现场试验都表明这种方法对碰摩检测很敏感,在碰摩发生的起始阶段,包络谱中与转速同步的周期性分量显著增加.根据这种新的设计思想自行研制了BUAA碰摩声发射检测仪并对此作了介绍.     

行星际空间MHD模拟激波跃变关系分析

分析了模拟得到的可以传播到1AU以远的日地空间磁流体力学激波与Rankine-Hugnoniot跃变关系的符合程度．通过对模拟激波的结构及其在传播过程中的演化进行的分析，提出了模拟激波的定位方法；基于所提出的定位方法，利用向长青提出的确定MHD激波局地参数的方法计算了模拟得到的激波与Rankine-Hugnoniot跃变关系的偏差．结果表明在激波传播到100Rs以后，激波对中前向快激波与Rankine-Hugnoniot关系的符合达到很高的程度，相对误差在10^-2数量级以内；并且在激波传播到150 Rs以后，相对误差在10^-3数量级以内．这个结果说明文中所使用的有限差分数值格式能较好地模拟激波．     

直接数字式合成技术之研究

直接数字式合成(DDS)技术,是近几年来发展迅速的一种频率合成新技术。DDS具有输出相对带宽宽、频率转换时间短、频率分辨力高且输出相位连续、可产生宽带正交信号,易集成等优点。在通信、雷达、遥控遥测、电子对抗、电子扩频以及现代化的仪器仪表工业等许多电子领域显示出广泛的应用前景。本文介绍了直接数字式合成技术的特点及其应用情况,阐述了DDS的基本原理并对其在应用中的一些合成方法做了相互对比。     

线阵CCD平场校正及FPGA实现的研究

为了消除由于照明光源的非均匀性、镜头渐晕及CCD传感器噪声对图像质量造成的不良影响,首先从理论上分析了线阵CCD固定模式噪声和像素光电响应非均匀性的数学模型和产生的原因;对像素光电响应非均匀性这一主要影响因素,根据其光电响应模型提出了CCD像素光电响应非均匀性的两点校正方法,即求解出各个像素光电响应不均匀性的校正因子和暗偏置量系数,进而用以计算各个像素的校正量,实现逐点校正;针对校正算法大数据量、实时计算的要求,设计了基于现场可编程逻辑门阵列FPGA快速实现校正算法的硬件处理结构。最后,通过仿真和实验表明,两点校正方法可以有效地减小CCD像素光电响应不均匀性的图像噪声,提高图像质量,以便做后续精确处理。     

基于FPGA的高准确度数字频率信号源设计

介绍了直接数字频率合成技术的实现方法,分析了其优越的技术特性。根据其特性,利用FPGA设计了高准确度的数字频率信号源。仿真结果表明,与传统的信号源相比,使用该方法实现的信号源,其信号种类多,准确度高,满足测试设备数字化、软件化的趋势。     

快速预热型铷原子振荡器的研制

介绍了一种快速预热型铷原子振荡器的设计方法和试验数据 ,3 5min的锁定时间、0 4 5L的小巧体积和良好的频率重现性能 ,非常适合于战术应用。     

基于连续覆盖特性分析的星座设计

研究了需要对地面目标进行连续覆盖的星座的设计问题．首先推导了对覆盖性能有重要影响的星间覆盖间隔时间和轨道面覆盖间隔时间的计算公式，通过算例针对不同配置的星座进行了计算，使用工程仿真软件STK验证了分析结果．通过理论分析、算例计算以及工程仿真为该类型星座设计提供了理论指导。     

利用MF雷达对耀斑期间电离层D区电子密度的观测研究

利用MF雷达观测资料对X级别耀斑爆发期间在66-80km高度之间的电子密度进行了研究，观测到了耀斑爆发期间电子密度的突然增加，在较低高度上的电子密度的时间变化趋势与耀斑的软X射线辐射通量相关．电子密度的变化强度依赖于具体的耀斑参数，有些耀斑引起的电子密度增加高达400cm^-3，有些仅为100cm^-3左右．但耀斑期间在这一高度区间增加的总电子含量增量仅占耀斑辐射引起的整个电离层总电子含量增量的千分之一左右．最后，利用恢复阶段电子密度的时间变化过程估算了1997年11月4日耀斑期间部分高度上的有效复合系数．     

湿度传感器能力验证活动误差来源分析

本文主要阐述了本实验室在参加由CNAS组织的湿度传感器能力验证活动中,当最终结果报告中出现临界值情况时,应采取的措施:包括分析误差的主要来源,制定相应的纠正措施,并验证结果的过程。