全文获取类型
收费全文 | 5279篇 |
免费 | 998篇 |
国内免费 | 1130篇 |
专业分类
航空 | 3314篇 |
航天技术 | 1440篇 |
综合类 | 910篇 |
航天 | 1743篇 |
出版年
2024年 | 21篇 |
2023年 | 41篇 |
2022年 | 119篇 |
2021年 | 158篇 |
2020年 | 208篇 |
2019年 | 108篇 |
2018年 | 117篇 |
2017年 | 121篇 |
2016年 | 130篇 |
2015年 | 213篇 |
2014年 | 333篇 |
2013年 | 318篇 |
2012年 | 384篇 |
2011年 | 363篇 |
2010年 | 506篇 |
2009年 | 415篇 |
2008年 | 432篇 |
2007年 | 367篇 |
2006年 | 286篇 |
2005年 | 254篇 |
2004年 | 169篇 |
2003年 | 158篇 |
2002年 | 128篇 |
2001年 | 208篇 |
2000年 | 199篇 |
1999年 | 235篇 |
1998年 | 221篇 |
1997年 | 178篇 |
1996年 | 170篇 |
1995年 | 129篇 |
1994年 | 114篇 |
1993年 | 129篇 |
1992年 | 96篇 |
1991年 | 98篇 |
1990年 | 76篇 |
1989年 | 78篇 |
1988年 | 50篇 |
1987年 | 30篇 |
1986年 | 16篇 |
1985年 | 9篇 |
1984年 | 4篇 |
1983年 | 4篇 |
1982年 | 6篇 |
1981年 | 3篇 |
1975年 | 2篇 |
1974年 | 1篇 |
1969年 | 1篇 |
1900年 | 1篇 |
排序方式: 共有7407条查询结果,搜索用时 31 毫秒
921.
在介绍了LXI仪器类型、Non Auto-MDIX含义、Agilent33220A函数发生器性能和功能的基础上,以33220A函数/任意波形发生器的LAN接口设置为例,描述了其LAN接口DHCP,Auto IP,IP Address,SubnetMask,Default Gateway,Host Name,Domain Name,DNS Server,Password等参数的含义、设置方法,介绍了充分利用其提供的接口功能,达到远程控制其输出的方法。该方法达到了通过GPIB控制函数/任意波形发生器的同样效果,利用其LAN接口组建分布式测试系统,对程序设计者具有较高的参考借鉴价值。 相似文献
922.
以Ti粉、Si粉和C粉为原料,利用高能球磨及热压工艺合成了TiC/Ti5Si3陶瓷复合材料。研究了工艺条件尤其是热压温度对合成产物相组成及微观结构的影响,并结合DSC、XRD和SEM对反应合成机理进行探讨。结果表明:通过优化合成工艺,高能球磨12 h,热压温度1 400℃时,烧结6 h得到了高纯度的TiC/Ti5Si3陶瓷复合材料;合成过程为:反应开始时发生Ti+C■TiC,反应ΔG=-167.72 kJ/mol。2 h时发生5TiC+8Si■Ti5Si3+5SiC,反应ΔG=-62.12 kJ/mol,当6 h时发生3SiC+8Ti■Ti5Si3+3TiC,反应ΔG=-697.8 kJ/mol。显微结构表明:TiC/Ti5Si3复合材料的合成过程伴随Si熔融,该材料以TiC-Si-Ti5Si3形式相结合,其中Si为黏结剂。 相似文献
923.
研究了TC17钛合金惯性摩擦焊焊接接头的疲劳裂纹扩展规律,并利用光学显微镜、扫描电镜对材料的显微组织和断口形貌进行分析。结果表明:TC17钛合金母材为α+β网篮状组织,晶粒较大;焊缝区和热影响区内可以看到明显的原β相晶界,焊缝区的原β晶粒较细小,热影响区的原β晶粒较粗大,晶粒内部存在细小的α相。在室温下,当ΔK≤15 MPa.m1/2时,焊缝区疲劳裂纹扩展速率较小,而当ΔK≥15 MPa.m1/2时,焊缝区的扩展速率最大,其次是热影响区,母材的裂纹扩展速率最小;在高温下,焊接接头各部位的裂纹扩展速率相差不大,均小于室温。 相似文献
924.
925.
926.
研究防静电Kapton二次表面镜(ITO/Kapton/Al)、S781白漆两种典型热控涂层,在不同能量电子辐照后太阳吸收比退化情况,并利用X射线光电子能谱和扫描电子显微镜对样品表面的成分和形貌进行了分析。结果表明:相同电子注量下,不同能量电子对样品的太阳吸收比退化作用程度是有区别的。而样品光谱反射率、表面形貌、表面成分的损伤效应类似,说明不同能量电子辐照下,样品的退化机理是一致的。 相似文献
927.
针对电子设备中的铝电解电容在贮存环境下的失效问题,通过对铝电解电容进行湿热贮存试验,考察了湿热环境引起的铝电解电容外观状态和电性能的变化,并对试验中出现的失效现象进行了分析.结果表明,铝电解电容在湿热环境下出现了引脚腐蚀和橡胶塞长霉的失效现象;环境温度对铝电解电容贮存可靠性有重要影响,温度超过40℃引脚腐蚀速度会大大加快.温度在30℃适宜霉菌生长,温度超过30℃后没有长霉现象.阳极箔上的阳极氧化膜被腐蚀是铝电解电容在湿热环境下出现电容量和漏电流增大的原因. 相似文献
928.
929.
930.