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101.
Associating environmental stresses (ESs) with built-in test (BIT) output is an important means to help diagnose intermittent faults (IFs). Aiming at low efficiency in association of traditional time stress measurement device (TSMD), an association model is built. Thereafter, a novel approach is given to evaluate the integrated environmental stress (IES) level. Firstly, the selection principle and approach of main environmental stresses (MESs) and key characteristic parameters (KCPs) are presented based on fault mode, mechanism, and ESs analysis (FMMEA). Secondly, reference stress events (RSEs) are constructed by dividing IES into three stress levels according to its impact on faults; and then the association model between integrated environmental stress event (IESE) and BIT output is built. Thirdly, an interval grey association approach to evaluate IES level is proposed due to the interval number of IES value. Consequently, the association output can be obtained as well. Finally, a case study is presented to demonstrate the proposed approach. Results show the proposed model and approach are effective and feasible. This approach can be used to guide ESs measure, record, and association. It is well suited for on-line assistant diagnosis of faults, especially IFs. 相似文献
102.
103.
提出一种点接触齿轮副,在已知齿面上根据设计需要确定接触迹线,推导其共轭曲线,将齿廓曲线沿共轭曲线扫掠后形成轮齿齿面,构建与已知齿轮正确啮合的配对齿轮,并推导该齿轮副的滑动系数计算方法;以渐开线内齿轮为已知齿轮,设计以抛物线齿面作为轮齿齿面的配对齿轮,进行齿轮样机制造和效率实验研究。结果表明,该齿轮副在啮合过程中时刻保持点接触状态,啮合点沿着理论接触迹线移动,与理论分析一致;滑动系数的大小取决于齿轮两端选取啮入点和啮出点所对应的渐开线参数值范围;实验后齿轮副实际接触迹线与理论接触迹线一致,且效率稳定在97.2%~98.5%。 相似文献
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105.
106.
107.
主要针对渗铝工艺中不同渗铝温度、保温时间对GH4199合金组织、性能影响进行试验,试验结果表明渗层组织由表及里分别为:表层主要为富铝的NiAl相,向内的过渡层和扩散层为富Cr相、碳化物、NiAl相和Ni3Al相等。渗层厚度的变化主要与温度和时间有关,同一渗铝温度下,随着渗铝时间的增加渗铝层深度增加;同一渗铝时间,随着渗铝温度的提高渗铝层深度增加。经渗铝处理后,室温拉伸强度提高,拉伸塑性降低。900℃拉伸强度降低,拉伸塑性提高;持久寿命稍降低,塑性提高。 相似文献
108.
民航科学数据作为民航科技、管理、生产活动产生的原始、基础和分析研究信息,具有巨大的价值。建立民航科学数据体系,实现民航科学数据共享,是民航科技创新体系建设的重要组成部分。本文在研究中国民航科学数据现状和需求基础上,提出了面向全民航的科学数据共享体系,并介绍了民航科学数据中心建设的进展状况。 相似文献
109.
为了解决垃圾块回收以及块重新融合再利用过程占用Nand Flash数据I/O操作中大量时间的问题,提出了FTL逻辑块数据流转图概念,并对垃圾回收触发条件、垃圾块选择方法、垃圾回收的过程进行了算法设计,实验表明算法可以提高Nand Flash的平均寿命,缩短IO运行时间。 相似文献
110.