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541.
本文介绍在压电基片上集成薄膜匹配阻抗的甚高频单片晶体滤波器,以及设计和调整这种器件的独特方法。按照传统的方法,我们从单一谐振开始,其电极尺寸考虑到了未来滤波器的谐振器之间所需的间隙,然后用 YAG 激光将电极分开;谐振器之间间隙的调整,要同时考虑到滤波器的计算带宽和中心频率具有很好的精度。然后,用同一激光微调薄膜电阻,以达到正确的带内波动和需要的3db 带宽。按此方法,能得到对称性很好的通带。这种能够全自动化的加工方法,由于激光光点尺寸很小(约10微米)而很适用于甚高频单片晶体滤波器。而集成电阻降低了外壳和两个末端谐振器引线的寄生电容和电感的影响。最后,讨论了激光输出功率对一些典型参数的影响。 相似文献
542.
直接数字式频率合成采用一种数字码控制的相位累加器。该累加器对包含有所需波形的只读存贮器(ROM)寻址。ROM 依次向数模变换器提供指令,以变换成量化的模拟信号。这种方法由于器件加工工艺(特别是 ROM 和数模变换器)的限制而被列入音频和低频射频信号的合成范围。大规模集成(LSI)器件工艺的迅速发展以及直接数字式电路与间接合成电路的结合将导致兼有两种技术优点的混合电路的设计。本文介绍基本的直接数字式合成器的设计及其与间接锁相环相比较的优缺点。还介绍将两者加以组合来实现兼有两种技术优点的可能方法。 相似文献
543.
本文介绍一种正在研制的自动 X 射线定向系统用于双旋转(即 SC 切)石英晶体片切角的精密测量。研制该系统的目的在于研制一种能够测量一般的φ/θ切角的原型机,其精度对于 SC 切在±10弧秒,对于 AT 切为±6秒,而对于其他切型为±30秒(在θ>0的体波零温度系数情况下)。测量速度至少每小时50片。假定这些晶片都被预切到正确定向的大约1/4°以内。经过选择的设计是设计一台在微计算机控制下的激光辅助的劳埃(Laue)衍射仪。采用劳埃法只要求晶片的运动有一个自由度,因而使设计较为灵活、开阔。 相似文献
544.
监测频率有许多种不同的方法,但其中绝大多数均有这样的缺点,即在监测时,总会把与所需波形同时存在于电路内的固有噪声测出。本文的电路克服了这个噪声问题。它采用的方法是以参考信号的频率对未知频率的信号采样,然后用一个低通滤波器得出被测波形的平均詹。如果输入频率 f_(in)等于参考频率 f_(ref),则在输出端产生一个不等于零的平均值。而如果是 f_(in)≠f_(ref),则各采样值的平均值等于零。除此之外,该电路对噪声是无响应的。它能在100赫至100千赫范围内很好地工作。 相似文献
545.
米是光在真空中在1/299,792,458秒时间间隔里所通过的路程——建议的米的新定义。目前利用原子钟的频率跃迁测量时间可能较之利用光辐射波长侧量距离要准确得多。因此,国际米定义咨询委员会(CCDM)提出的米的新定义为较多地提高米的测定精度开辟了途径。最近科罗拉多州波尔德国家 相似文献
546.
最近研制和测试了一种用于准确测量射频和微波谐振电路的谐振频率和Q值的计算机控制的自动系统。在此系统中,谐振曲线的拐点利用联机数字计算机通过数学计算过程进行识别,并利用它计算谐振频率和Q值。这个系统的主重优点是它的结果与谐振电路谐振频率的性能无关,与信号源的3dB点、幅度、频率漂移无关。也与检测器的不稳定性无关。设计、安装并测试了一种在1—2千兆赫之间工作的试验系统,用实验室小型计算机PDP11/34进行数据采集与处理以及对整个系统的控制。Q值的测量范围在100—1500之间,估计的谐振频率的不确定度为40ppm,Q值为1000的谐振电路的Q值的不确定度为百分之七。 相似文献
547.
交直流电压变换器(以下简称ΠH)是多种测量仪器和装置的重要组成部份。它的基本特征(直线性,精确度,响应速度)常常决定了整个装置的质量。交直流变换器的响应速度受到用来抑制其输出电压中谐波分量(即非信息成分)的滤波器惯性的限制。 相似文献
548.
在频率达到并包含三次谐波厚度切变泛音时,解弹性片Lee-Nikodem运动方程可求出具有自由面和边的AT切石英晶片振动情况的解。 相似文献
549.
关于小型化战术晶体振荡器(TMXO)及其最重要的设计特点,作者从前发表的文章已有论述。本文将介绍早期TMXO样机的工作性能。此外,还谈到一些足以反映采用SC切晶体的最新组件的运用结果,并着重讨论了改变结构能改善内部结构特性问题。最后介绍一种很有用的测试振荡器,用它鉴别晶体质量。概括地说,有关初期TMXO样机的若干鉴定结果表明:样机的几种主要性能指标已经实现。针对尚未达到预定性能的那些指标,已经采取了提高样机性能的改善措施。最近研制的一些样机,均有具体改进,证明了改变结构是行之有效的。 相似文献
550.
本文介绍一种用于精确测量石英晶体谐振频率特性的调相频域反射计系统的概念和工作原理。反射计法容许被测晶体谐振器远置于一环境试验箱中;这系统还能同时而又单独地对任一给定晶体中发生的不同谐振模(例如,SC切晶体中的b模和c模谐振)进行频率测量。这一反射计技木主要适用于对谐振器进行以下基本研究:频率一温度特性的研究;滞后现象和热冲击效应的研究;幅度一频率因数和多模激励特性的研究以及核幅射效应的研究,等等。本仪器也可应用于晶体生产过程,包括自动化生产、测试以及质量控制等。 相似文献