新型航空发动机空气冷却器流动传热性能试验

空气冷却器是航空发动机中空气热量交换的重要场所,针对传统扰动结构强化换热不足问题,重点研究了空气冷却器 中扰动结构的结构形貌特征与流动换热的关系。以三周期极小曲面结构为基础,设计制造了D型极小曲面扰动结构、P型极小曲 面扰动结构和基于Sigmoid函数杂化方法的D-P型（P-D型）结构。并利用纳米CT重构出样品的3维数字特征,试验研究了不同结 构来流速度与压降、换热性能和综合换热性能的关系。结果表明：D型极小曲面结构具有最优的压降、换热性能和综合换热性能： D-P型杂化极小曲面结构的阻力系数f最大,比D型结构的高56.81%;D型的平均努塞尔数Nu比P型的高18.49%,P-D和D-P杂 化结构的换热性能比P型结构的有效提高;P-D型D-P型杂化结构的Nu分别比P型结构的高2%和8.27%。在4种结构中,D型结 构的综合换热性能最优,分别比P型、P-D型、D-P型结构的高40.35%、57.2%、71.02%。     

涡轮叶栅端壁区流动的实验研究

本文在大尺寸低速开式叶栅传热风洞中对一种高压涡轮导向叶栅中的流场进行了实验研究。采用五孔针对5个雷诺数下的叶栅端壁区三维流场进行了测量,并用线簇和小球浮动法对5个工况的流动进行了流场显示。实验结果表明:马蹄涡压力面分支在向吸力面运动的过程中,破坏了来流附面层的结构,在马蹄涡压力面分支之后,叶栅通道中产生了一个新的从压力面到吸力面的新附面层,新附面层的厚度小于来流附面层厚度;三维流动区约占叶栅通道的40%;雷诺数的增大将增强端壁区的三维流动。从流场显示图片可以观测叶片吸力面靠近端壁的角涡形成与发展,以及吸力面上的三角形区域;流场显示的通道涡大小与流场测量结果吻合。本文的实验结果有助于分析端壁表面和叶片表面换热特性的形成机理。      

扰流柱排内换热的实验研究

在来流雷诺数为2000～100000的范围内,对装有扰流柱排的矩形通道内的局部换热系数进行了详细的测量,得到了扰流柱排强化换热的规律,对强化换热的机理进行了探讨。      

多关节坐标测量机结构参数的校准

多关节坐标测量机末端测头的位置准确度主要受各杆件结构参数误差的影响,为提高多关节坐标测量机的测量准确度,必须对各杆件的结构参数进行校准。首先应用ＤＨ 分析方法,建立了多关节坐标测量机的运动学模型,然后提出了一种简单、快速的单点 多姿态校准方法,运用全微分、最小二乘法和迭代算法等数学方法,建立了校准模型。实验表明,该校准方法适合于多关节坐标测量机结构参数真值的获得,并可极大地提高测量机的位置准确度。     

催化点火器高空点火性能的实验研究

介绍国产催化点火器高空点火性能模拟试验,主气流温度为５００℃左右、加力室压力为０．０４—０．１２ＭＰａ,对催化点火器的着火延迟时间和贫富油点火极限进行了测量。试验结果表明：当飞行高度为１７０００—１７５００ｍ,飞行马赫数Ｍａ＝１．０时,催化点火器可以正常点燃某型发动机加力燃烧室。     

人工神经网络在CAPP系统开发工具中的应用

探讨了基于神经网络理论在ＣＡＰＰ系统开发工具的应用;建立了工艺过程设计系统的ＡＮＮ模型;详细讨论了工艺过程设计系统的推理机制,并给出了用集成ＢＰ网络选择加工方法及通过改进Ｈｏｐｆｉｅｌｄ网络确定工艺路线的过程。     

视频图像压缩技术的研究与应用

视频图像压缩技术是多媒体系统不可回避的关键技术。文章对ＱＩＦ制式标准的视频图像,以Ｐ×６４标准为核心进行了解码与压缩技术的研究。分析了变换编码、运动补偿、量化和变字长嫡编码对压缩效率与图像质量的影响,并对实时传输的视频图像进行了计算机解码分析。恢复的图像表明：解码是成功的,画面清晰,效果显著。在４８６微机上软件处理时间为平均为３ｓ／帧,进一步的硬件处理将有可能为实际使用。     

行波管系统频响特性的测试与分析

在结构的声疲劳试验中, 为了准确地模拟声场环境对试验进行总声压级控制已经不能完全反映结构承受的声载环境, 需要实现在一定频率范围内的谱形控制, 尤其在结构件响应的主要频带上, 频带声压级的大小对结构响应和声疲劳损伤起着重要的作用。     

超声钻削加工工具更换问题的探讨

介绍了适用超声钻削加工的半波长振动系统结构、针对该振动系统,给出了工具更换后变幅杆与工具之间进行阻抗匹配的方法,依据各部分的边界条件,按一维问题,导出了加工中工具更换后的阻抗匹配数学模型,在超声钻削加工应用中具有一定的实用价值     

经验Bayes估计在距离测量中的应用研究

根据Ｂａｙｅｓ方法的基本思想,研究多组距离（长度）测试Ｂａｙｅｓ估计,推导出均值、方差未知时的距离（长度）、密集度检验所用公式。举例说明Ｂａｙｅｓ假设检验有关问题以及各种决策的期望损失,距离（长度）测量采用经验Ｂａｙｅｓ方法比较古典方法估值准确度高,置信区间小,将明显减少测量次数,缩短测试周期,提高测试质量。