全文获取类型
收费全文 | 728篇 |
免费 | 141篇 |
国内免费 | 67篇 |
专业分类
航空 | 536篇 |
航天技术 | 98篇 |
综合类 | 128篇 |
航天 | 174篇 |
出版年
2024年 | 3篇 |
2023年 | 19篇 |
2022年 | 21篇 |
2021年 | 22篇 |
2020年 | 27篇 |
2019年 | 20篇 |
2018年 | 27篇 |
2017年 | 27篇 |
2016年 | 33篇 |
2015年 | 28篇 |
2014年 | 44篇 |
2013年 | 27篇 |
2012年 | 22篇 |
2011年 | 41篇 |
2010年 | 40篇 |
2009年 | 25篇 |
2008年 | 22篇 |
2007年 | 41篇 |
2006年 | 42篇 |
2005年 | 32篇 |
2004年 | 39篇 |
2003年 | 23篇 |
2002年 | 18篇 |
2001年 | 24篇 |
2000年 | 32篇 |
1999年 | 20篇 |
1998年 | 19篇 |
1997年 | 27篇 |
1996年 | 22篇 |
1995年 | 18篇 |
1994年 | 20篇 |
1993年 | 17篇 |
1992年 | 18篇 |
1991年 | 13篇 |
1990年 | 13篇 |
1989年 | 15篇 |
1988年 | 5篇 |
1987年 | 5篇 |
1986年 | 3篇 |
1985年 | 2篇 |
1984年 | 5篇 |
1983年 | 1篇 |
1982年 | 4篇 |
1981年 | 4篇 |
1980年 | 3篇 |
1979年 | 2篇 |
1900年 | 1篇 |
排序方式: 共有936条查询结果,搜索用时 93 毫秒
831.
832.
833.
燃烧室贫油熄火极限数值预测 总被引:3,自引:3,他引:3
在任意曲线坐标系下分别对双级轴向涡流器矩形燃烧室及涡流杯回流环形燃烧室三维两相反应流场进行数值模拟,采用RNG(renormalization group)k-ε,SOM-EBU(second order moment-eddy break up model)及六通量辐射等模型考虑紊流流动、化学反应及辐射传热对燃烧过程的影响;采用SI MPLE(semi-implicit method for pressure linked equation)算法求解流场,气液两相耦合采用颗粒源项法处理.采用提出的燃油稳态逐次逼近法对贫油熄火极限进行数值预测,所得计算值与实验数据较为相符,表明此数值预测方法可靠,可用于工程实践. 相似文献
834.
永磁容错电机最优转矩控制策略实验 总被引:3,自引:0,他引:3
永磁容错(FTPM)电机不仅具有容错和故障隔离能力,还继承了一般永磁电机功率密度大、转矩脉动小的优点,故在航空用电力作动系统中得到大力发展。最优转矩控制(OTC)算法可以实现电机在正常和故障时(一相断路或短路)输出电磁转矩脉动最小化。本文设计了750 W六相十极FTPM电机最优转矩控制系统平台,提出了两种简单实用的绕组故障诊断方法,对最优转矩控制算法进行了实验研究。实验结果表明,该算法能够实现故障前后转矩转速性能基本不变,且转矩脉动均小于20%,故障时动态响应快。 相似文献
835.
836.
837.
838.
839.
采用新型基准流场的高超内收缩进气道试验研究简 总被引:2,自引:0,他引:2
由于新型变中心体基准流场具有压缩效率高、反射激波弱的优点,采用该基准流场设计了矩形转圆形内收缩进气道,在设计点马赫数Ma=6.0进行了风洞试验研究。试验中得到了进气道压缩面的沿程压力分布、隔离段出口皮托压分布等参数。通过和数值模拟对比分析,结果表明:进气道外压段的压力分布明显具有先增大后减小的特征,内压段的压力分布具有两级爬升的特点,且压升较小,流场结构较好。由于内压段流场激波强度弱,进气道总压恢复系数较高,达0.518,并产生了52倍的增压比,其抗反压能力在144倍以上。试验研究表明,采用新型变中心体基准流场能改善矩形转圆形内收缩进气道的内压段流场及隔离段流场,并能有效提高进气道的总压恢复系数。 相似文献
840.
基于贮箱用2219 T852整体过渡环与T87箱筒段的电子束环焊缝,开展了部段级电子束焊接接头常、低温力学性能测试,同时对焊接接头错缝量、断裂类型及金相组织进行了分析。研究结果表明:部段级常、低温2219 T852与T87电子束焊接接头的强度影响系数为0.63,低温状态下焊接接头的力学性能比室温状态下有所提高;错缝量与焊接接头力学性能成反比,其中对延伸率影响最为显著,低温有助于缓解错缝对焊接接头力学性能的弱化影响;电子束焊接接头组织不均匀性和结构形貌上的不连续性,特别是T852侧热影响区晶粒粗大,导致T852侧热影响区和焊缝接头根部为电子束焊缝的薄弱区域,焊接接头极易在该区域发生断裂。 相似文献