新型坐标测量机

新型坐标测量机Ｓａｐｈｉｒ７和Ｓａｐｈｉｒ１０型坐标测量机是最新型的ＪｏｈａｎｎｓｏｎＳａｐｈｉｒ系列的三坐标测量机．首次在斯德哥尔摩技术交易会上展出时，Ｓａｐｈｉｒ系列测量机的标准型号不少于１０种，测量工件的体积从０１５～２ｍ３新型的三坐标测量机是...     

飞机复合材料的强度测试

飞机复合材料的强度测试荚国ＭＴＳＤａｖｅｎｔｒｙ（前ＭＴＳＴｅｓｔｗｅｌｌ）公司最近在其位于Ｄａｖｅｎｔｒｙ市的结构和元件测试实验室对经修复的碳纤维复合材料进行了一系列的疲劳和残余强度测试。该复合材料是最新设计的民用飞机发动机包皮孔口的组成部分。作为...     

面造型和实体造型间的比较

而造型和线框造型软件虽然不如实体造型软件那样令人注目．但它们对于某些工程任务来说却是较好的选择．它们在价格便宜的计算机硬件上即可快速运行，生成线框模型和面模型．并可容易地生成模型中的明说使模型显得义现添亮．面模型和线框模型软件的价格也较为便宜，因此更容易被安装在每个工程师所使用的软件中．它们使设计者可以及时地在其设计中体现市场对产品形状和包络线的需求．为了绘制出明暗度和纹理结构更为辽真的模型，虽然有时也需使用其它的软件，但这些软件一般说来价格较为便宜，仅在数百美元左右．仅使用面模型，还可进行较为…     

国外传感器技术的现状

国外传感器目前的技术性能已达较高水平，主要表现在以下几方面：1．精度高、测量范围宽。如压力传感器，其精度一般达0．05％～0．1％，有的达0．of％。美国PSI公司的PS型标准数字压力传感器的精度最高、重复性为0．005％，滞后0．001％，温度误差0．0002％。压力传感器的测压范围从0.01PSi到10000PSi。温度传感器的工作温度最低可到-196℃，最高可达1400℃。2．小型化、系列化。标准化．如美国Entron公司的量程为2～500PSi的产品，直径仅为1．27mm。传感器多为系列化产品。3．可靠性高、稳定性好。可靠性数据比较完整齐备，敏感元件…     

用于大型零件测量的高速高精度三坐标测量机

用于大型零件测量的高速高精度三坐标测量机ＣａｒｌＺｅｉｓｓ公司的工业测量技术（ＩＭＴ）部门推出了可高速、高精度地对大型精密零件进行测量的新型ＵＭＣ１０００ＣＡＲＡＴ通用测量中心。该坐标测量机采用了新近开发出的Ｚｅｉｓｓ高速扫描技术，可精确可靠地测量精...     

拟用的“虚拟原型”制造技术

拟用的“虚拟原型”制造技术对于许多小型的生产厂家来说，推广使用立体光刻、激光烧结等原型快速制造技术所需成本太高．为了解决这一问题，美国Ｍｂｏｔａｌ一Ｒｏｌｌａ大学的有关研究人员正在进行＂虚拟原型＂（ＶｉｒｔｔａｌＤｅｔｏｔｙｐＢ）的可能性研究。他们采...     

几则美国公司的技术发展动态信息

几则美国公司的技术发展动态信息▲麦克唐纳·道格拉斯公司目前已在战斗喷气飞机上采用商用处理机在降低航空硬件和软件成本方面取得了重大进步．该公司在最近进行的一次公开飞行试验中，以一台商用ＰｏｗｅｒＰＣ处理机代替ＡＶ—８Ｂ“鹞”式飞机上的任务计算机对可重用...     

使用微细孔进行层流控制

使用微细孔进行层流控制美国国家航空航天局（ＮＡＳＡ）开始飞行测试一种主动式层流控制系统。该系统可以有效地降低未来超音速运输机的气动阻力。ＮＡＳＡ同包括波音、洛克韦尔、麦克唐纳·道格拉斯等公司在内的大型飞机制造厂商合作，对Ｆ—１６ＸＬ教练机进行了改进。...     

一种可移式触针测头

Renishaw公司新近推出了一种新型的机动接触式触发测头──TP20．使用这种测头时,无需专职人员就可以手动或自动方式改变测头触针的配置方式。TP20测头同所有已使用Renishaw公司TP20接触式触发测头的手动或CNC坐标测量机兼容。它采用了一种类似5通的机动触发机构，单向重复性指标达0.35μm.TP20测头在设计上主要由测头体及一个可拆式触针模块等两部分组成，触针模块则包括机动接触式触发传感器，并附有触针，使用这种磁附着可移式触针模块,无需重新设定数据基准，就可以手动或自动方式进行测头更换.因此，7P20测头的使用可显著提高标…     

98美国质量设备展回顾②

OG2000测量系统由于采用了NIST可示踪校准棒，因此避免了系统校准错误的发生，使测量结果真实可靠。·测量仪器及CMMZeiss公司展出了品种型号众多的计量产品，其中包括首次在美展出的新型Vista坐标测量机。据公司介绍，自其6年前推出后，公司已向用户交付Eclips坐标测量机1000台、此外，公司还展出了其改进型PRISMO10坐标测量机。这种测量机在PRISMOVAST扫描系列坐标测量机中是最大的。其各轴向上的精度ul＝1．9＋L／300μm．由X、Y，Z三轴构成的测量空间为47＂×（70＂～118＂）×39＂，是用于测量大型零部件的扫描测量系统中…