脉冲干扰条件下雷达自适应恒虚警算法及其体系结构

本文提出一种用于信号处理的新型并行算法以及带有自适应检测后积累（API）的恒虚警（CFAR）处理器的并行systolic结构。这种处理器用于脉冲干扰条件下雷达对小型机载目标回波的单个距离分辨率单元中的有效目标检测。这种算法的主要特征是在进行噪声水平估计前能自动地确定并删除二维参考窗口及检测单元中受脉冲干扰污损的不希望的样本。通过这种方法可将脉冲干扰环境对自适应门限处理的影响减至最低程度。对这种目标控制自满的统计分析表明，即便在脉冲干扰的功率与频率都非常高的情况下，信噪比损失也微乎其微。设计了CFAR API的Systolic结构。Systolic结构的基本微量尺度为处理器单元的数目、计算时间及实时实现所需的加速度。     

天线系统的计算机辅助设计（CAD）

介绍了解决天线问题的计算机方法，讨论了这些方法的利与弊，没有一种计算机程序能解决所有的天线问题，这就需要用户用经验来判断选用哪种方法适于解决遇到的问题，虽然计算机的配置越好，就能解决复杂程度越深的问题，但是，所有电磁（CEM）计算软件在主要物理特性上却丰在一些根本限制，在易于使用和用户友好方面也还存在不足。     

共形阵天线的相位合成

本文提出了一种新的平板阵和共形阵相位合成方法，该方法将激励的小的相位变化用线性方程近似，并采用最小平方法以迭代形式求解出激励相位的最终解，在同一阵列中仅利用阵元中的移相器，就能实现几种不同的波束，这在合成计算实例中进行了验证。     

变波长变时延迟光控相控阵天线

一种新的完全用光调调谐的光延迟器件可用作光控微波相控阵天线无偏斜波速控制的实时延迟产生器，光波波长相对微波波束方向的图形允许对光控组合提供一种有效的硬件结构，很容易和大口径天线成比例，描述了采用这种单片延迟器件的全光控相控阵天线系统的性能，提出并检验了采用中级光波长变换，单独控制方位和仰角二维天线阵的范围，组装了实时延迟光控双阵元X波段天线来验证宽瞬时带宽的工作情况。     

有效测量相控阵天线所有阵元排列方向图的自动化方法

本文介绍并验证了测量相控阵天线各阵元方向图的自动化技术，当测量位置调节器相对阵列移动探针时，该方法利用了以迭代方式用于波束形成器的Hadamard编码，利用相干接收机和互相关解码器提取所需的阵元方向图。本文用实验证明了同时测量阵列里所有单个阵元方向图的可能性，新技术易实现自动化，从而免去了以往技术对手工移动电缆和安装匹配负载的要求。     

通过扩展分区特征改善SAR目标检测

本文对利用扩展区分（EF）特征来改善合成孔径雷达（SAR）自动目标识别（ATR）系统观注目标聚焦（FOA）阶段处理的有效性进行了评估。不象传统的SAR检测特征仅能在对比度基础上将图像像素从背景中区分开，EF特征对物体的对比度和尺寸都敏感，EF特征算法便于实现，并已证实有着类似CFAR（恒虎警率）性质的新特征，我们使用这个新特征，通过两个数据库提供的SAR图像，对几种不同检测方法进行了测试，验证新方法对性能有所改善。     

MSK和OKQPSK体制的实验评价

实验室的试验测量指出,当通道具有同比特率带宽近于相等的带宽和典型的有关相位延迟特性时,MSK 与 OKQPSK 调制方式有近乎相等误差率性能.为了在比较不同调制方式的性能时消除硬件质量不同引起的差异,设计与制造了高质量 MSK 与 OKQPSK 发射机和通用模型接收机。因此,调制方式的选择应主要考虑复杂性、对设备组合的敏感度和差分编码合适性,而不是误差率。     

先进机动再入弹头的测试和通信技术

本文介绍目前用于高性能先进机动再入弹头飞行试验的测试和通信技术。文中讨论了各种传感器和信号调节器系统的设计考虑,包括振动和声学数据的飞行试验结果(同时使用八路FM和一路24824次/秒取样率的PCM通道采集),端头和控制面测力传感器,控制传动机构,流速,控制和气动压力,防热层埋入热电偶,端头烧蚀传感器(放射性和声学)等。此外,还介绍了用于验证RF系统的测试技术,以及PCM、数据延时和FM视频信道的性能。     

高温圆箔热流计

已经发展了一种工作温度高达1950°F的新型的圆箔热流计。它的最重要的特点是在高温时,保持了高的灵敏度,而一般传统的康铜箔·铜热流计,在高温时灵敏度将下降30％以上。此外,由于使用了低导热率的圆箔,较高的热电功率输出,改进了时间常数,使其灵敏度获得了成倍的增长。热流计组件的全焊接结构,使它能适应在任何一种金属材料中工作。这些特点,除了高温灵敏度以外,也可以从其他一些标准热电偶如镍铬箔·康铜中获得。文中列出了标准热电偶材料的一些性能数据,并与新型的圆箔热流计在不同温度时的灵敏度作了对比。     

仪器系统中的电磁干扰及其抑制

电气设备的电磁兼容问题正变得越来越重要。在设计和制造阶段,就必须考虑它们对别的信号的干扰。以避免或减小干扰的影响。本文不涉及可能使仪器或元件损坏的干扰(如闪电、静电放电等),只讨论仪器或元件参数可逆的干扰。我们只考虑测量中避免或减小干扰影响的一般原理和有效办法。这些办法包括①机械设计②电路设计③静电屏蔽、电磁屏蔽等。