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161.
铝合金硫酸阳极氧化膜棕红色印迹成因分析 总被引:2,自引:0,他引:2
为了探索铝合金硫酸阳极氧化膜棕红色印迹的成因,通过模拟生产加工过程和贮存环境等试验研究,认为阳极氧化膜棕红色印迹的形成与氧化膜被酸性物质污染、氧化膜封孔处理后清洗不彻底、氧化膜受到溶液浸泡等因素有关。提出了清洗、防污染等应对措施。 相似文献
162.
163.
SRAM FPGA电离辐射效应试验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
针对SRAM FPGA空间应用日益增多,以100万门SRAM FPGA为样品,进行了单粒子效应和电离总剂量效应辐照试验。单粒子试验结果是:试验用粒子最小LET为1.66 MeV·cm2/mg,出现SEU(单粒子翻转);LET为4.17 MeV·cm2/mg,出现SEFI(单粒子功能中断),通过重新配置,样品功能恢复正常;LET在1.66~64.8 MeV?cm2/mg范围内,未出现SEL(单粒子锁定);试验发现,随SEU数量的累积,样品功耗电流会随之增加,对样品进行重新配置,电流恢复正常。电离总剂量辐照试验结果是:辐照总剂量75 krad(Si)时,2只样品功能正常,功耗电流未见明显变化。辐照到87 krad(Si)时,样品出现功能失效。试验表明SRAM FPGA属于SEU敏感的器件,且存在SEFI。SEU和SEFI会破坏器件功能,导致系统故障。空间应用SRAM FPGA必须进行抗单粒子加固设计,推荐的加固方法是三模冗余(TMR)配合定时重新配置(Scrubbing)。关键部位如控制系统慎用SRAM FPGA。 相似文献
164.
文章从标准化的角度讨论了动力学环境试验技术,分析了以MIL-STD-810为代表的各类产品通用的环境标准和以NASA-HDBK-7005为代表的航天系统动力学环境标准所形成的两个环境标准体系的特点,讨论了NASA-HDBK-7005的标准内容,提出了我国航天动力学环境标准化工作的建议和意见。 相似文献
165.
166.
167.
文章分析了微波直接调制技术的实现方式,提出了一种采用分谐波混频技术实现Ka频段直接调制器的方案,并对分谐波混频模块进行了仿真调试,达到了预期的目的。 相似文献
168.
169.
概述企业标准文献受控管理的目的,以"零缺陷"质量管理为基点,从标准的采购、分编、下发、注册、保管、更替、复制、回收、清理、流通服务以及保密等方面对企业标准文献受控管理的举措作了阐述,并对各项措施的实施作了说明. 相似文献
170.