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651.
六轴联动缠绕机数控系统应用软件的开发 总被引:4,自引:0,他引:4
纤维缠绕复合材料由于具有优良的性能而在许多领域广泛应用。数控系统作为其成型工艺装备的重要部分,如果采用标准数控系统,会使它的扩充和修改极为有限,并难以将自己的专用技术、工艺经验集成到控制系统中去,且成本较高。针对这些情况,文中提出以IPc和多轴运动控制器为基础构成开放式的六轴缠绕机数控系统,阐述了该数控系统的硬件构成,并重点介绍了系统应用软件的结构、系统软件的模块化设计以及如何在win—dows环境下进行用户化开发。该数控系统的实际工程应用,验证了系统的实用性和开放性。 相似文献
652.
采用有限元分析软件ANSYS,分析了快速凝固/粉末冶金 (Rapidly Solidified/Powder Metallurgy,RS/PM)高阻尼铝合金FMS0714/10(Zn-30Al)的挤压成形过程,研究了模具与坯料间的摩擦条件和挤压比对阻尼铝合金成形过程的影响,探讨了挤压过程材料表面产生裂纹的机理,进行了成形工艺优化。研究结果表明:挤压过程中FMS0714/10(Zn-30Al) 阻尼铝合金材料的流动与变形不均匀,导致了应力应变分布的不均匀:材料表面应力应变较大,芯部应力应变较小;表面过大的应变和轴向拉应力是表面裂纹的诱因;减小模具和坯料间的摩擦,增大挤压比,可以减小材料表面应力,使应变分布趋于均匀,从而减少材料表面损伤,优化材料表面质量,提高成品合格率。数值模拟的研究结果将为FMS0714/10(Zn-30Al) 阻尼铝合金材料挤压工艺的制订以及新材料的设计和研制提供有益的参考。 相似文献
653.
654.
655.
双跨转子系统裂纹-松动耦合故障的非线性响应 总被引:5,自引:2,他引:3
建立了带有裂纹-支承松动耦合故障的具有三轴承支承的双跨弹性转子系统的动力学模型, 并对系统裂纹、松动及其耦合故障对系统非线性动力学响应的影响进行了数值仿真研究.当只有裂纹故障时, 在亚临界转速和超临界转速区均有拟周期运动;当只有松动故障时, 在亚临界转速区为拟周期运动, 而在超临界转速区为混沌运动.当出现裂纹-松动耦合故障时, 松动故障的影响占主要地位, 同时有较大范围的周期3运动区间出现.随着裂纹深度的增加, 其影响作用逐渐增大.研究结果为转子-轴承系统故障诊断、动态设计和安全运行提供了理论参考. 相似文献
656.
微弱信号检测系统中的接地与屏蔽技术分析 总被引:8,自引:0,他引:8
讨论分析了测试中常见的几种接地方法:单点串联接地、单点并联接地、多点接地和浮点接地,并总结出了在微弱信号检测系统中电路接地设计应注意的问题。另外,文章也简单讨论了与接地技术非常密切的屏蔽技术,并得出在屏蔽设计时应遵循的原则。 相似文献
657.
介绍了一种校准FLUKE8508A参考级数字多用表电压功能的方法,并分析了这种方法的校准不确定度。 相似文献
658.
本文面向低成本、高可靠、便携式光谱分析检测设备的需要,提出了一种基于FR4(Flame Retardant,阻燃等级为UL94V-O的板材,4表示树脂为环氧树脂、增强材料为玻璃纤维布)复合材料的多自由度电磁驱动微型集成扫描光栅微镜新结构。通过多自由度结构设计,有效提升了微镜转动角度。建立了器件有限元仿真模型,开展了静力学、模态及谐响应分析。有限元分析结果表明:微镜能够在设定谐振模态下工作,其微镜与驱动线圈的位移比值为1.795,为大转角电磁式微型集成扫描光栅微镜设计提供了一种新方法。 相似文献
659.
针对传统匹配场处理方法存在水下声源远距离定位失准以及定位时间过长的问题,提出了一种基于多层感知机的水下声源被动定位方案。利用团队自研的“浮星”浮标实测的剖面数据模拟真实海洋环境,并在水中布设垂直水听器阵,仿真大量不同位置的声源在水听器处产生的接收数据。将多通道波形数据直接作为输入对多层感知机网络进行训练,从而获取高精度的定位神经网络。仿真结果表明,与匹配场处理算法相比,设计的感知机网络可以在大范围信噪比环境中实现有效的水下声源定位,其中在30dB信噪比下定位距离和深度的平均相对误差达到了1.94%和6.84%。另外,相对于失配声速剖面,使用平均声速剖面模拟的接收数据可提高网络的定位性能。 相似文献
660.
为了提高核探测、航空航天、国防和精密科学仪器等领域中传统电子倍增器的性能,使其在较低的工作电压和入射电子能量下实现高增益、低噪声、长寿命的目标,在材料制备、二次电子发射测试和电子倍增器性能优化等方面开展了大量研究工作。利用原子层沉积(atomic layer deposition,ALD)技术研制了具有较高二次电子产额(secondary electron yield,SEY)的新型薄膜材料,研究了元素掺杂和表面修饰改善材料二次电子发射特性的方法,详细测试了薄膜材料的二次电子发射特性参数。利用ALD技术将新型薄膜材料成功应用于微通道板(microchannel plate,MCP)和单通道电子倍增器(channeltron electron multiplier,CEM)中,测试结果如下:相同工作电压下,镀膜后MCP组件的增益、单电子分辨率、峰谷比分别改善了约166%、17%和260%;对于单个CEM,镀膜前工作电压为2700V时增益才能达到108,而镀膜后1600V下即可达到相同增益(工作电压降低了1100V),并且其它各项参数(分辨率≤26%,累计拾取电荷量≥15.62C)均得到改善。该研究成果在高增益、长寿命新型电子倍增器研制及其在荷电粒子与含能光子探测中的应用具有重要意义。 相似文献