基于MBD的数控加工工艺设计系统

MBD模型作为制造过程中唯一依据逐步成为航空制造业的发展趋势,并已应用到CAD/CAM中。但MBD技术尚未在CAPP中展开应用,导致MBD数据集在CAD/CAPP/CAM的集成设计制造过程中无法连续传递。针对航空数控加工需求,建立了基于图层的数控加工MBD工艺模型,提出了基于MBD的数控工艺设计流程,并设计开发了基于MBD的数控加工CAPP系统,实现了UG平台上集成设计制造的MBD应用。     

阶跃型频率引导工作性能的影响分析

<正>一、引言跟踪锁相接收机频率分析器是空间飞行体精密跟踪系统的重要部件。对于使用高增益、窄波束的天线来截获和跟踪目标,提高对下线信号分析的有效性和缩短频率捕获的时间,便于载波锁褶接收机迅速达到锁定工作状态,有其重要的作用和意义。经验表明,环路捕获某种形式的信号较之跟踪这一信号要困难得多。因此,寻求一种能在短时间内完成从噪声中检出信号并以合理的方式给环路以频率引导电压,与环路组成匹配级联工作,以便顺利完成对目标捕获的引导设备,是研制跟踪接收机的主要课题之一。     

一种模拟CCD星图的方法

星识别算法在空间飞行器自主姿确定系统中是不可缺少的。同时将ＣＣＤ所拍摄的星图作为算法的输入,无论是软件调试还是地面试验,抑或是对各种算法的评估,也是必不可缺少。     

超声振动磨削C/SiC复合材料的试验研究

采用电镀金刚石砂轮对CVI+PIP综合工艺制备的2.5D正交编织C/SiC陶瓷基复合材料进行了轴向超声振动平面磨削加工试验.通过对超声振动磨削与普通磨削的磨削力、磨削表面三维形貌及粗糙度的分析与测量,对C/SiC复合材料的加工工艺进行了研究.结果表明,磨削过程中材料去除方式以脆性去除为主,碳纤维损伤形式以纤维拉断、剥离...     

层次化模块化可用性分析方法的误差分析

通过层次化模块化分解技术,将复杂系统动态故障树分解为相互独立的模块,对独立模块分别进行可用度求解,再利用自下而上递归的方法实现复杂系统可用性分析.提出和推导出等效时变的可用度参数模型,分析了层次化模块化可用性分析方法的误差成因和相关影响,给出了故障相关和维修相关条件下的误差定义,定量研究了误差分布区域及其影响因素,提出了层次化模块化可用性分析方法的适用条件和应用原则,实例分析证明了该方法的有效性.      

TiAl/IN718合金过渡液相连接

采用过渡液相TLP(Transient Liquid Phase)连接技术,以金属Ti,Cu,Ni箔构成复合焊料连接TiAl和IN718合金.研究了保温时间对接头界面结构的影响.实验结果表明:采用Ti-Cu,Ti-Ni复合焊料可以制备无缺陷的接头,但2种焊料形成液相的过程和机理不同.由于在等温凝固过程中,从IN718合金中扩散过来的合金元素可在焊缝区聚集,从而在接头中形成亚层结构.通过对接头焊缝区的组织分析和硬度测试表明,在实验条件下Ti-Ni焊料的等温凝固过程持续时间比Ti-Cu的短.     

基于双因素方差分析的混响室搅拌器优化研究

针对混响室搅拌器的优化问题,建立了混响室仿真模型,分析了搅拌器叶片不同夹角和不同边长比对混响室场均匀性的影响,得到了叶片较优夹角和较优边长比。通过对仿真数据进行双因素方差分析,得到搅拌器叶片夹角和边长比对场均匀性影响的权重关系。该结论为混响室搅拌器的优化设计提供了指导依据。     

Zr-Al-(Ni-Cu)合金的非晶形成能力及热学性能

采用喷射铜模铸造法研究了Ni和Cu含量对Zr-Al-(Ni-Cu)四元合金的非晶形成能力的影响.利用X射线衍射仪分析了铸态合金的相结构,利用差示扫描量热仪研究了非晶合金的热学性能.结果表明:Zr-Al-(Ni-Cu)四元合金的非晶形成能力远大于Zr-Al-Ni和Zr-Al-Cu三元合金的非晶形成能力.Zr65Al7.5Ni10Cu17.5合金显示最高的非晶形成能力,其非晶形成临界直径可以达到7 mm.相似元素Ni和Cu在一定比例下共存,使液态合金的熵值增加,自由能降低,从而有效提高了合金的非晶形成能力.     

两种层板性能对比

针对常规的141型层板,提出了一种增加50％数量扰流柱的设计,即161型层板.采用实验和数值模拟相结合的办法研究了两种类型层板在流阻和换热方面的差别.换热实验部分采用了辐射式加热设备,测量了层板上下表面平均壁温,以及冷气进、出口截面间的焓差,得到了相应进气雷诺数下的层板体积换热努塞尔数.发现161模型流阻降低20％,换热增强5％.对一些实验工况,采用三维计算流体力学程序进行了流-固耦合传热数值模拟,所得结果在趋势上与实验一致,在数值上,流阻和换热与实验结果分别相差5％和30％.利用数值模拟结果分析并比较了两种模型在流场和表面对流换热系数分布方面的细节差别.      

微波电子产品贮存状态的SSADT评估方法

针对在贮存期内具有长寿命、高可靠性特点的系统级微波电子产品,为了快速评估其贮存寿命与可靠性指标,提出了使用步进应力加速退化试验(SSADT,Step Stress Accelerated Degradation Testig)的试验方法.首先给出SSADT的基本假设.基于该产品的故障模式影响及危害性分析和故障树分析结果,为该产品确定了加速模型.并结合线性漂移布朗运动的首达时(first passage time)分布服从逆高斯分布的特点,建立了SSADT的可靠性评估模型.其次,根据线性漂移布朗运动的独立增量性,给出了可靠性评估模型参数的极大似然法和最小二乘法相结合的评估方法.为了剔除试验中为检测产品性能而引入的通断电对产品贮存寿命与可靠性评估带来的影响,在借鉴可靠性相关标准的基础上,提出了通断电因子退化率折合方法,并得到了线性漂移布朗运动的通断电折合公式.最终的实例证明,采用提出的贮存寿命与可靠性方法能够得到合理的评估结果,从而验证了该方法的正确性.