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201.
低碳硅锰系TRIP钢热处理工艺的研究   总被引:1,自引:1,他引:1  
仅含碳、硅、锰合金元素的结构钢,采用临界区等温淬火热处理工艺,得到铁素体、贝氏体和残余奥氏体三相组织。该钢在 Ms(马氏体转变开始温度)~Md(马氏体转变终止温度)d温度之间形变,应变诱导相变,相变诱发塑性──TRIP,其力学性能指标大大提高。本文通过显微组织观察,力学性能结果分析,对这种低碳硅锰系TRIP钢三种不同的热处理工艺制度进行了研究。  相似文献   
202.
超声速开式空腔流动的数值模拟   总被引:2,自引:1,他引:2       下载免费PDF全文
研究了不同长深比、不同雷诺数条件下,超声速开式空腔流动特性的变化。算法采用空间上5阶的WENO格式,时间上具有TVD性质的3阶Runge-Kutta方法,湍流模型选用B-L模型。数值模拟获得了不同的时刻的注场图像,压力波、涡以及空腔结构之间的相互耦合作用,使得空腔内存在典型的周期性压力脉动,但不同长深比空腔的流动性存在较大差别。  相似文献   
203.
自组装单分子膜技术在推进剂中的应用   总被引:1,自引:1,他引:1       下载免费PDF全文
吕公连  张小平  杜磊  贾晓峰 《推进技术》2001,22(5):426-428,440
简要介绍了自组装单分子膜(SAMs)技术,研究了该技术在丁羟和聚醚推进剂中铝粉表面改性的应用。结果表明:设计合成的DX系列和DZ系列能有效提高推进剂的延伸率,对推进剂的其它性能无不良影响。并就该技术在含能材料中的应用前景作了展望。  相似文献   
204.
法兰环缝局部真空电子束焊机的研制   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
对所研制的法兰环缝局部真空电子束焊机作了简要介绍,对焊机的微机控制系统和电子 枪极坐标行走的控制、二次电子焊缝对中、焊接轨迹的示教再现、真空系统和焊接工艺的微机控制等关键技术作了较为详细的阐述。通过焊接工艺试验,用法兰环缝局部真空电子束焊机焊接出了成形良好、焊缝内部质量符合GJB1718-93Ⅰ级标准的铝合金法兰环缝典型工艺件。  相似文献   
205.
研究了SY 2 4B胶膜和SY H2糊状胶粘剂的剪切疲劳和蠕变性能。SY 2 4B胶膜和SY H2糊状胶粘剂同为中温固化的结构胶粘剂 ,SY 2 4B胶膜采用橡胶增韧 ,SY H2糊状胶粘剂采用热塑性树脂增韧。SY 2 4B胶膜虽然具有优异的韧性 ,但SY H2糊状胶粘剂的剪切疲劳和蠕变性能优于SY 2 4B胶膜 ,这与增韧剂种类与胶层厚度有一定关系。温度、应力和时间也是影响蠕变量的重要因素  相似文献   
206.
热处理对Nb-10Si合金显微组织的影响   总被引:5,自引:0,他引:5  
采用真空电弧熔炼法制备了 Nb-1 0 Si ( at% )合金 ,并在 1 85 0℃和 1 5 5 0℃温度氩气保护下进行了 2~ 1 0 0 h的热处理。综合通过 X射线衍射、透射电子显微术、扫描电子显微术及 X射线能谱对合金的显微组织进行了研究。结果表明 ,铸态 Nb-1 0 Si合金由连续的 Nb3 Si基体与均匀分布的 Nb相组成 ,1 85 0℃温度下热处理 2 h后 ,Nb晶粒明显长大 ;而在 1 5 5 0℃热处理后 ,Nb晶粒尺寸基本不变 ,Nb3 Si逐渐转变为 Nb和 Nb5Si3 相 ,且它们之间存在着一定的取向关系。1 5 5 0℃热处理 1 0 0 h后可以获得稳定的 Nb+ Nb5Si3 双相显微组织 ,是合适的热处理制度  相似文献   
207.
裂纹扩展的无网格数值模拟方法   总被引:6,自引:0,他引:6  
疲劳断裂是航空材料的重要失效形式 ,由于裂纹尖端应力存在奇异性 ,传统有限元方法模拟裂纹沿任意路径扩展存在很多不足。作为一种新兴的数值模拟方法 ,无网格计算只需将求解问题离散为独立的节点 ,计算过程中可以实时跟踪裂纹尖端区域进行局布细化。将连续的裂纹扩展过程看作多个线性增量 ,每一个增量内裂纹扩展角根据应力强度因子确定 ,通过在裂纹尖端细化节点和引入外部基函数提高了计算精度。本文给出了应用无网格方法模拟裂纹扩展过程的关键技术和计算流程 ,通过对带有中心斜裂纹的 Ti-6 Al-4 V合金平板进行分析 ,预测得到的裂纹扩展路径与实验值吻合的较好。  相似文献   
208.
航电系统的处理机重构算法与实现   总被引:1,自引:0,他引:1  
雷清  高宇  叶宏 《航空计算技术》2001,31(1):47-51,60
主要阐述了满足新一代航空电子系统中核心数据综合处理要求的实时操作系统 ;概述了系统软件的三个主要层次的总体结构 ;着重论述了重构处理机的问题 ;并详细讨论了处理机容错重构处理的实施过程。  相似文献   
209.
余雷  余建祖  高泽溪 《航空学报》2001,22(3):227-230
薄膜传热性能对微电子设备的传热能力及其性能和可靠性有重大影响,测量薄膜的热物性参数并进一步研究其影响因素,可为微电子电路的设计和发展提供科学依据。评述了薄膜导热系数测量和研究的现状,在此基础上提出了一种新的能同时测量衬底薄膜导热系数和发射率的实验方案,并通过建立衬底薄膜试样传热的数学模型和分析推导,论证了该实验方案的可行性。本实验方案可推广应用于确定淀积在衬底薄膜上各种极小厚度薄膜的导热系数和发射率。  相似文献   
210.
Parylene真空涂覆新工艺研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
简述了Parylene真空沉积的机理,并对采用Parylene真空涂覆的涂层样件进行了全面的性能摸底试验。  相似文献   
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