一种超宽带脉冲信号发生器的设计

介绍超宽带(UWB)技术,利用阶越恢复二极管(SRD)产生超宽带窄脉冲信号的微带结构电路,获得了纳秒级的超短、快速前沿的1ns单极性UWB脉冲。分析讨论电路原理与设计方法,实测结果显示该电路产生的脉冲信号具有良好的波形,并且脉冲拖尾的震荡起伏很小,适用于超宽带无线通信的窄脉冲信号形成电路。     

《公差原则》标准的分析及应用——最大实体要求

根据《形状和位置公差》标准中的公差原则和公差要求规定及工程中的实际需要,对最大实体要求的概念、图样标注方法以及它们在工程中的应用范围进行较详细地论述。     

大型空间模拟器封头的屈曲分析

封头是大型真空容器的重要组成部分,其主要破坏形式是产生屈曲,所以在真空容器的设计中必须对封头的屈曲特性进行分析。文章采用有限元法建立某大型空间环境模拟器的封头模型,通过有限元线性分析与非线性分析计算结果和经验公式计算结果相比较得到临界载荷,证明利用有限元方法来分析封头的屈曲特性具备可靠性和可行性。文章所得到的结论可为实际设计工作提供参考。     

基于频域的软件接收机多普勒补偿算法

由于卫星和接收机之间存在的相对运动,在接收机使用过程中必然会引入多普勒频移。而多普勒频移将导致扩频增益发生衰减,影响捕获工作的完成,因此在捕获过程必须进行相应的补偿处理,去除多普勒频移所产生的影响。本文以时域复指数相乘等于频域偏移原理为基础,采用频域补偿算法替代时域串行搜索算法改进捕获算法,简化了计算过程,节省了频域变换处理计算量,通过实际算例证明有效可行。     

一种快速求解整周模糊度的方法

针对FARA方法搜索整周模糊度组合数比较大,LAMBDA方法需要浮点解精度比较高的缺点,提出一种求解GPS载波相位测量整周模糊度的分步法。用LAMBDA方法搜索出来的整周模糊度作为FARA方法的初始解,进而用FARA方法解算出它的最终解。实验结果表明,该方法能缩短搜索整周模糊度的时间,快速准确地确定整周模糊度。     

圆波导TE11/TE21双模自跟踪馈源的研究设计

圆波导TE11/TE21双模自跟踪馈源作为一种重要的自跟踪馈源,具有低插入损耗、高G/T值和全极化跟踪的优点,在测控领域得到广泛应用。在叙述了设计该馈源的理论、过程和方法的基础上,给出了一个设计实例——S频段的TE11/TE21双模自跟踪馈源,仿真和测试结果基本一致。     

2~4GHz宽带压控振荡器的研制

对振荡器的基本理论进行分析,针对宽带电路的特点提出宽带振荡电路的设计思路,并应用Ansoft Designer仿真设计一个2~4GHz宽带压控振荡器。该振荡器在常温工作状态下测得的相位噪声为-85dBc/Hz@10kHz,输出信号功率平坦度好,负载牵引小。     

Ka波段单通道调制器设计

在厚度为0.254mm、相对介电常数rε为2.2的RT5880基片上,设计一种基于MIC工艺的工作在Ka波段点频上的单通道调制器。该调制器由6dB耦合器和0/π调制器构成,主要用于天线方向校准系统。其和路插损3dB,差路插损12dB,0/π调制相位误差小于5°,0/π调制幅度误差小于0.8dB,各端口驻波比小于2:1,和路工作时载波信号对已调信号抑制比大于20dB,差路工作时已调信号对载波信号抑制比大于55dB,并满足星载设备高可靠性环境要求。     

金属构件疲劳微裂纹非线性超声检测

通过对固体非线性超声传播模型的研究,分析了裂纹静态压力与超声波作用力对裂纹超声非线性响应的影响,建立了反映裂纹区应力-应变非线性关系的弹性接触机制超声非线性响应模型以及反映裂纹闭合状态转换的碰撞接触机制超声非线性响应模型。通过实验研究发现,裂纹尖端区的二次谐波激发效率与裂纹的开口区和闭合区及裂纹最终扩展的极限长度有关。因此,可使用二次谐波激发效率作为定量表征金属试件疲劳微裂纹缺陷的特征参数,实验中使用了自主研制倍频双晶复合换能器,这种倍频双晶复合换能器在工程实际应用中更为方便、实用。     

单粒子锁定极端敏感器件的试验及对我国航天安全的警示

随着半导体特征工艺尺寸减小、集成度提高,静态存储器(SRAM)对单粒子锁定呈现出极其敏感的现象和趋势,为此国际航天界开展了大量的试验评估工作,剔除和杜绝了一些极端敏感器件在空间的应用.结合国内外空间应用背景,文章利用脉冲激光实验装置和重离子加速器,分别对三星公司新旧两种型号的4 M位SRAM芯片进行了单粒子锁定试验评估.试验测得两型号芯片的单粒子锁定阈值差异巨大,新型号芯片的锁定阈值低于1.5MeV·cm2/mg,而老型号芯片的锁定阈值高于39.6MeV·cm2/mg.这种对单粒子锁定极端敏感的芯片若应用于空间,将会发生0.008～0.04次/天的频繁锁定事件,极大地威胁航天器的安全和可靠.为应对这种单粒子锁定极端敏感的现象和趋势,提出了加强我国航天产品设计、元器件采购、筛选、试验等的规范、技术和条件的建议.