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231.
矩形渡槽槽体结构绕流流场数值模拟研究 总被引:2,自引:0,他引:2
基于二维非定常不可压缩雷诺平均N-S方程,采用RNG(renormalization group)k-ε两方程湍流模型,对矩形渡槽在空槽和满槽情况下的二维绕流特性进行了分析.计算网格为四边形结构网格,采用有限体积法对微分方程进行离散,应用SIMPLE算法解决压强-速度耦合关系.引入空腔流动研究成果对空槽和满槽风载体形系数基本相同的原因进行了理论分析,揭示了空槽时槽体内复杂的旋涡流动结构. 相似文献
232.
233.
234.
基于单元塞式喷管的实验数据,研究了底部二次流对塞式喷管性能和底部特性的影响,测得了不同环境反压下塞锥表面的压强分布.实验表明,底部在不同压比下具有不同的气动状态.二次流的注入使底部开闭过渡点的压比值升高,底部开始提供推力的压比值下降,有利于避免底部开闭过渡时推力出现较大幅度降低.二次流流量达到主流的2.0%后,再加大底部二次流流量不再影响底部压强,过多地注入反而会降低塞式喷管的总体效率,1.5%~2.0%主流流量的二次流注入是比较好的选择.在低压比范围,塞锥表面有压强峰出现,随着高度的增加,压强峰后移并强度减弱. 相似文献
235.
236.
基于可逆提升小波变换和上下文预测的SAR图像无损压缩算法 总被引:1,自引:0,他引:1
结合可逆提升小波变换和上下文预测技术 ,提出基于可逆提升小波变换和上下文预测的合成孔径雷达 (SAR)图像的无损压缩算法。分析了基于提升小波的无损压缩算法和基于上下文预测编码的无损压缩算法的优缺点 ,联合两种体制 ,提出先用提升小波变换去除整幅图像的冗余 ,再用边缘保留预测器和子预测器联合技术进一步消除子带内系数间的空间冗余性 ,最后采用自适应上下文建模技术对残差进行分类自适应熵编码。除具有常规小波变换编码的优异性能外 ,该算法的压缩率优于即将推出的国际标准JPEG2000。 相似文献
237.
液晶环氧/BMI共聚物微观结构的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
对 BMI与二元胺扩链后与液晶环氧 (PHBHQ)形成的共聚物的微观结构进行了分析。扫描电镜 (SEM)对共聚体系冲击断面的分析表明 ,当 BMI:DDBA=1∶ 1 ,1∶ 1 .5时 ,共聚体系为“皮—芯”结构 ;当 BMI:DDBA=1∶ 2时 ,共聚体系为“互穿网络”结构。广角 X射线衍射 (WAXD)和动态力学 (DMTA)的分析表明 ,BMI/BDAP/PHBHQ体系为均相体系 ,在固化网络中 ,PHBHQ形成取向有序的介晶域 ,对裂纹起到引发、分支、终止作用 相似文献
238.
碰摩转子的弯曲和扭转振动分析 总被引:2,自引:3,他引:2
建立了一个新型多自由度的转子动静碰摩模型。应用该模型 ,重点研究了动、静碰摩引起的转子弯曲和扭转非线性耦合振动。大量的数值计算表明 ,不同碰摩情况下转子具有不同的弯曲和扭转振动响应。转静碰摩激起转子扭转自振频率振动。提出了从转子扭转振动的变化来诊断转静碰摩故障的方法 ,并探讨了此方法的可行性和有效性。 相似文献
239.
故障特征提取是模拟电路故障诊断的关键技术之一,为了提高故障特征的可诊性,提出 1种基于分数阶傅里摘叶变换(Fractional Fourier Transform,FRFT)域能量谱的模拟电路故障特征提取方法。首先,采集测试节点电压信号并将其映射到不同的 FRFT域空间中(p从 0变化到 1);然后,计算所有 FRFT域空间中的能量谱峰值并将其作为故障特征;最后,将归一化后的特征用于训练最近邻分类器进行诊断验证。与现有的 FRFT故障特征提取方法相比,该方法减少了计算量,且提取的特征能够在所有 FRFT域中更全面地反映不同故障响应信号的细微差异,有利于提高故障特征的可分性。在仿真和物理电路上进行了验证,实验结果表明:所提方法能提高故障诊断准确率,且时间复杂度有明显改善。 相似文献
240.
指尖封严的转子轴心轨迹与泄漏特性的试验 总被引:4,自引:1,他引:3
对间隙、过渡、过盈3种配合状态的指尖封严组件的转子轴心轨迹和泄漏特性进行了试验.转子的轴心轨迹采用电涡流传感器进行测量,其测量结果表明:转速越大,转子轴心的偏移越小;在不考虑磨损的情况下轴心偏移对配合状态基本没有影响.由此确保了封严试验台的安全性和有效性.在此基础上,试验研究了转子转速、上下游压差以及封严间隙对泄漏特性的影响.结果表明:泄漏系数随转速增加略有减小;过渡和间隙配合时,在压差小于0.3MPa时泄漏系数随压差增加而增大,压差达到0.3MPa后,泄漏系数趋于平缓;过盈配合时压差对泄漏系数没有明显的影响;泄漏系数随封严间隙的减小而减小,随过盈量的增大而减小. 相似文献