GaAs PHEMT的I-V特性退化机理综述

新一轮信息技术发展背景下,砷化镓赝调制高电子迁移率晶体管在射频通信中的应用值得关注,文章对其I-V特性的主要退化机理进行综述并提出性能优化的方向和措施。文章通过分析晶体管的层结构及层功能,推导晶体管的I-V特性方程,建立器件物理层面的参量与电路层级的参数之间的映射关系,以此寻找其阈值电压、漏源电流及跨导等性能参数的退化规律。为使性能退化过程的叙述条理清晰,文章将主要退化失效机理划分为结构缺陷、电热应力和环境因素三个方面。为舒缓减轻晶体管的退化失效程度,文章从结构材料、加工工艺和电路设计等方面探讨性能的改进空间和优化途径。     

基于PMAC的三自由度并联机床数控系统硬件开发

针对并联机床运动控制的特点，基于PMAC多轴运动控制卡，开发了一个应用于三自由度并联机床的硬件控制系统。测试结果表明，系统设计合理，能准确的控制并联机床的动作。     

一种实现陀螺马达准确制动方案的研究

在分析了几种传统的电机制动方案基础上,提出了一种适合陀螺马达的能耗制动方案,该方案依据马达逐渐停转时自身产生的微弱电信号,再经放大处理后作为能耗制动的控制信号,实现陀螺马达准确、可靠、平稳的停止,避免了不及时切断电源而烧坏定子绕组的情况.     

对等性权利义务下的我国农业补贴法律制度研究

农业、农村经济的发展以及农民收入的增长是关系国家和社会利益的一件大事。在当前我国社会经济发展前提下，根据权利与义务的对等性理念，分析农业的特性，得出农业具有先义务性，存在权利与义务非对等性的现象，以此揭示农业补贴得以存在的本质内涵，即弥补这种先义务性，寻求权利与义务的数量等值。最后得出必须通过建立完善的农业补贴法律制度，达到权利与义务的对等，保证正当权利的实现，使其获得正当利益，最终使社会正义得以体现。     

乡镇财政风险的外部因素分析及对策

乡镇财政风险影响着基层政权的正常运转与稳定，是制约地方经济发展，关系社会稳定的重大问题。近几年，随着我国农村税费改革的推进，乡镇财政潜伏的风险和隐患也日益增多。文章仅就造成乡镇财政风险的外部因素进行了分析，并提出了规范政府行为、完善财税管理体制、提高财政资源使用效率等对策建议。     

一种导航卫星频率控制量精密确定方法

提出了一种通过提取导航卫星主备钟差信息进行卫星频率控制量精密确定的方法。在导航卫星的卫星钟发生器中,将主备份卫星钟之间的频率差以相位差的形式表示,作为卫星的监测信息,通过无线通道下行发射,地面接收机解调监测信息后,进行数据处理,获得卫星钟实时频率调整的变化量。与以往的方法相比,本文提出的方法简单,不需要时频测试设备,所确定的频率控制量的精度高,可以满足导航卫星工程需求。     

基于CSPNAT的航空维修测量过程仿真

维修检查仿真系统有利于培训机务人员的测量技能,维修测量仿真是维修检查仿真系统的核心技术。针对测量过程仿真中测量对象种类繁多,通过引进自顶向下设计方法对Petri网进行理论扩展,在基本Petri网的基础上引入颜色标记、随机时间变迁,对测量对象、测量工具等要素进行描述,构建基于自顶向下设计方法的CSPNAT测量过程模型。通过实例验证其有效性和优越性。     

绳索断裂对二维二次太阳翼展开过程影响分析

为识别二维二次太阳翼关键环节和预示其在轨展开故障模式,开展不同位置绳索断裂失效对太阳翼展开的影响程度分析。采用考虑绳索断裂的绳索联动轮力学模型,建立了适应于不同联动轮半径的联动轮受力模型,提出角度触发约束消除方法,解决了太阳翼第2次展开过程连续仿真问题,建立了太阳翼第2次展开动力学方程,分析了不同位置绳索断裂失效对太阳翼各板展开角度、展开构型和其他绳索张力的影响。分析表明,越靠近星体的绳索联动机构失效对太阳翼展开过程的影响越大,其中连接架上绳索联动机构失效可直接导致二维二次太阳翼在轨展开失败。     

基于综合模糊聚类算法的液体火箭发动机故障诊断

基于液体火箭发动机正常及故障状况数据的完备程度和数据质量的不断提高,提出一种基于数据驱动的综合模糊聚类算法用于故障诊断。采用模糊c均值(FCM)算法对已知正常样本数据进行聚类得到最优的聚类中心,将所得到的聚类中心作为先验样本数据用于传递闭包法最优分类结果的选择从而得到故障检测结果,该算法只需要少量的正常先验样本数据就能快速、准确的检测出故障;随后采用FCM算法进行故障分类,可以根据现有的故障数据库进行聚类得到对应的故障类型,并且可以给出故障幅值范围。模型仿真结果表明:该算法对故障的检测率可达96.8%,故障隔离率达到94%。某型液体火箭发动机实际试车数据结果表明:该故障诊断算法能够准确及时的检测并隔离出故障。     

电离总剂量效应对浮栅型Flash存储器擦写耐久与数据保持特性的影响研究

文章通过电离总剂量效应、擦写循环和数据保持试验及其叠加试验,研究了总剂量效应对浮栅型Flash存储器擦写耐久和数据保持特性的影响。对较高总剂量（150 krad(Si)）和含动态偏置在内的多种偏置条件进行了评估。结果表明：总剂量效应对擦写特性的影响较小,甚至可以忽略;总剂量效应对数据保持的影响主要表现在辐射致电荷泄漏,若总剂量效应试验后刷新数据,则其影响几乎可以忽略。为了减小辐射致电荷泄漏对数据保持的影响,在系统级应用上建议增加数据刷新次数。