喷管壳体的焊接方法

对喷管壳体的焊接性和焊接方法进行了分析和探讨，并且研究出一种高效率、高质量的焊接工艺方法。     

细丝CO2焊焊炬高度的双模分段控制系统研究

引入 I(积分 )—模糊自整定 PI(比例、积分 )双模分段控制系统 ,根据焊炬当前高度偏差及偏差变化率适时在线调节比例 (P) ,积分 (I)控制作用的强度 (参数 )。实验表明 ,双模分段控制系统比传统 PI控制系统具有更好的动态特性     

气流粉碎制备超细炸药的实验研究

在对“CP"系列气流粉碎机采取相应防爆、防静电等技术措施后 ,成功地对炸药RDX、HMX进行了粉碎分级技术研究。并采用激光粒度分析仪和扫描电镜对所得粉体进行了粒度分析和形貌观测。     

数控机床的选型

从数控机床的实用性、经济性、可靠性、稳定可靠性、可持续性 ,介绍了数控机床选型的一般原则 ,并着重论述了数控机床选型过程中需注意的几大要素 ,对购买数控机床的企业及人员具有参考价值。     

GPS系统抗干扰技术的探讨

讨论了当前GPS系统中采用的抗干扰技术，包括GPS的安全政策、SA和AS技术、接收机及其抗干扰技术。     

近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能影响研究

文章研究了近紫外辐照试验前后OSR二次表面镜的电学性能变化规律,利用扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)对近紫外辐照后的涂层表面形貌和成分进行了分析,进而探讨了近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能变化机理。研究发现,OSR二次表面镜的表面电阻率随着紫外辐照度的增加而指数减小,氧空位吸附氧的解析、In-O键的断裂和氧空位的增加是近紫外辐照OSR二次表面镜表面电阻率降低、导电性能增强的主要原因。     

ZnO粉末质子辐照损伤效应

文章研究了90keV质子辐照作用下ZnO粉末的辐照损伤机制。ZnO粉末的质子辐照损伤方式以电离效应为主,质子辐照后ZnO粉末表面产生大量的氧空位型缺陷(Vo**,Vo*和Vo)。氧空位型缺陷的产生是ZnO粉末光谱反射系数下降的主要原因。实验结果表明:质子辐照下,ZnO粉末光学性能退化主要发生在可见光区,在红外区间ZnO粉末光学性能退化不明显。     

薄膜测厚验证QCM质量敏感性的方法研究

石英晶体微量天平(QCM)是测量气相薄膜沉积质量的精密仪器。QCM质量和频率的相互作用受到众多不确定因素的影响,因此需要进行验证以取得更为精确的结果。文章从石英晶片的基本理论出发,以薄膜测厚为基础,研究了气相沉积石英晶体微量天平差频变化率和沉积厚度变化率成线性关系,阐述了线性关系是验证石英晶体微量天平的关键,并对测厚验证质量敏感性的可行性进行了分析。     

卫星真空热试验污染物成分分析

在真空热试验过程中进行了污染物的采集及成分分析试验。利用污染采集板收集污染物,丙酮溶液洗脱污染物,气相色谱-质谱联用方法对污染物进行成分分析。确定了整星热试验和太阳电池板热试验中的主要污染物成分为硅氧烷和邻苯二甲酸酯,并对两种污染物的影响进行了分析。     

卫星内带电效应地面试验技术研究

内带电效应是导致航天器运行故障和异常的主要原因之一。文章针对卫星内带电效应研究中的地面模拟试验技术,着重介绍了介质辐射诱导电导率及相关参数的试验测量方法。基于电声脉冲法测量介质内部电场的原理,提供了一种验证内带电仿真计算的试验方法。