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431.
T.S.伯恩斯 《世界航空航天博览》2006,(9):76-81
是的,在舰队弹道导弹计划发展进程中.那种高昂的士气贯穿始终。无论是一个技术难点,还是一次政府攻关;是在实验室的操作台前.还是会议上的每次讨论。那种团结是推动计划的原动力。 相似文献
432.
本文提出了有关研制自动测试系统的几个问题,该系统采用了国际电工委员会第444号公告中所推荐的传输测试法。业已证明,当试图对电阻与总并联电容的电抗之比具有很大数值(本文中定义为α)的晶体进行测量时,这种方法是失败的。本文进一步详述了全自动测试系统中电容凋零网络的使用情况。讨论了使用微处理器CPU的自动测试系统,并给出了测量数据。列出了在10兆赫到183兆赫范围内所测得的晶体的测量数据。这些测量说明在频率为1×10~(-8)量级上以及动态参数小于0.5%的标准偏差的可重复性是极好的。 相似文献
433.
无电极(BVA)石英晶体振荡器已在法国的Besancon研制成功并由瑞士的Neuchat-el oscilloquartz S.A.进行工业化生产。这种谐振器使石英晶体振荡器的长期性能得到改善。由于允许较高的激励电平,所以也保证了较好的短期稳定度[5][6]。已经用三种不同的振荡器获得了实验结 相似文献
434.
一种带有微处理机的采样电压表已经研制成功,做为真有效值电压表和波形分析仪使用。该仪器能以0.1%的精度对频率从0.1到120赫和电压从2毫伏至10伏的近似正弦波输入的真有效值电压进行测量。该仪器的主要优点是响应时间快、全自动换档、当频率低于10赫时其测量时间只须两个信号周期。 相似文献
435.
光学高温计测量的温度 T 是一个含有τ(λ)和 V(λ)参数的积分方程的解,其中参数τ(λ)为光学元件的光谱透过率,参数 V(λ)为检测元件的相对光谱灵敏度。τ(λ)和 V(λ)在不同波长下测量的值为τ(λ_i)±△τ(λ_i) i=1、2、3、…NV(λ_k)±△V(λ_k) k=1、2、3、…M 式中△τ(λ_i)和△V(λ_k)分别为τ(λ_i)和V(λ_k)的测量不确定度。为了计算高温计每个测量值所对应的温度值,本文提出一种积分方程的数值解法,从而可以避免引入某些不必要的近似。假定不同波长下实验误差在统计学上互不相关,则可推导出一个由光谱测量中随机不确定度造成的温度不确定度的计算方程。作为估算测量数据的质量和数值解法不确定度的一种辅助方法,还建立了τ(λ)和 V(λ)的通用而现实的数学解析式,直到求出积分方程的精确代数解。 相似文献
436.
这个简单的高压放大器线路提供的输出电压变动范围宽、功耗低,且只用很少的组件。用280伏的稳压电源,能产生高达260伏 相似文献
437.
使用单个石英谐振器,能够在加上几种激励电压情况下,同时得到几种谐振频率。几个振荡器可以使用同一个谐振器。但在信号幅度增加时,不会出现线性效应。各种不同振动之间的耦合,主要由下列两方面引起:1)振荡器之间的电子耦合。2)振荡材料本身引起的耦合(通过非线性效应)。文中只考虑了两个谐振频率之间的耦合,其实验数据符合 B.V.A 谐振器。为了消除振荡器之间的电子耦合,可用两个隔离的频率综合器对谐振器进行无源测试。主振模的频率变化,是根据其它模的幅度进行测量的。为了明确起见,把这种效应称做间接幅频效应(或引入的幅频效应)。这里介绍的一些特殊情况包括:采用三次和五次泛音和 B 模的5兆赫 AT 切和 SC 切晶体。本文给出了一些实验结果和曲线图,同时提出了一些应用。 相似文献
438.
本文介绍在压电基片上集成薄膜匹配阻抗的甚高频单片晶体滤波器,以及设计和调整这种器件的独特方法。按照传统的方法,我们从单一谐振开始,其电极尺寸考虑到了未来滤波器的谐振器之间所需的间隙,然后用 YAG 激光将电极分开;谐振器之间间隙的调整,要同时考虑到滤波器的计算带宽和中心频率具有很好的精度。然后,用同一激光微调薄膜电阻,以达到正确的带内波动和需要的3db 带宽。按此方法,能得到对称性很好的通带。这种能够全自动化的加工方法,由于激光光点尺寸很小(约10微米)而很适用于甚高频单片晶体滤波器。而集成电阻降低了外壳和两个末端谐振器引线的寄生电容和电感的影响。最后,讨论了激光输出功率对一些典型参数的影响。 相似文献
439.
直接数字式频率合成采用一种数字码控制的相位累加器。该累加器对包含有所需波形的只读存贮器(ROM)寻址。ROM 依次向数模变换器提供指令,以变换成量化的模拟信号。这种方法由于器件加工工艺(特别是 ROM 和数模变换器)的限制而被列入音频和低频射频信号的合成范围。大规模集成(LSI)器件工艺的迅速发展以及直接数字式电路与间接合成电路的结合将导致兼有两种技术优点的混合电路的设计。本文介绍基本的直接数字式合成器的设计及其与间接锁相环相比较的优缺点。还介绍将两者加以组合来实现兼有两种技术优点的可能方法。 相似文献
440.
本文介绍一种正在研制的自动 X 射线定向系统用于双旋转(即 SC 切)石英晶体片切角的精密测量。研制该系统的目的在于研制一种能够测量一般的φ/θ切角的原型机,其精度对于 SC 切在±10弧秒,对于 AT 切为±6秒,而对于其他切型为±30秒(在θ>0的体波零温度系数情况下)。测量速度至少每小时50片。假定这些晶片都被预切到正确定向的大约1/4°以内。经过选择的设计是设计一台在微计算机控制下的激光辅助的劳埃(Laue)衍射仪。采用劳埃法只要求晶片的运动有一个自由度,因而使设计较为灵活、开阔。 相似文献