比例与非比例加载下30CrMnSiA钢多轴高周疲劳失效分析

为了分析比例与非比例加载下,30CrMnSiA钢的多轴高周疲劳的失效规律。通过对30CrMnSiA钢材料开展比例与非比例(δ=90°)加载下的多轴高周疲劳试验,研究了应力幅比和相位差对疲劳寿命、断口特征及裂纹起裂角度的影响。试验结果表明,对于比例与非比例加载,随着应力幅比的增大,多轴疲劳寿命逐渐增加。对疲劳断口分析发现,裂纹萌生于试件表面,断口有明显的疲劳源区、扩展区和瞬断区,不同加载路径下的试件断口形式有明显差异。通过对起裂角度的分析发现,应力幅比大于0.25时表面裂纹有明显的第Ⅰ阶段向第Ⅱ阶段的转变,且第Ⅰ阶段沿着接近最大剪应力幅值平面方向扩展,第Ⅱ阶段沿着接近最大正应力平面方向扩展。此外,对典型试件的疲劳断口及表面扩展路径进行了分析,研究表明多轴疲劳试验试件裂纹的特征比值在0.3~0.5之间,且裂纹沿深度方向扩展至300 μm时占总寿命的85%以上。      

基于热特性分析的几何与热复合的定位误差建模及补偿

为减小机床的几何与热复合的定位误差,提出新的建模理论及补偿方法。分析丝杠受摩擦热源影响时的热膨胀,推导出丝杠瞬态温度数学表达式。对比介绍温升阶段丝杠冷却和冷却阶段丝杠再次温升时的丝杠瞬态温度计算方法。为解决丝杠温度不均匀分布的问题,细分丝杠,假定细分单元热均匀,并应用建立的丝杠瞬态温度数学表达式,对每个单元的温度进行求解。通过叠加各个单元的误差模型,可得到丝杠的综合误差模型。实验加工6个样件,用于验证模型的精度及误差补偿的有效性,结果表明补偿后样件的尺寸精度明显提高。     

机载多支路液体冷却系统仿真研究

以机载液体冷却系统为研究对象,利用Simulink软件建立了串联式和多 支路并联式液冷系统模型,并对两种系统的特性进行了对比分析。采用PID控制调节支路流量,对变工况条件下的多支路系统进行动态仿真计算。分析了电子设备工况、飞行高度以及飞行马赫数对系统的影响。结果表明：多支路并联式系统的阻力更小;针对不同工况,多支 路系统可满足不同热载荷电子设备的冷却要求;飞行高度的降低和飞行马赫数增大均会导致多支路系统温度的上升。     

关于实施我院教学质量与教学改革工程的思考

深化教学改革,提高教学质量是我院教学建设的永恒主题,结合学院实际确立每一阶段教学改革的重点是提高教学质量的有效措施。2007年学院确立了以外语教学改革为龙头实施我院教学质量和教学改革工程,这既是贯彻落实教育部进一步深化教学改革实施质量工程的文件精神,又是我院一项适时适宜的重大举措,充分体现了我院的办学特色,有利于我院教学质量的提高。     

电子束快速成形TC18合金多次堆积的组织特征研究

本文研究了多次堆积电子束快速成形TC18合金组织特征。结果表明:沉积体的顶部为针状马氏体区;下部为网篮组织,网篮组织的片状α厚度不均匀,形成层带状过渡区;β柱状晶呈外延生长趋势,在沉积体心部竖直向上生长;在沉积体边缘柱状晶主轴向心部倾斜,沉积体的硬度和片状α的厚度成反比例相关。     

姿态控制系统冗余设计方法与半实物仿真试验

从系统冗余的角度研究了提高运载火箭姿态控制系统可米住的途径，论述了捷联／捷联，平台／捷联冗余姿态控制系统的组成和工作原理，介绍了用姿态角判别故障和用姿态角速度判别故障的两种故障诊断、切换和重构的模式。对捷联／捷联冗余方案进行了半实物仿真试验。     

基于FUZZY—PID控制的变负载模拟技术的研究

负载模拟系统是在航天型号半实物仿真环节中非常重要的一环,特别是在加载量变化的时候,除了对负载模拟器跟踪的快速性、准确性有很高的要求,对于其超调性也有严格要求。基于此种要求,在使用结构不变性前馈补偿消除加载系统多余力的同时,提出了基于FUZZY—PID的加载系统控制方案,结合变加载系统的数学模型进行仿真。仿真结果表明,使用该控制方案的变加载系统能够快速、准确地跟踪载荷谱,并能有效减小系统超调,使系统获得良好的控制性能,具有较好的应用价值。     

卫星对动能拦截器的一种规避策略

为了解决卫星对逆轨来袭动能拦截器的末段防御问题,提出了一种卫星轨道机动规避策略。首先建立了拦截器攻击区的概念,分析了攻击区的特性,具体推导了攻击区的估算方法。在此基础上,根据卫星机动对拦截器攻击区的影响,提出了卫星的轨道机动规避策略。最后,对所提出的攻击区估算方法和卫星轨道机动规避策略进行了仿真验证。仿真结果表明,在拦截器推进剂充足和滚动角稳定值已知的条件下,所提出的攻击区估算方法比较准确;卫星的轨道机动规避策略有效可行。所提出的规避策略对处于攻击区内不可逃逸圆外的卫星,可以保证其以最短的机动时间成功规避拦截器的攻击,对处于不可逃逸圆内的卫星,也可以保证其具有最大的成功规避概率。     

缩短相控阵天线的测试周期

相控阵天线阵元数量大、集成度高,其测试项目较一般天线多,由此导致其测试周期比一般天线长2倍~3倍,较长的研制周期严重制约了相控阵天线批产工作。小组为了解决这一问题,运用关联图进行原因分析,通过现场调查、测试验证等收集大量的数据,最终找到主要影响因素并制定针对性对策,圆满达成课题目标,缩短了相控阵天线的测试周期。