全文获取类型
收费全文 | 173篇 |
免费 | 31篇 |
国内免费 | 15篇 |
专业分类
航空 | 102篇 |
航天技术 | 28篇 |
综合类 | 18篇 |
航天 | 71篇 |
出版年
2024年 | 2篇 |
2023年 | 10篇 |
2022年 | 6篇 |
2021年 | 9篇 |
2020年 | 8篇 |
2019年 | 11篇 |
2018年 | 8篇 |
2017年 | 5篇 |
2016年 | 9篇 |
2015年 | 9篇 |
2014年 | 11篇 |
2013年 | 4篇 |
2012年 | 10篇 |
2011年 | 7篇 |
2010年 | 5篇 |
2009年 | 9篇 |
2008年 | 6篇 |
2007年 | 1篇 |
2006年 | 2篇 |
2005年 | 6篇 |
2004年 | 4篇 |
2003年 | 9篇 |
2002年 | 6篇 |
2001年 | 5篇 |
2000年 | 4篇 |
1999年 | 1篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 4篇 |
1996年 | 8篇 |
1995年 | 1篇 |
1992年 | 3篇 |
1991年 | 3篇 |
1990年 | 2篇 |
1989年 | 8篇 |
1988年 | 7篇 |
1987年 | 6篇 |
1986年 | 2篇 |
1985年 | 1篇 |
1983年 | 1篇 |
1982年 | 1篇 |
1981年 | 1篇 |
排序方式: 共有219条查询结果,搜索用时 46 毫秒
1.
按照原航天部第二次工艺工作会议要求,我部拟于1990年上半年,在哈尔滨工业大学分别举办“机械制造主管工艺师进修班”和“热加工工艺主管工艺师进修班”,以更新工艺知识,提高工艺技术水平,促进航空航天产品研制、生产的发展。现将进修内容和有关事项报道如下,供各单位参考。 相似文献
2.
1991年11月1日至4日,由航天系统工程司生产技术处在长沙068基地召开了航天系统工艺管理工作会议,出席会议的有各院、局、基地、总公司和直属厂、所的总工艺师及技术处处长(或从事工艺管理工作的同志),共计23个单位26名代表。首先,有13个单位的代表就“七五”期间工艺管理的经验和体会进行了大会发言,其余单位也在小 相似文献
3.
4.
5.
6.
据了解,我部某些单位在进行TIG焊接、等离子焊接和等离子切割或喷涂过程中,仍在继续使用放射性较大的钨钍电极材料,不但有损操作者的健康,而且还污染了环境,应停用钨钍电极材料而以钨铈材料取而代之。据介绍,钨钍材料中的钍,具有较强的α射线,其剂量要比钨铈材料高千余倍, 相似文献
7.
本文论述了国内外钛及钛合金标准分析方法的技术特征及现状,并对航空工业部部颁“钛及钛合金标准分析方法”的技术要点、特点和先进性进行了较详细阐述。 相似文献
8.
获取舰载直升机实用风限图,仅依靠实装飞行试验或建模仿真都是非常困难的。通过起降飞行模拟试验获取理论风限图,结合少量的海上实装飞行验证试验是一种综合较优的方法。起降飞行模拟试验需要真实飞行员和高等级飞行模拟器参与,飞行模拟器中的母舰气流场数据、母舰运动可由建模仿真或试验测试得到,且必须考虑母舰气流场的非定场特性;只有当飞行员视景或视觉反馈受限时(如能见度降低时),飞行模拟器基座的六自由度运动才是必需的;用DIPES或Bedford方法量化飞行员主观操纵负担,结合记录的客观操纵数据,评判起降难度;典型的飞行模拟试验程序包含了不同风况下的进近和甲板着舰,通常每隔15°和5kn一个风况。通过起降飞行模拟试验得到的理论风限图,可以更加有效和安全地指导海上实装飞行验证试验,最终获得实用风限图。 相似文献
9.
具备大尺度、高精度特性的刚性反射面天线是解决星载微波遥感有效载荷空间分辨率、增益与信噪比等电气指标需求的优选方案,需要采用可展结构设计,以解决卫星尺寸与整流罩包络之间的矛盾。文章针对高精度单向曲率抛物反射面可展结构型面精度误差的分析及预示需求,基于刚体旋转的欧拉理论及正态分布,描述加工精度误差与展开重复精度误差,建立了可展结构型面精度误差的预测模型。并根据Monte Carlo试验结果数据的统计分析方法,开展了面向加工精度误差与展开重复精度误差的敏感度分析。结果表明:板间铰链的展开重复精度对整体型面精度误差的收益高于根部铰链,同等条件下应优先对其进行优化;在整体型面精度误差指标允许的前提下,应适当提高刚性抛物柱面的加工精度误差,从而控制整体型面精度误差的变化区间。 相似文献
10.
电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验 总被引:1,自引:0,他引:1
针对电荷耦合器件(CCD)在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究.首先,通过开展面阵CCD60 Co γ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并拟合计算出暗信号斜率.然后,对比分析了不同偏置条件下辐照后暗信号退化的试验规律;分析了不同偏置条件下辐照后暗信号的退火恢复情况;分析了不同积分时间、不同总剂量下的暗信号不均匀性的变化规律.最后,阐述了电离辐照损伤诱发面阵CCD暗信号增大的物理机制.结果表明:面阵CCD对电离辐照损伤很敏感,在进行航天器成像系统设计时,要充分考虑CCD受电离辐照损伤带来的影响. 相似文献