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在空间环境中,嵌入式SRAM 易受高能粒子的作用发生单粒子软错误,针对这一现象,文章研究了深亚微米工艺下嵌入式SRAM 的单粒子软错误加固技术,提出了版图级、电路级与系统级加固技术相结合的SRAM 加固方法以实现减小硬件开销、提高抗单粒子软错误的能力。并基于该方法设计了电路级与TMR(三模冗余)系统级加固相结合、电路级与EDAC(纠检错码)系统级加固相结合和只做电路级加固的3 种测试芯片。在兰州近物所使用Kr 粒子对所设计的测试芯片进行单粒子软错误实验,实验结果表明,系统级加固的SRAM 抗单粒子软错误能力与写入频率有关,其中当SRAM 的写入频率小于0. 1s 时,较只做电路级加固的芯片,系统级和电路级加固相结合的SRAM 可实现翻转bit 数降低2 个数量级,从而大大优化了SRAM 抗单粒子软错误的性能。并根据实验数据量化了加固措施、写频率和SRAM 单粒子翻转截面之间的关系,以指导在抗辐照ASIC(专用集成电路)设计中同时兼顾资源开销和可靠性的SRAM 加固方案的选择。 相似文献
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基于星载信息系统高集成化、轻小型化和智能化的发展需求,微系统电路通过SOC/SIP等先进集成电路设计技术将CPU、 FPGA及相关功能的裸芯片高密度集成。相比传统卫星研制方式,微系统电路的体积、重量、功耗显著减小,且产品研制周期由于模块化、通用化设计得以缩减。文章介绍一种基于RISC-V指令集处理器的星载信息系统微系统电路设计方案,采用基于RISC-V指令集的双核处理器作为微系统控制核心;通过架构优化设计集成RISC-V处理器核、 FPGA、存储芯片、接口电路等;考虑空间环境的影响,通过结构级抗辐照加固设计提升微系统电路的在轨运行可靠性。 相似文献
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航天设备中普遍采用的DC/DC电源变换器,在高频开关状态下工作时引进了严重的电磁干扰,本文结合具体设备的EMC试验中出现的“超标”现象,对应用Interpoint滤波模块与DC/DC电源变换器模块配套使用的电路进行了具体分析。并介绍了EMC加固试验的探索与实践中,设计必要的补偿电路,采取多种措施降低或抑制各种高频噪声与电磁干扰。消除“超标”现象,达到较好的电磁兼容效果。 相似文献
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TMS320LF2407系统设计及外扩CAN总线设计 总被引:1,自引:0,他引:1
文章针对定点数字信号处理器 (Digital Signal Processor, DSP)芯片TMS320LF2407的结构特点,介绍了该芯片最小系统电路的设计方法,包括时钟电路、复位电路、联合测试行动组(Joint Test Action Group, JTAG)仿真接口电路、外围存储器接口电路和电平转换电路,并结合实际应用情况,详细介绍了外扩控制器局域网(Controller Area Network, CAN)总线接口电路的设计. 相似文献
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一种新型非易失性存储器在导弹控制系统抗HEMP中的应用设想 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了一种新型非易失性存储器(FRAM)的数据存储原理、特性及其在相关行业的应用。针对电磁脉冲武器对导弹控制系统的严重威胁,重点阐述控制系统抗核电磁脉冲(HEMP)的主要途径。提出在导弹控制系统中使用FRAM的应用设想,并分析指出FRAM在导弹控制系统中使用的优点。 相似文献
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军用电子设备在实际服役过程中,常常需要面临高温、高湿、高盐雾等特殊腐蚀环境的侵蚀并表现出高度可靠性,因此必须具有防湿热、防盐雾、防霉菌的三防设计对产品进行防护。为保证电子设备在全生命周期尤其是在高湿热等恶劣环境下长期高效、稳定工作,因此从材料选用、结构设计、工艺防护及过程管控等方面阐述了低空飞行器发射机三防设计,试验验证了该设计方案的可行性,并针对试验中出现的问题进行改进和验证,确保三防设计的正确性和有效性。 相似文献
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电子设备结构设计是设备研制过程的重要环节,对保证设备性能、可靠性起着至关重要的作用.本文以地面测试设备设计为例,对小型化、高密集集成结构设计方法进行介绍,详细说明了这一设计方法在地面测试设备中的具体应用及验证.工程实践表明:小型化、高密集集成结构设计方法能够高效、可靠地完成结构设计功能要求,具有较大的推广应用价值. 相似文献