纳米计量的溯源与传递

介绍了纳米计量溯源到国际基本单位制(SI)的传递过程。回顾了国内外计量型扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的工作原理及其溯源性。论述了目前主要纳米计量参数、溯源用标准样本的研究概况。     

LIP与PTB真空计量标准的比对

1987～1989年,采用我国生产的DL-2型热阴极电离规为传递规,分别对LIP的新型标准压缩式真空计标准装置与PTB的静态膨胀标准装置进行了两轮比对。比对中,使用He、Ar、N_2三种气体。比对结果,最大偏差为1.48％,DL-2规的重复性为+0.49％(PTB)和-0.88％(LIP)。LIP从美国MKS公司购买的SRG-2规,在PTB进行了校准。运到我国后,LIP进行了认真的校准。双方的数据偏差小于013％。     

比对法真空计量标准装置的研制

比对法真空计量标准装置是一种结构简单、操作方便、检定效率高、实用性强的二等真空标准装置。主要技术要求完全符合国际标准化组织(ISO)和国内有关真空标准的规定,尤其适用于真空计量二级站和一些基层单位大量常规校准,校准范围为10~5～10~(-4)Pa,总不确定度小于10％。在10~(-4)Pa范围内,压力的稳定度好于1％,在1～10~5Pa范围内,压力的稳定度好于0.5％。该标准装置的极限压力达10~(-6)pa。     

电学计量技术发展综述

介绍了近半个世纪电学计量的发展情况,描述了以量子物理为基础的量子基准,以现代计算技术为基础的计算基准,以等效模拟技术为基础的模拟标准,以感应比例技术为基础的传递扩展装置,以数字化技术为基础的数字仪表和采样测量技术及虚拟仪表等重要发展成就,并对电学计量的未来发展趋势作了展望。     

力学计量现状及发展综述

系统地综述力学各参数计量的发展历程、目前水平及先进的计量标准装置和计量方法，并对发展趋势进行了预测。     

平板局部平面度检定的现状与发展浅析

综述了各国平板局部平面度检定方法、成就与问题，指出了该领域的检定发展方向。这对全面评价平板表面质量有指导意义。     

基于量子化、芯片化的先进计量测试技术发展动态

计量是国家质量基础的重要组成部分,产品质量的提升离不开科学、精准的计量。工业发达国家极为重视计量测试技术的发展。通过搜集、整理量子效应计量、芯片级计量等国内外大量文献资料,归纳分析了近年来国外先进计量测试技术发展动态与趋势。以量子技术和基本物理常数为基础建立量子计量基标准,将大幅提高测量准确度和稳定性,结合量子效应的微加工技术实现芯片尺度的测量等,微纳尺度计量技术也在科学研究、精密测量、智能制造等领域得到广泛应用。本文可为我国计量技术发展提供借鉴。