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1.
可靠性验证试验是用来验证产品的可靠性特征值是否符合其规定的可靠性要求的一种试验。在航天系统内关于威布尔型产品可靠性评估问题已有多篇文章进行了讨论。本文就威布尔型产品可靠性指标验证问题.进行了初步的讨论.指出威布尔型产品的形状参数m,及抽样量n对验证试验方案的影响.提请在制订抽样验证试验方案时引起注意。 相似文献
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针对威布尔型产品的可靠性评估进行了讨论.指出威布尔型产品可靠度与已工作过的时间有关,威布尔分布的参数对可靠度的影响很大,其取值要有依据,对战术技术指标的评估必须采用成熟的方法,错误评估方法产生的错误信息,其误导产生的后果是难以想象的。 相似文献
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“威布尔型产品可靠性评估方法应用中的几个问题“一文发表于2004年第一期《质量与可靠性》杂志(以下简称文献[1]),该文对曾发表于1994年第二期《质量与可靠性》杂志上的论文“Weibull寿命型产品可靠性评估样本数据处理方法”(以下简称文献[2])提出了质疑,认为文献 相似文献
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可靠性鉴定是产品设计鉴定项目之一。航天传感器可靠性要求高,因而可靠性鉴定十分必要。文中首先分析发射与飞行可靠性指标分开给出,对可靠性鉴定试验的经济性可行性。然后就计数型(成败型)传感器阐述处理方法,论述几种理论分布的关系,着重介绍二项分布、指数分布和威布尔分布的可靠性鉴定方案,并列出求取传感器分布规律的方法,以利缩短可靠性鉴定试验的时间,降低费用。 相似文献
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基于结构系统静强度和疲劳耦合可靠性分析方法,给出了元件静强度失效的当量寿命和当量损伤的概念。结合蒙特卡罗分析方法,讨论了当量损伤服从正态分布、对数正态分布、极值Ⅰ型分布和威布尔分布时当量寿命的概率分布形式。分析结果表明:当量损伤服从正态分布、对数正态分布、极值Ⅰ型分布时,当量寿命服从对数正态分布;当量损伤服从威布尔分布... 相似文献
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由威布尔分布零失效样本求任务可靠性置信下限,是可靠性评估的重要问题。一本文对威布尔分布形状参数在某区间取值时,采用Fiducial和Bayes方法,给出了求任务可靠性的Fiducial-Bayes置信下限的公式。 相似文献
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该文对威布尔分布的完全样本数据用极大似然法和配矩法估计其形状参数和特征寿命。当样本量较大时,估计得形状参数和特征寿命可近似看成已知量,进而给出威布尔分布的可靠性置信下限近似解。该文可用于指导航天器非电子设备或活动部件的试验设计。 相似文献
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关于威布尔分布的若干问题 总被引:2,自引:0,他引:2
对威布尔型产品的平均寿命、寿命值的方差、失效率、可靠度、信息折合等问题进行了讨论,并与指数分布进行对比。讨论了威布尔平均寿命的期望值、方差在形状参数m在(0,∞)内的变化趋势,指出失效率不仅与形状参数m有关,还与已工作的时间有关;研究了可多次工作产品的任务可靠度及信息折合问题,指出应与已累计工作的时间有关。 相似文献
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在电子或机电一体化产品的无模型可靠性增长试验中,工程上通常采用指数分布定时截尾试验方案来确定试验时间。但对高可靠机电产品,在试验经费和进度受限制的情况下,这种方法是不适合的。本文介绍了采用威布尔分布定时截尾试验方案确定试验时间的可靠性增长试验方案和可靠性评估方法,并给出了工程实例。 相似文献
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基于性能退化数据的可靠性评估 总被引:34,自引:0,他引:34
传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据,对于高可靠长寿命产品,很难通过寿命试验和加速寿命试验获得失效寿命时间,这种情况下产品的性能退化数据可提供可靠性评估的重要信息。在基于失效数据可靠性评估及性能可靠性评估方法的基础上,提出了基于退化轨迹与基于性能退化量分布两种可靠性评估方法,以对具有退化失效机理的高可靠长寿命产品进行可靠性评估。基于退化轨迹的可靠性评估方法首先选取合适的退化轨迹模型,利用退化数据对退化轨迹进行模型拟合得到模型参数,然后根据退化轨迹外推得到伪失效寿命,最后根据完全寿命试验数据的统计分析方法进行统计分析得到产品可靠性信息。基于性能退化量分布的可靠性评估方法首先计算不同测量时刻产品性能退化量的统计特征,对其进行曲线拟合得到统计特征随时间变化的函数,即性能退化量分布参数,最后利用可靠性与性能退化量分布的关系评估产品的可靠性。本文最后给出了两种可靠性评估方法的应用案例,验证了方法的正确性与有效性。 相似文献
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双CPU环境下飞行控制软件的设计 总被引:2,自引:1,他引:1
本文介绍运载火箭飞行控制软件在双CPU冗余硬件配置下的可靠性设计和可靠性指标分配的方法。文中提到的部分技术经过了实验的检验,证明是可行的 相似文献
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运载火箭测发控网络设计 总被引:3,自引:0,他引:3
运载火箭测试发射控制系统对数据处理能力、数据通信能力的要求越来越高。本文采用最新的网络通信技术,结合CZ-3A运载火箭测发控网络的实际设计需求和设计原则,概要介绍了运载火箭测发控网络的特点,着重从测发控网络的拓扑结构、双网卡捆绑技术、静态路由技术等五方面详细阐述了测发控网络的设计,最后通过测发控网络的功能测试验证了该设计的可靠性和先进性。 相似文献
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要提高电子仪器可靠性,对电磁干扰和抗干扰技术需要进一步研究。有关电子仪器电磁屏蔽的机理和设计方法在本文中作了介绍。 相似文献
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针对滑环失效数据较少的特点,构建导电滑环磨损失效模型,结合小子样数据处理法和随机性理论对滑环摩擦副进行可靠性评估研究。首先,考虑滑环摩擦副在热力电多场耦合环境下的特点,应用传热学、赫兹理论、能量守恒定律量化多场耦合对滑环摩擦副的影响,再结合Archard模型理论构建导电滑环摩擦副磨损失效模型。然后,采用小子样数据的虚拟增广法和Boot-strap法对仿真数据进行扩展,根据滑环磨损特征量分布规律分别得到随机失效阈值与固定阈值下的可靠度函数曲线,以某厂制造的导电滑环为例,进行滑环摩擦副可靠性评估,实验结果表明随机失效阈值下的可靠度与实际更接近。研究表明所构建的磨损模型和方法可以有效地对导电滑环进行可靠性评估,避免了传统的必须依赖大量试验数据的方法,解决了缺少滑环试验数据而难以进行可靠性评估的问题,填补了导电滑环可靠性研究的空白。 相似文献