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相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 109 毫秒
1.
本文首先简要介绍了L-SAR天线的结构以及系统的组成,其次介绍了采用平面近场扫描的方法,对其T/R组件失效“诊断“实验的情况.在分别T/R组件全部正常工作情况下,和已知有几个T/R组件失效情况下,对天线进行了模拟测试.利用近场到天线口面场反演技术,得到了天线的口面场分布,实现了对T/R组件失效情况的“诊断“.其结果与已知情况相符.  相似文献   

2.
本文首先简要介绍了L-SA及天线的结构以及系统的组成,其次介绍了采用平面近场扫描的方法,对其T/R组件失效“诊断”实验的情况。在分别T/R组件全部正常工作情况下,和已知有几个T/R组件失效情况下,对天线进行了模拟测试。利用近场到天线口面场反演技术,得到了天线的口面场分布,实现了对T/R组件失效情况的“诊断”。其结果与已知情况相符。  相似文献   

3.
蜂窝夹层板后埋件的连接设计   总被引:4,自引:0,他引:4  
简述了蜂窝夹层板结构中镶嵌件连接技术的种类,后埋埋置件的基本结构、材料和工艺,讨论了后埋埋置件连接接头的承载能力与蜂窝夹层板组件间的相互关系。并给出了后埋埋置件承载能力的分析确定。  相似文献   

4.
本文首先简要介绍了L-SAR天线的结构及系统组成,其次介绍了采用平面近场扫描的方法,对其T/R组件失效“诊断”实验的情况。在分别T/R组件全部正常工作情况下,和已知有几个T/R组件失效情况下,对天线进行了模拟测试。利用近场到天线口面场反演技术,得到了天线的口面场分布,实现了对T/R组件失效情况的“诊断”。其结果与已知情况相符。  相似文献   

5.
随着卫星应用技术的发展,相控阵天线在卫星上的应用越来越广泛,T/R组件作为有源相控阵天线最核心的部分,直接决定了相控阵天线的性能,而卫星载荷宇航级的应用,又对T/R组件提出了需要同时具备高功率、高集成和高可靠性等更加严苛的要求.提出了一种星载大功率T/R组件的高密度组装技术,从结构特点、热仿真、可制造性等方面详细介绍了...  相似文献   

6.
利用低温共烧陶瓷(Low Temperature Co-fired Ceramic,简称LTCC)技术,设计制作了一种可应用于星载Ku频段接收机的下变频通道。该通道将放大器、混频器、滤波器等芯片或器件利用LTCC基板集成技术集成在多层LTCC基板内,实现了接收机的下变频通道中各个模块电路间的紧凑连接与集成。测试结果表明,下变频通道电性能满足指标要求。其尺寸为65mm×43mm×8.5mm,重量仅为76g。  相似文献   

7.
星载T/R组件自动组装关键工艺研究   总被引:2,自引:2,他引:0  
随着相控阵天线在航天领域的应用,对星载T/R组件轻量化、幅相一致性和可靠性的要求越来越高,而传统手工组装效率相对较低,且难以满足一致性的要求,为此,基于数字化制造开发了微组装生产线自动组装技术,通过研究自动化组装设计工艺性要求,突破自动贴装和自动键合的关键技术,实现了星载T/R组件的精密自动组装.经过生产验证,自动组装...  相似文献   

8.
本文论述了有源相控阵雷达T/R组件自动测试系统的组成和原理,包括脉冲S参数自动测试分系统原理和非S参数自动测试分系统集成技术。介绍了PNA脉冲网络分析仪自动控制的实现和系统测试软件的设计,给出了该T/R组件自动测试系统实现的主要技术指标。  相似文献   

9.
星载微波探测仪采用主被动一体化探测方法,以提高探测精度和空间分辨率,是土壤水探测卫星的主载荷,探测仪的探测头部主要由主动单机和被动单机等组成,其中主动单机中的发送/接收(T/R)组件数量多、功耗大、阵面布局长达7 m,被动单机中的接收机对温度波动敏感,同时探测头部构型复杂且各散热面外热流环境恶劣。针对探测头部热控难点及要求,开展了包括轨道外热流分析、散热面和传热路径的设计、热管网络布局,关键单机的精细化控温等工作,并结合热平衡试验结果对热设计方案进行了有效验证。仿真及试验结果表明:探测头部的温度水平、关键单机的温度梯度及每轨温度波动均满足要求,其中T/R组件温度梯度控制在≤12℃,被动接收机温度波动控制在±1℃/轨。该设计解决了大功耗T/R组件短时开机导致单机之间温差大、瞬时温升速率快,接收机温度波动大等技术难点,突破了高功率密度T/R组件全阵面热设计关键技术和被动接收机的高稳定度控温关键技术,实现了探测头部在轨全周期高精度、高稳定度热控,可为星载微波探测仪类载荷的热设计提供借鉴。  相似文献   

10.
星载SAR性能与T/R组件不一致性的关系   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文分析了T/R组件幅相不一致性对星载SAR雷达系统性能的影响,T/R组件不一致性对星载SAR雷达天线副瓣电平有一定的影响。由于天钱的融瓣电平是不同频率信号贡献的平均值,所以天线的副瓣电平的大小依赖平均T/R组件不一致性。  相似文献   

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