毫米波衰减校准装置方案简介

随着毫米波段日益广泛应用,毫米波衰减器校准装置的要求与日俱增。用功率比法测量衰减的简单系统如图1所示。该系统除了波导元件以外,仅需一台毫米波信号发生器、功率计和数字电压表。系统中隔离器、调配器是为被测件插入点两端近乎呈理想匹配状态而应用。在测量较小衰减量时,此法可获得很高的准确度;测量大于20dB 衰减量时,误差增大,主要是功率计量程转换、功率头偏离直线性以及漂移等原因所致,因而对标准实验室来说,不能满足要求。     

经国家商检局认证 航天部无线电计量测试研究所为国家进出口电子测量仪器商品检验实验室

为了贯彻国家“改革、开放、搞活”的方针,发展对外贸易,开拓国际市场,保证进出口电子测量仪器的质量,一九八七年九月经国家商检认证、评审,正式批准航天部无线电计量测试研究所为国家进出口电子测量仪器商品检验实验室,并于一九八七年十二月五日发给了认可证书。经批准开展的商检项目有:微波功率计、衰减器、衰减检定装置、噪声源、噪声测量装置、低噪声放大器、相位计、相位发生器、移相器、测量线、阻抗图示仪、波导同轴标准件及元件、反射计、微波信号源、雷达测试仪、示波器、示波器校准仪、脉冲信号发     

经国家商检局认证——航空航天部无线电计量测试研究所为国家进出口电子测量仪器商品检验实验室

为了贯彻国家“改革、开放、搞活”的方针,发展对外贸易,开拓国际市场,保证进出口电子测鼠仪器的质量,一九八七年九月经国家商检局认证、评审,正式批准航天部无线电计量测试研究所为国家进出口电子测量仪器商品检验实验室,并于一九八七年十二月五日发给了认可证书。经批准开展的商检项目有:微波功率计、衰减器、衰减检定装置、噪声源、噪声测量装置、低噪声放大器、相位计、相位发生器、移相器、测量线、阻抗图示仪、波导同轴标准件及元件、反射计、微波信号源、雷达测试仪、示波器、示波器标准仪、脉冲信号发     

微波衰减测量过程失控的原因分析及解决方案

针对高频串联替代法微波衰减测量标准装置测量过程所出现的失控现象 ,从测量标准仪器、被测仪器、测量方法、人为因素等方面分析了失控的原因 ,制定并实施了相应的解决方案 ,使测量过程恢复到统计受控状态     

微波中功率测量技术发展综述

介绍了耦合衰减法和量热法两种主要的微波中功率测量方法的原理及国内外发展现状,总结了它们各自的特点。指出量热法在微波中功率高准确度测量方面更具优势,可作为建立微波中功率计量标准的优先研究方向之一。     

用外接频率变换系统扩展微波相位计的测试频段

现在已有各种相位计产品可供选用。但受测试频段限制而无法作其它频段的相位测试。相位测量中的频率变换系统从原理上可以保证在频率变换过程中保持相位信息不变。因此,利用外接频率变换系统,使待测信号频率变换到能用相位计测量的频段,实现相位计测相频段的扩展。本文分析国产BX-4微波相位计的中频相位数字测量系统的测相性能,提出微波与高频频率两种频率变换系统。当采用商用的微波部件,利用BX-4之中频测相系统,可以测量2GHz至18GHz的微波信号相位。用自制宽频带双平衡混频器,可以测量4MHz至300MHz的高频信号相位。     

八毫米波段体效应管振荡源噪声特性测试方法的研究

本文介绍了测量微波振荡源近载频的频谱特性的各种方法。从频域方面着重叙述了微波振荡源的调频噪声、调幅噪声、谱线宽度的测量原理,测量方法,测量结果和各种注意事项。在时域方面介绍了微波振荡源的频率短期稳定度、长期稳定度、开机特性和温度特性等测量的原理和测量结果。得出的频域和时域的结果基本吻合。同时指出测调频噪声是评价微波振荡源的频谱特性最有效的手段。首次开展了八毫米波段国产体效应管振荡源的频谱特性和噪声参数的测试工作。     

用等电平测量辐射计接收机的线性度

微波辐射计接收机的线性度是表征输入噪声温度与输出电压间的关系，采用双位开关衰减器法实现等功率电平测量微波辐射计接收机的线性度。该方法是在已知输出温度的低温噪声源之后，接有一个双位开关衰减器，这个双位开关衰减器只有二个档位，要么是直通，要么是通过一个固定的小衰减量。多次交替开关，可使达到接收机的输入量每次的增加是个相同量，这样就能完成接收机线性度的准确测量。简述测量原理、方法和测量不确定度分析。     

用阶梯相位调制测量微波衰减和相移

本文叙述了一种利用阶梯相位调制精确测量微波衰减和相移的方法。分析了最佳阶梯数,并在研究分析结果的基础上,提出了两种测量系统。一种系统适用于衰减、相移的同时测量和自动精确测量,另一种系统适用于大动态范围的衰减测量。     

发动机尾焰微波衰减测试方法研究

基于发动机试验环境,研究了发动机尾焰微波衰减的测试方法,搭建了一套微波衰减测试系统,能够实现多频点测量,并对发动机尾焰微波衰减测试系统的研究路线、测试原理、硬件组成、现场布局、测试系统定标技术、测量设备不确定度、试验结果进行了介绍;试验结果表明,该测试系统具有较好的测试效果,测试精度能够满足要求.经过现场试验获得大量实...     

一种新型精密微波测试通用支架

一、概述精密微波测试通用支架是一种通用性大、又可以夹持非对称同轴元、器件以及几种波段波导元、器件的一种新型支架。随着微波技术的迅速发展,采用了各种新技术,相应对微波阻抗、功率、衰减、相位、低噪声等各种参数测量的精确度要求越来越高。为了满足高精确度测量要求,除了     

基于串联低中频替代法的衰减测量系统

介绍了一种以半自动感应分压器作为中频标准衰减器,可实现准确、快速衰减测量的基于串联低中频替代法的微波衰减测量系统,并对半自动感应分压器、测量系统、测量结果和系统改进方法等部分进行了详细的分析。该系统在10MHz至18GHz频率范围内可测量衰减的范围为(0~80)dB。     

精密同轴转接头的设计

前言在高频尤其是在微波测量时,往往需要各种不同类型的同轴接头进行连接或转换。同轴传输线不仅仅要有连接头,同时各国的仪器型号不同,其输入、输出接头的形式差异很大,常常需要进行接头间的转换。常见的有N型——平接头(又称无极性接头)、N型——SMA接头、N型——西德接头以及N型——TNC接头等等。同轴接头性能的优劣对微波同轴元件有直接影响。为了保证连接可靠,提高测试精度,设计好同轴接头是十分必要的。对于同轴接头的要求主要是引入的附加反射越小越好,即特性阻抗应尽量     

微波噪声校准系统介绍

新的．极低噪声放大器的研制开发和广泛使用，微波系统的结构日趋复杂，微波工程测量能力下断提高，但热噪声仍然是今天微波系统性能的主要限制。例如，远距离卫星通信工程对卫星转发器的接收机和地球站接机的噪声特性提出很高的要求。因此，准确地测量系统的噪声以及时噪声发生器进行准确校准的需求非常迫切。本文叙述自己研制的噪声源校准系统的基本原理，分析超噪比校准不确定度，提供具体的校准实例，提出进一步提高校准准确度的途径。     

单通道和双通道微波衰减测量系统中的射频泄漏分析

研究了单通道和双通道微波衰减测量系统中的射频泄漏所导致的测量误差。使用电磁屏蔽箱和以铝片包裹连接头的方法降低外部辐射泄漏,在双通道衰减测量系统中使用隔离器以减小内部泄漏。利用高灵敏度锁相放大器测量了射频泄漏信号,通过在60 MHz和5 GHz所得的实测数据比较了单通道和双通道衰减测量系统的射频泄漏误差。实验结果表明射频泄漏得到了有效的抑制。     

对六端口电路的初步分析

微波测量领域的几个基本参数,如功率、衰减、阻抗,相角的测量,数十年来经历了采用不同的原理和方法分头建立标准和测量系统的发展过程。随着微波电路理论的发展,以及自动控制技术和计算机技术的广泛应用,人们更有兴趣于微波电路的散射参数S的测量。S参数能很好地描述电路和元、器件的性能。把几个基本参数结合在一起,用统一的方法进行测量,这就是所谓多功能的问题,这导致近代自动网络分析仪的产生。第一代自动网络分析仪是以四端口电路为基础,采用幅和相测量,配以小算机实现了S参数的自动测量系统。七十年代出现了另一种自动网络分析仪,它是以六端口电路为基础,采用功率测量值,配以小算机实现S参数自动测量的系统。     

首次从理论上阐明石英谐振器在室温、低温下1/f噪声和Q值的关系

石英晶体振荡器的极限稳定度是由时域噪声本底相对应的石英谐振器频率噪声决定的。只有减小电子噪声的起伏,才能测量谐振器本身的谐振频率起伏。使用π型传输网络和相位平衡电桥,能够将激励源的相位起伏抑制50-60dB。此测量系统曾在室温下测量了大量的成对谐振器,发现1/f 频率噪声电平和 Q 值之间的相互关系遵循1/Q~4规律。为了将谐振器频率起伏的测量扩展到极低温,研究了一种能测不同谐振器对的新测量系统。因此,在4K 和1K 温度下测得了1/f 频率噪声,并观察到随着 Q 值的增加而噪声大大减小。现在有一种理论能解释1/Q~4规律。这就是根据声波衰减和速度变化引起的三声子相互作用过程来解释。声波衰减和速度变化这两种现象均可用热声子的张弛时间来加以说明。     

谐振腔法复介电常数测量系统的谐振频率标定

微波介质材料的复介电常数,或称相对介电常数和介质损耗角正切参数是表征其介电特性的最重要的物理参数。目前对于微波介质材料普遍采用谐振法进行测试,但仍然存在测试频率不够高、测量结果一致性不理想等诸多问题。本文以本单位自行研制的基于分离圆柱体谐振腔法的材料复介电常数测量夹具所建立的微波复介电常数测量系统为研究对象,通过实验的方法,对该测量系统的TE_(011)的谐振频率这一关键指标的最优测试条件、标定方法和结果、稳定性等进行了系统地研究,实验结果表明,该谐振腔法测量系统非常适合作为计量标准装置,用于微波介质材料标准样片的复介电常数的计量和校准。     

基于高频光电导法半导体少数载流子寿命测量系统的设计与实现

基于高频光电导衰减法半导体少数载流子寿命测量基本原理，设计了半导体少子寿命测量系统，并在二极管检波电路的基础上，对信号处理系统进行了改进。该信号处理系统采用反馈式检波电路，相比于传统二极管检波电路，运用运算放大器的反馈原理减小了检波二极管压降产生的误差，同时结合二极管嵌位作用，减小了运算放大器压摆率带来的影响，提高了测量系统的检波能力。通过实验，验证了该检波电路的可行性，测试结果表明，有效提升了测量系统的准确性。     

用衰减器扩展小功率计量程的又一种方法

一、前言用衰减器扩展小功率计量程来测量中、大功率,比较常用的一种方法是衰减器法。首先由衰减检定装置定出衰减量,再在功率传递时用具体的计算公式求出被校中、大功率计吸收的净功率或有效效率。此方法在衰减器插入传递系统时引起的失配误差较大,而且此失配误差与衰减器本身的参量有关。