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为了实现对PC104总线式数据模块DM6420的各项功能和精度进行全面准确的测试,以PC104计算机为核心,设计了PC104总线式数据模块测试系统。实验结果表明,该测试系统具有测试速度快、可靠性强、自动化水平高等特点。 相似文献
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介绍了一种用于运载火箭测试的CPCI数据采集系统设计方案,该测试系统针对某运载火箭测试需求,从顶层设计出发,以龙芯2F处理器为基础平台,对测试系统组成构架、硬件平台设计和软件系统设计等各个层面进行了优化设计,该系统实现了高流量、高速度的多种信号连续采集处理和发送,测试系统具有体积小、集成度高、可扩展和便于维修的特点. 相似文献
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使用T3Ster对宇航电子元器件内部热特性的测量 总被引:1,自引:0,他引:1
文章介绍了使用MicReD公司的热测试仪33Ster测量元器件内部热特性的方法。T3Ster测试仪可以测试各类IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性以及PCB、导热材料等的热阻、热客及导热系数、接触热阻等热特性。使用33Ster测试仪对某航天器用电子元器件内部热特性进行了测量,并与器件资料中的热特性数据进行比对,二者相对误差为0.07%,验证了q3Ster测试仪具有测试高可靠度要求的宇航级电子元器件热特性的能力。为宇航电子元器件的热设计与热分析提供重要的试验依据。 相似文献
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介绍了某引信测试仪的微波相位测试原理,结合测试仪具体特点,找出了影响微波相位测试的主要误差源,利用微波相位测量技术,逐一对误差源进行了误差分析,最后有针地提出改进措施。 相似文献
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时间继电器综合参数测试仪是测试时间继电器的专用仪器,可替代示波器、毫欧表等普通仪器对时间继电器进行参数测试.介绍了一种时间继电器综合参数测试仪,着重介绍了其技术指标、工作原理及使用说明等. 相似文献
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基于FPGA的E1接口的误码测试仪 总被引:4,自引:0,他引:4
论文针对传统的误码测试仪的不足,提出基于FPGA的EI接口的误码测试仪的设计,以及基于FPGA的E1接口的误码测试仪的特点,它是一种新型的误码测试仪,和其它系统的接口可灵活适配,且价格相对便宜。 相似文献
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围绕某型号姿控动力系统减压阀性能测试需求,提出一种基于PC104总线测试架构的设计方案。详细阐述了减压阀性能测试原理、硬件设计方案和软件开发思路,着重介绍了软件开发需求、总体架构、用户程序开发思路和软件设计关键技术等。实际应用表明,该系统操作简单、携带方便,测试精度优于0.2%,控制定时精度优于1 ms,满足减压阀性能测试要求。 相似文献
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文章提出了一种基于热刀切割UHMWPE绳的轻小型锁紧释放机构,质量仅为150g,高度只有27mm,用于拍摄“天问一号”着陆器与巡视器合影。设计卡爪装置对WIFI相机进行卡紧固定,采用UHMWPE绳对卡爪装置进行捆绑紧固,设计绳索预紧和收紧装置实现绳索拉紧,通过热刀组件熔断UHMWPE绳实现WIFI相机释放。为验证机构可靠性和对复杂空间环境适应性,开展了UHMWPE绳蠕变测试、抗辐照试验、机构解锁测试、力学试验等专项测试,结果表明该锁紧释放机构能够稳定锁紧和释放分离相机,具有体积小、质量轻、耐辐照、高可靠等特点。 相似文献
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介绍了惯性器件温度误差补偿方法的研究现状,并设计了基于PC/104实现的陀螺仪精密温控系统。详细论述了温控系统总体方案、组成、基本工作过程及控制算法。 相似文献
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JZY-I型捷变频雷达综合测试仪能为捷变频雷达提供目标信号源并进行雷达本振跟踪精度、雷达灵敏度和最大作用距离等参数的动态测试。本文介绍了该测试仪的组成、功能和工作原理,还介绍了它的主要技术指标和技术特点。 相似文献
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本文介绍采用单片微型计算机的智能测试仪的设计原理。利用单片机实现对多路的频率、电压和电流进行自动测试。同时可实现电压到频率、电流到频率、频率到数字的变换;可自动产生各种直流、交流信号;具有数字显示和打印两种输出功能。该系统利用八位单片机实现了十六位机达到的测量精度。 相似文献
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超小型锁相遥测发射机模块化研制 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍我所研制的用于弹、星载遥测系统的两点注入微波销相调频发射机的基本组成、原理分析和模块化设计,并给出了测量结果。从测量数据中可以看出,该遥测发射机具有体积小、重量轻、性能好和抗震动等特点,可满足遥测系统小型化、模块化、系列化和标准化设计要求。 相似文献
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FPGA 在线仿真器—— 一种开发 FPGA 的新途径 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍FPGA在线仿真器的功能、特性及设计原理。使用这种简单的FP-GA硬件测试平台,可以方便、快捷地使FPGA设计达到最佳设计性能,提高设计工作效率,减少设计风险,降低设计成本。该仿真器电路简单,体积小,成本低,是较为实用的FPGA硬件测试平台。 相似文献
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OC—Ⅱ型氢脆快速测试仪是新研制的动态弯曲氢脆测试仪,测试时间仅几分钟到几十分钟,其特点快速、简便、经济。测试仪研制过程中,运用了声发射监控和断口分析的方法,深入地研究了试样裂纹的发生、扩展规律和断口的形成过程。研究证明:测试仪的推进速度对氢脆程度影响显著,当推进速度选用3mm/min时与静态弯曲一样,试样充分反映了氢致延迟断裂的特点。 相似文献