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相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
提出了一种新的六端口自校准方法.本方法从六端口相对功率理论出发,导出了六端口系统常数的自校准方程,给出了求解系统常数初值的方法,并利用梯度法对方程组求解,仿真结果表明用一个匹配负载、四个失配负载就可以解出系统常数.  相似文献   

2.
用自由空间法测量材料复介电常数的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
分析电磁波在自由空间通过平板电介质材料的传播特性,得到了散射参数与复介电常数之间的关系式和求解复介电常数的三种表达式,并对三种表达式分别进行误差分析.解决自由空间法测量电介质材料复介电常数的不稳定性问题和相位模糊性问题.建立测试系统,并在X波段对平板电介质材料进行测量.实验结果表明,本测试方法和测试系统是正确的.  相似文献   

3.
介质材料复介电常数变温测量技术综述   总被引:3,自引:2,他引:3       下载免费PDF全文
介绍了在微波及毫米波段介质材料复介电常数在-253—1400℃的变温测试方法,即网络参数法和谐振腔法,并对这些方法进行了优缺点分析,总结出变温测试方法的概况、趋势及技术特点。  相似文献   

4.
讨论了TM0n0模圆柱腔法测量介质复介电常数的原理,提出了一种TM0n0模圆柱腔设计的改进方法,研制了测试夹具,通过与未改进腔体比较和对石英样品复介电常数的测量。结果证明,该腔体大量抑制了圆柱腔的干扰模式数量,减小了测试误差,提高了测试准确度。  相似文献   

5.
利用重入式谐振腔针对微波低频段复介电常数测试问题进行了研究,建立了测试系统并对样品进行了测试,验证了该测试方法的可行性.相对于其他同频段的测试方法,其具有体积小、测试精度高、样品放置方便等优点.  相似文献   

6.
采用TE015模高Q圆柱腔对X波段低损耗介质材料的复介电常数进行了变温测试,电场的极化方向平行于样品表面.可测温度范围为常温到200℃.在所有温度点上,空腔的无载品质因数均大于40000.复介电常数的测试范围为εr1.05~10,tanδ3×10-2~5×10-5,测试系统的最可几误差为|Δεr / εr|=1.5% ,|Δtanδ|=10% tanδ+3.0×10-5.  相似文献   

7.
介绍了用圆柱谐振腔测量低损耗介质材料复介电常数的自动测量系统。该系统可根据加载介质前后圆柱谐振腔的谐振频率和品质因数,计算出被测材料的相对介电常数ε′τ和损耗角正切tanδ。系统设计时,采用对固定尺寸的圆柱谐振腔进行扫频测量的方法,提高了测量精度;采用反相馈电和在腔壁开槽的方法来抑制干扰模式。用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果令人满意。  相似文献   

8.
介绍了一种通过测量相对湿度和空气温度来计算湿度值的方法,并推导了计算公式。  相似文献   

9.
针对现有衰减校准系统量程小、难以满足步进衰减器等大衰减量计量需求的问题,通过对T矩阵法的分析研究,提出了利用T矩阵法实现非程控步进衰减器测量的方案,详细介绍了T矩阵法的原理和实现过程,经过实测验证,所述方法可为大衰减量的计量测试提供一套切实可行的解决方案。  相似文献   

10.
针对复杂曲面零件的面形测量难题,提出以超精密机床作为栽体,利用高精度触发式测头,采用接触式的轮廓测量方法,检测曲面零件的子午面曲线,再与理论曲线相比较得出被测零件的面形精度.测量试验分析表明:该测量方法的检测精度高,通用性强,在实际加工和检测应用中具有很高的实用价值和应用前景.  相似文献   

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